Wynik wyszukiwania
Zapytanie: MIKROSKOPIA SIŁ ATOMOWYCH
Liczba odnalezionych rekordów: 34



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/34
Nr opisu: 0000136304
Tytuł oryginału: Analysis of AFM images of nanofibre mats for automated processing
Autorzy: Tomasz Błachowicz, T. Bohm, Jacek Grzybowski, K. Domino, A. Ehrmann.
¬ródło: -Tekstilec 2020 vol. 63 no. 2, s. 104-112, bibliogr. 46 poz.
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 2350-3696
DOI:
Słowa kluczowe polskie: elektroprzędzenie ; poliakrylonitryl ; mata z nanowłókien ; mikroskopia sił atomowych ; wykładnik Hursta ; bł±dzenie przypadkowe
Słowa kluczowe angielskie: electrospinning ; polyacrylonitrile ; nanofiber mat ; atomic force microscopy ; Hurst exponent ; random walk
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/34
Nr opisu: 0000130586
Tytuł oryginału: Assessment of tribological properties of low friction thin layers produced by vacuum methods.
Autorzy: Agnieszka* Paradecka, Krzysztof Lukaszkowicz, J. Sondor.
¬ródło: W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 125-140
ISBN: 978-3-0357-1486-9978-3-0357-3486-7
Seria: (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)
Punktacja MNiSW: 5.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 1
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; AFM ; współczynnik tarcia ; cienkie warstwy o niskim tarciu ; SEM
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; AFM ; friction coefficient ; low friction thin layers ; SEM
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/34
Nr opisu: 0000130587
Tytuł oryginału: Comparison of the structure of AlCrSiN coating produced by planar and rotating arc technology.
Autorzy: Justyna* Galeja, Krzysztof Lukaszkowicz.
¬ródło: W: Functional thin films and special coatings. Eds.: Tomasz Tański, Przemysław Snopiński. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2019, s. 141-153
ISBN: 978-3-0357-1486-9978-3-0357-3486-7
Seria: (Solid State Phenomena ; vol. 293 1662-9779)
Punktacja MNiSW: 5.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,6
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: AlCrSiN ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; powłoka ; technologia planarna ARC ; PVD ; technologia rotacyjna LARC ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; SEM ; transmisyjna mikroskopia elektronowa ; TEM ; trybologia
Słowa kluczowe angielskie: AlCrSiN ; atomic force microscopy ; AFM ; coating ; planar ARC technology ; PVD ; Rotating LARC Technology ; scanning electron microscopy ; SEM ; transmission electron microscopy ; TEM ; tribology
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/34
Nr opisu: 0000135340
Tytuł oryginału: Evaluation of the microstructure and tribological properties of TIC low-friction thin film.
Autorzy: Agnieszka* Paradecka.
¬ródło: W: Topical issues of rational use of natural resources. Proceedings of the International Forum-Contest of Young Researchers, April 18-20, 2018, St. Petersburg, Russia. Ed. Vladimir Litvinenko. Boca Raton : Taylor & Francis Group, 2019, s. 217-222
ISBN: 978-0-367-02743-8978-0-429-39806-3
Punktacja MNiSW: 50.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; Web of Science
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; odporno¶ć korozyjna ; tarcie ; mikrostruktura ; zasoby naturalne ; skaningowa mikroskopia elektronowa ; węglik tytanu ; trybologia ; zużycie materiałów ; odporno¶ć na zużycie
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; corrosion resistance ; friction ; microstructure ; natural resources ; scanning electron microscopy ; titanium carbide ; tribology ; wear of materials ; wear resistance
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/34
Nr opisu: 0000122026
Tytuł oryginału: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy: Bogusław Ziębowicz, Marcin Staszuk, Paweł Jarka.
¬ródło: -LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 1, s. 18-22, bibliogr. 7 poz.
Punktacja MNiSW: 1.000
p-ISSN: 1427-5619
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; AFM ; badanie powierzchni ; cienka warstwa organiczna
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; AFM ; surface exploration ; thin organic film
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


6/34
Nr opisu: 0000124713
Tytuł oryginału: Multi-scale characterization and biological evaluation of composite surface layers produced under glow discharge conditions on NiTi shape memory alloy for potential cardiological application
Autorzy: A. Chlanda, J. Witkowska, J. Morgiel, Katarzyna Nowińska, E. Choińska, W. Swieszkowski, T. Wierzchoń.
¬ródło: -Micron 2018 vol. 114, s. 14-22, bibliogr. 47 poz.
Impact Factor: 1.530
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0968-4328
e-ISSN: 1878-4291
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia sił ; utlenianie jarzeniowe ; proces RFCVD ; stop z pamięci± kształtu
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; force spectroscopy ; glow discharge oxidizing ; RFCVD process ; shape memory alloy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


7/34
Nr opisu: 0000124893
Tytuł oryginału: The method of determining the characteristic features of graphene oxides by atomic force microscopy.
Autorzy: Sabina Drewniak, R. Muzyka.
¬ródło: W: 13th Conference on Integrated Optics: Sensors, Sensing Structures, and Methods. Eds.: Przemyslaw Struk, Tadeusz Pustelny. Bellingham : SPIE, 2018, paper 1083011 s. 1-7
ISBN: 978-1-5106-2272-2
Seria: (Proceedings of SPIE ; vol. 10830 0277-786X)
Punktacja MNiSW: 15.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; zredukowany tlenek grafenu ; grafit ; metoda utleniania
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; reduced graphene oxide ; graphite ; method of oxidation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


8/34
Nr opisu: 0000120189
Tytuł oryginału: Thermal characterization of metal phthalocyanine layers using photothermal radiometry and scanning thermal microscopy methods
Autorzy: Dominika Trefon-Radziejewska, Justyna Juszczyk, A. Fleming, N. Horny, J. S. Antoniow, M. Chirtoc, Anna KaĽmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta.
¬ródło: -Synth. Met. 2017 vol. 232, s. 72-78, bibliogr. 43 poz.
Impact Factor: 2.526
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0379-6779
e-ISSN: 1879-3290
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; metaloftalocyjanina ; przewodno¶ć cieplna ; skaningowa mikroskopia termiczna ; mikroskopia sił atomowych ; radiometria fototermiczna
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; metal phthalocyanine ; thermal conductivity ; scanning thermal microscopy ; atomic force microscopy ; photothermal radiometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/34
Nr opisu: 0000106201
Tytuł oryginału: Mechanical properties of atomic layer deposition (ALD) TiO2 layers on stainless steel substrates
Autorzy: Marcin Basiaga, Marcin Staszuk, Witold Walke, Zbigniew Opilski.
¬ródło: -Materialwissensch. Werkstofftech. 2016 vol. 47 iss. 5/6, s. 512-520, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 0.524
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0933-5137
e-ISSN: 1521-4052
DOI:
Słowa kluczowe polskie: 316 LVM ; TiO2 ; osadzanie warstw atomowych ; próba zarysowania ; nanotwardo¶ć ; elipsometria ; mikroskopia sił atomowych ; AFM
Słowa kluczowe angielskie: 316 LVM ; TiO2 ; atomic layer deposition ; scratch test ; nanohardness ; ellipsometry ; atomic force microscopy ; AFM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/34
Nr opisu: 0000115077
Tytuł oryginału: Mikroskopia sił atomowych w badaniach powierzchni materiałów stosowanych w protetyce stomatologicznej.
Tytuł w wersji angielskiej: Atomic force microscopy in the research of surfaces of materials used in dental prosthetics
Autorzy: Bogusław Ziębowicz, Anna Ziębowicz.
¬ródło: W: Biomateriały i mechanika w stomatologii. XVI konferencja, Ustroń, 13-16 paĽdziernika 2016 r. Program i streszczenia referatów. Red. Jacek Kasperski, Grzegorz Chladek, Sewer Kruczkowski. Ustroń : [b.w.], 2016, s. 85
Organizator: Polskie Towarzystwo Inżynierii Medycznej [i in.]
Słowa kluczowe polskie: materiał dentystyczny ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: dental material ; atomic force microscopy
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


11/34
Nr opisu: 0000116007
Tytuł oryginału: The study of parameters of the organic photovoltaic cells.
Autorzy: Paweł Jarka, Tomasz Tański, B. Hajduk, M. Domański.
¬ródło: W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [33], bibliogr. 2 poz.
ISBN: 978-83-944591-0-9
Organizator: The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support NANONET
Słowa kluczowe polskie: organiczne ogniwo fotowoltaiczne ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis ; charakterystyka pr±dowo-napięciowa
Słowa kluczowe angielskie: organic solar cell ; atomic force microscopy ; UV-Vis spectroscopy ; current-voltage characteristic ; bulk heterojunction
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


12/34
Nr opisu: 0000116182
Tytuł oryginału: UV-VIS analysis of PVP/SiO2 thin films.
Autorzy: Wiktor Matysiak, Sebastian Zieliński, Tomasz Tański.
¬ródło: W: 1st International Conference InterNanoPoland 2016. International Conference Center, Katowice, 14-15 June, 2016. Abstracts book. Ed. Agnieszka Piekara, Karol Lemański. Katowice : The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support Nanonet, 2016, s. [48], bibliogr. 3 poz.
ISBN: 978-83-944591-0-9
Organizator: The Foundation of Nanoscience and Nanotechnology Support NANONET
Słowa kluczowe polskie: cienka powłoka ; UV-Vis ; nanokompozyt PVP/SiO2 ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: thin film ; UV-Vis ; PVP/SiO2 nanocomposite ; atomic force microscopy
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


13/34
Nr opisu: 0000101974
Tytuł oryginału: Badanie warstw powierzchniowych z zastosowaniem mikroskopu sił atomowych.
Autorzy: E. Kotas, Marcin Staszuk.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, s. 67-74, bibliogr. 15 poz.
ISBN: 978-83-65138-04-0
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 39)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,35
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; warstwa powierzchniowa ; PVD
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; surface layer ; PVD
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


14/34
Nr opisu: 0000096044
Tytuł oryginału: Correlation between morphology and local thermal properties of iron (II) phthalocyanine thin layers
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, Justyna Juszczyk, Anna KaĽmierczak-Bałata, A. Erbe, Jerzy Bodzenta.
¬ródło: -J. Phys., D Appl. Phys. 2014 vol. 47 iss. 33, Art. nr 335304, s. 1-7, bibliogr. 47
Impact Factor: 2.721
Punktacja MNiSW: 35.000
p-ISSN: 0022-3727
e-ISSN: 1361-6463
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; morfologia FePc ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia termiczna ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci termiczne ; ftalocyjaniny żelaza
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; FePc morphology ; atomic force microscopy ; scanning thermal microscopy ; thin film ; thermal properties ; iron phthalocyanine
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


15/34
Nr opisu: 0000093679
Tytuł oryginału: Metoda atomowego osadzania cienkich warstw optycznych.
Autorzy: Paulina Boryło, Marek Szindler, Magdalena Szindler.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'14". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2014, s. 3-8, bibliogr. 12 poz.
ISBN: 978-83-63553-30-2
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 30)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,30
Słowa kluczowe polskie: atomowe osadzanie warstw ; mikroskopia sił atomowych ; elipsometria
Słowa kluczowe angielskie: atomic layer deposition ; atomic force microscopy ; ellipsometry
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


16/34
Nr opisu: 0000100976
Tytuł oryginału: Metody charakteryzacji grafenu wykorzystywanego w sensorowych układach rezystancyjnych
Tytuł w wersji angielskiej: Methods of graphene characterization using in resistive sensor's systems
Autorzy: Sabina Drewniak, Tadeusz Pustelny, W. Strupiński, I. Pasternak, Zbigniew Opilski.
¬ródło: -Pr. Nauk. P¦l., Elektr. 2014 R. 60 z. 2/3, s. 63-72, bibliogr. 15 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1897-8827
Słowa kluczowe polskie: grafen ; czujnik gazowy ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia Ramana
Słowa kluczowe angielskie: graphene ; gas sensor ; atomic force microscopy ; Raman spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.3348
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


17/34
Nr opisu: 0000094441
Tytuł oryginału: Application of scanning microscopy to study correlation between thermal properties and morphology of BaTiO3 thin films
Autorzy: Anna KaĽmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, Maciej Krzywiecki, Justyna Juszczyk, J. Szmidt, P. Firlek.
¬ródło: -Thin Solid Films 2013 vol. 545, s. 217-221, bibliogr. 26 poz.
Impact Factor: 1.867
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; tytanian baru ; warstwa cienka ; skaningowa mikroskopia termiczna ; wła¶ciwo¶ci termiczne
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; barium titanate ; thin film ; scanning thermal microscopy ; thermal properties
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


18/34
Nr opisu: 0000080338
Tytuł oryginału: Influence of natural organic matter on fouling and ultrafiltration membranes properties - AFM analysis
Tytuł w wersji polskiej: Wpływ naturalnych substancji organicznych na fouling oraz wła¶ciwo¶ci membran - analiza AFM
Autorzy: Aleksandra* Płatkowska-Siwiec, Michał** Bodzek.
¬ródło: -Ecol. Chem. Eng. A 2012 vol. 19 no. 12, s. 1561-1570, bibliogr. 16 poz.
Punktacja MNiSW: 7.000
p-ISSN: 1898-6188
DOI:
Słowa kluczowe polskie: fouling ; ultrafiltracja ; naturalna substancja organiczna ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: fouling ; ultrafiltration ; natural organic matter ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4585
Dostęp on-line:


19/34
Nr opisu: 0000078463
Tytuł oryginału: Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej: Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials Chosen problems
Autorzy: Andrzej Sikora.
Adres wydawniczy: Warszawa : Instytut Elektrotechniki, 2012
Opis fizyczny: , 185 s., bibliogr. 419 poz.
Seria: (Prace Instytutu Elektrotechniki ; R. 59, z. 257 0032-6216)
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; diagnostyka powierzchni ; nanoskala ; elektrotechnika
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; surface diagnostics ; nanoscale ; electrotechnics
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2213
Dostęp on-line:


20/34
Nr opisu: 0000083538
Tytuł oryginału: Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach cienkich warstw.
Autorzy: Leszek** Dobrzański, Marek Szindler, Dariusz Łukowiec.
¬ródło: W: Proceedings of the Eighteenth International Scientific Conference on Contemporary Achievements in Mechanics, Manufacturing and Materials Science. CAM3S'2012, Gliwice - Ustroń, 27th - 29th February 2012. Ed. by L. A. Dobrzański. Gliwice : International Organising Committee of the Scientific Conferences World Press, 2012, s. 43, bibliogr. 3 poz.
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; warstwa cienka ; morfologia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscope ; thin film ; surface morphology
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


21/34
Nr opisu: 0000071375
Tytuł oryginału: Changes of semifusinite and fusinite surface roughness during heat treatment determined by atomic force microscopy
Autorzy: Rafał Morga.
¬ródło: -Int. J. Coal Geol. 2011 vol. 88 iss. 4, s. 218-226, bibliogr.
Impact Factor: 2.542
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0166-5162
e-ISSN: 1872-7840
DOI:
Słowa kluczowe polskie: węgiel ; inertynit ; semifuzynit ; fuzynit ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: coal ; inertinite ; semifusinite ; fusinite ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


22/34
Nr opisu: 0000077215
Tytuł oryginału: Comparative study of surface morphology of copper phthalocyanine ultra thin films deposited on Si (111) native and RCA-cleaned substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, Lucyna Grz±dziel, Jerzy Bodzenta, Jacek** Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2012 vol. 520 iss. 11, s. 3965-3970, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.890
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; obróbka RCA
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy ; RCA treatment ; silicon native substrate
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


23/34
Nr opisu: 0000059306
Tytuł oryginału: Carbon nanomaterials from carbon monoxide using nickel and cobalt catalysts
Autorzy: B. Liszka, A. Krztoń, Mirosława Pawlyta.
¬ródło: -Acta Phys. Pol. A 2010 vol. 118 no. 3, s. 471-474, bibliogr. 22 poz.
Impact Factor: 0.467
p-ISSN: 0587-4246
e-ISSN: 1898-794X
Słowa kluczowe polskie: nanocz±stki ; tlenek węgla ; kataliza niklu ; kataliza kobaltu ; mikroskopia sił atomowych ; skaningowa mikroskopia elektronowa
Słowa kluczowe angielskie: nanoparticles ; carbon monoxide ; nickel catalysis ; cobalt catalysis ; atomic force microscopy ; scanning electron microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2936
Dostęp on-line:


24/34
Nr opisu: 0000063356
Tytuł oryginału: Influence of Si substrate preparation on surface chemistry and morphology of L-CVD SnO2 thin films studied by XPS and AFM
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Natalia Waczyńska, S. Santucci, Jacek** Szuber.
¬ródło: -Appl. Surf. Sci. 2010 vol. 256 iss. 19, s. 5771-5775, bibliogr. 25 poz.
Impact Factor: 1.795
p-ISSN: 0169-4332
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; podłoże krzemowe ; morfologia powierzchni ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; XPS
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; surface morphology ; atomic force microscopy ; AFM ; X-ray photoelectron spectroscopy ; XPS
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


25/34
Nr opisu: 0000057727
Tytuł oryginału: Studying of polyoxadiazole with Si atom in the backbone
Autorzy: Barbara* Hajduk, Paweł Jarka, Jan** Weszka, M. Bruma, J. Jurusik, Małgorzata* Chwastek, D. Mańkowski.
¬ródło: -Arch. Mater. Sci. Eng. 2010 vol. 42 nr 2, s. 77-84, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 1897-2764
Słowa kluczowe polskie: spektroskopia UV-Vis ; mikroskopia sił atomowych ; spektroskopia w podczerwieni ; metoda spin-coating
Słowa kluczowe angielskie: UV-Vis spectroscopy ; AFM microscopy ; IR spectroscopy ; spin-coating method
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:


26/34
Nr opisu: 0000056850
Tytuł oryginału: Influence of substrate doping on the surface chemistry and morphology of Copper Phthalocyanine ultra thin films on Si (111) substrates
Autorzy: Maciej Krzywiecki, L. Ottaviano, Lucyna Grz±dziel, P. Parisse, S. Santucci, Jacek** Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 5, s. 1630-1635, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: półprzewodnik organiczny ; ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: organic semiconductor ; copper phthalocyanine ; thin film ; surface properties ; X-ray photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


27/34
Nr opisu: 0000056438
Tytuł oryginału: Local surface morphology and chemistry of SnO2 thin films deposited by rheotaxial growth and thermal oxidation method for gas sensor application
Autorzy: L. Ottaviano, Monika Kwoka, F. Bisti, P. Parisse, V. Grossi, S. Santucci, Jacek** Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2009 vol. 517 iss. 22, s. 6161-6169, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 1.727
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; RGTO ; podłoże krzemowe ; stechiometria ; dyfrakcja rentgenowska ; wytrzymało¶ć na zginanie ; mikroskopia sił atomowych ; rentgenowska spektroskopia fotoelektronów
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; Rheological Growth and Thermal Oxidation (RGTO) ; surface morphology ; stoichiometry ; X-ray diffraction ; scanning electron microscopy ; atomic force microscopy ; X-ray photoelectron spectroscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


28/34
Nr opisu: 0000056458
Tytuł oryginału: Structure-property relationships in dimethacrylate networks based on Bis-GMA, UDMA and TEGDMA
Autorzy: Izabela Barszczewska-Rybarek.
¬ródło: -Dent. Mater. 2009 vol. 25 iss. 9, s. 1082-1089, bibliogr. 27 poz.
Impact Factor: 2.882
p-ISSN: 0109-5641
e-ISSN: 1879-0097
DOI:
Słowa kluczowe polskie: dimetakrylan ; sieć polimerowa ; niejednorodno¶ć strukturalna ; wła¶ciwo¶ci mechaniczne ; mikroskopia sił atomowych ; proszkowa dyfrakcja rentgenowska
Słowa kluczowe angielskie: dimethacrylate ; polymer network ; structural heterogeneity ; mechanical properties ; atomic force microscopy ; X-ray powder diffraction
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


29/34
Nr opisu: 0000039992
Tytuł oryginału: AFM study of the surface morphology of L-CVD SnO2 thin films
Autorzy: Monika Kwoka, L. Ottaviano, Jacek** Szuber.
¬ródło: -Thin Solid Films 2007 vol. 515 iss. 23, s. 8328-8331, bibliogr. 14 poz.
Impact Factor: 1.693
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: dwutlenek cyny ; cienka powłoka L-CVD ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: tin dioxide ; L-CVD thin film ; atomic force microscopy ; surface morphology
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


30/34
Nr opisu: 0000039060
Tytuł oryginału: Structure, physical properties and multifractal characteristics of the PVD and CVD coatings deposition onto the Al2O3 + TiC ceramics
Autorzy: Waldemar Kwa¶ny, M. WoĽniak, Jarosław Mikuła, Leszek** Dobrzański.
¬ródło: -Int. J. Comput. Mater. Sci. Surf. Eng. 2007 vol. 1 no. 1, s. 97-113, bibliogr. 16 poz.
p-ISSN: 1753-3465
e-ISSN: 1753-3473
Słowa kluczowe polskie: analiza ; modelowanie ; komputerowa nauka o materiałach ; powłoka PVD ; geometria multifraktalna ; mikroskopia sił atomowych ; AFM ; powłoka CVD ; ceramika narzędziowa ; skład fazowy ; własno¶ci mechaniczne ; badanie grubo¶ci ; badanie twardo¶ci ; badanie chropowato¶ci ; struktura powierzchni ; topografia powierzchni
Słowa kluczowe angielskie: analysis ; modelling ; computational materials science ; PVD coating ; multifractal geometry ; atomic force microscopy ; AFM ; CVD coating ; tool ceramics ; phase composition ; mechanical properties ; thickness test ; hardness test ; roughness test ; surface structure ; surface topography
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


31/34
Nr opisu: 0000036413
Tytuł oryginału: Studies of surface properties of L-CVD SnO2 thin films. Rozprawa doktorska.
Tytuł w wersji polskiej: Badania własno¶ci powierzchni cienkich warstw L-CVD SnO2
Autorzy: Monika Kwoka.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2007
Opis fizyczny: , 128 k., bibliogr. 84 poz. + zał.: 46 k.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Matematyczno-Fizyczny.
Promotor: prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa SnO2 ; cienka powłoka L-CVD ; dwutlenek cyny ; spektroskopia fotoelektronowa ; mikroskopia sił atomowych ; chemia powierzchni ; własno¶ci elektronowe ; morfologia powierzchni ; osadzanie
Słowa kluczowe angielskie: SnO2 thin film ; L-CVD thin film ; tin dioxide ; photoelectron spectroscopy ; atomic force microscopy ; surface chemistry ; electronic properties ; surface morphology ; deposition
Typ publikacji: D
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4361, R-4362
Dostęp BCP¦:


32/34
Nr opisu: 0000007979
Tytuł oryginału: Badania odporno¶ci korozyjnej stentów wieńcowych z uwzględnieniem specyfiki układu naczyń wieńcowych
Tytuł w wersji angielskiej: Corrosion resistance investigations of coronary stents with regard to specificity of coronary vessels system
Autorzy: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, Z. Nawrat, Jerzy** Żak, K. Wilczek.
¬ródło: -Inż. Biomater. 2004 R. 7 nr 34, s. 26-33, bibliogr. 19 poz.
Uwagi: Tekst równoległy w jęz. ang.
p-ISSN: 1429-7248
Słowa kluczowe polskie: stenty wieńcowe ; warstwa pasywno-węglowa ; stal Cr-Ni-Mo ; badanie korozyjne ; badanie zmęczeniowe ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: coronary stents ; passive-carbon layer ; Cr-Ni-Mo steel ; corrosion test ; fatigue test ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL, ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


33/34
Nr opisu: 0000015135
Tytuł oryginału: Usefulness of passive-carbon layer for implants applied in interventional cardiology
Autorzy: Zbigniew Paszenda, Jadwiga** Tyrlik-Held, Z. Nawrat, Jerzy** Żak, K. Wilczek.
¬ródło: -J. Mater. Process. Technol. 2004 vol. 157/158, s. 399-404, bibliogr. 29 poz.
Impact Factor: 0.578
p-ISSN: 0924-0136
e-ISSN: 1873-4774
DOI:
Słowa kluczowe polskie: stent wieńcowy ; warstwa pasywno-węglowa ; stal Cr-Ni-Mo ; korozja ; badanie zmęczeniowe ; mikroskopia sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: coronary stent ; passive-carbon layer ; Cr-Ni-Mo steel ; corrosion ; fatigue test ; atomic force microscopy
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


34/34
Nr opisu: 0000011623
Tytuł oryginału: Surface morphology of the polyurethane-based pervaporation membrane studies by atomic force microscopy. [Cz.] 1: Effect of the polyurethane molecular structure
Autorzy: A. Wolińska, Jerzy** Żak, A. Jankowski, J. Muszyński.
¬ródło: -J. Macromol. Sci. - Pure Appl. Chem. 2003 vol. A40 iss. 3, s. 225-237, bibliogr. 14 poz.
Impact Factor: 0.681
p-ISSN: 1060-1325
Słowa kluczowe polskie: poliuretan ; mikroskopia sił atomowych ; morfologia
Słowa kluczowe angielskie: polyurethane ; atomic force microscopy ; morphology
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie