Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPIA SOND SKANUJĄCYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000133639
Tytuł oryginału: Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method
Autorzy: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, M. Guziewicz.
Źródło: -Ultramicroscopy 2020 vol. 210s, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz.
Impact Factor: 2.452
Punktacja MNiSW: 140.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sond skanujących ; cienka warstwa ZnO ; przewodnictwo cieplne ; przewodnictwo elektryczne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; ZnO thin film ; thermal conductivity ; electrical conductivity
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000131144
Tytuł oryginału: Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
Autorzy: Jerzy Bodzenta.
Źródło: W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz.
ISBN: 978-0-08-102572-7
Seria: (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 2
Bazy indeksujące publikację: Scopus; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali
Słowa kluczowe angielskie: nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie