Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
ANALOGOWY UKŁAD ELEKTRONICZNY
Liczba odnalezionych rekordów:
27
Przej¶cie do opcji zmiany formatu
|
Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/27
Nr opisu:
0000138809
Tytuł oryginału:
Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy:
Tomasz
Golonek
, Łukasz
Chruszczyk
.
¬ródło:
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2020 vol. 68 no. 6
, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor:
1.385
Punktacja MNiSW:
100.000
p-ISSN:
0239-7528
e-ISSN:
2300-1917
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie sterowane specyfikacj±
;
obliczenia ewolucyjne
;
regresja wielokrotna
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
specification driven testing
;
evolutionary computations
;
multiple regression
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access:
open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY-NC-ND open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:
2/27
Nr opisu:
0000137812
Tytuł oryginału:
Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Tomasz
Golonek
.
¬ródło:
W:
Prace Komisji Naukowych
. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019
, s. 273-276
ISBN:
978-83-88657-57-3
Liczba arkuszy wydawniczych:
0,2
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
functional testing
Typ publikacji:
U
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.4217
3/27
Nr opisu:
0000074609
Tytuł oryginału:
Hybrydowe metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej:
Hybrid methods for testing and diagnosis of analog electronic circuits Selected problems
Autorzy:
Damian
Grzechca
.
Adres wydawniczy:
Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2012
Opis fizyczny:
, 166 s., bibliogr. 169 poz.
Seria:
(
Monografia
;
[Politechnika ¦l±ska]
nr 395)
Uwagi:
Rozprawa habilitacyjna
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka
;
metoda hybrydowa
;
testowanie układu analogowego
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
diagnostics
;
hybrid method
;
analogue circuit testing
Typ publikacji:
M
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l.
Dostęp BCP¦:
4/27
Nr opisu:
0000082690
Tytuł oryginału:
Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
.
¬ródło:
W:
Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012
, s. 64
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi:
Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
transformata Walsha-Hadamarda
;
korelacja Pearsona
;
regresja liniowa
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
analog circuit diagnosis
;
Walsh-Hadamard transform
;
Pearson correlation
;
linear regression
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
5/27
Nr opisu:
0000071521
Tytuł oryginału:
A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
-
Prz. Elektrot.
2011 R. 87 nr 10
, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor:
0.244
Punktacja MNiSW:
15.000
p-ISSN:
0033-2097
Słowa kluczowe polskie:
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie:
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analogue electronic circuit
;
artificial neural network
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:
6/27
Nr opisu:
0000081583
Tytuł oryginału:
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator:
Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie funkcjonalne
;
czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie:
analogue electronic circuits
;
functional testing
;
response time
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
7/27
Nr opisu:
0000071513
Tytuł oryginału:
Soft fault clustering in analog electronic circuits with the use of self organizing neural network
Autorzy:
Damian
Grzechca
.
¬ródło:
-
Metrol. Meas. Syst.
2011 vol. 18 nr 4
, s. 555-568, bibliogr. 46 poz.
Impact Factor:
0.764
Punktacja MNiSW:
20.000
p-ISSN:
0860-8229
Słowa kluczowe polskie:
wykrywanie uszkodzeń
;
uszkodzenia parametryczne
;
analogowy układ elektroniczny
;
samoorganizuj±ca się sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie:
fault detection
;
parametric faults
;
analogue electronic circuit
;
self-organizing neural network
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:
8/27
Nr opisu:
0000082610
Tytuł oryginału:
Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 231
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi:
Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie:
triangulacja Delaunaya
;
testowanie funkcjonalne
;
analogowy układ elektroniczny
;
sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie:
Delaunay's triangulation
;
specification driven testing
;
analog electronic circuit
;
artificial neural network
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
9/27
Nr opisu:
0000082611
Tytuł oryginału:
Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Tomasz
Golonek
, Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 232
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi:
Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
testowanie układu analogowego
;
obliczenia ewolucyjne
;
gęsto¶ć widmowa
;
szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
analogue circuit testing
;
evolutionary computations
;
spectral density
;
Fourier series
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
10/27
Nr opisu:
0000062779
Tytuł oryginału:
Generacja cykli fundamentalnych metod± dynamicznego budowania drzewa grafu
Autorzy:
Andrzej
Pułka
, Ł.
Golly
.
¬ródło:
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 12
, s. 75-77, bibliogr. 9 poz.
p-ISSN:
0033-2089
Słowa kluczowe polskie:
teoria grafów
;
teoria obwodów
;
analiza symboliczna
;
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
graph theory
;
circuit theory
;
symbolic analysis
;
analog electronic circuit
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:
11/27
Nr opisu:
0000056515
Tytuł oryginału:
Faults classification in analog electronic circuits with use of the SVM algorithm.
Autorzy:
Damian
Grzechca
, S.
Czeczótka
.
¬ródło:
W:
European Conference on Circuit Theory and Design
. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 659-662, bibliogr. 5 poz.
Organizator:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
SVM
;
Maszyna Wektorów No¶nych
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
SVM
;
Support Vector Machine
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
12/27
Nr opisu:
0000052106
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych
Autorzy:
Piotr*
Kyzioł
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
¬ródło:
-
Elektronika
2009 R. 50 nr 10
, s. 57-59, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN:
0033-2089
Słowa kluczowe polskie:
optymalizacja rojem cz±stek
;
PSO
;
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
particle swarm optimization
;
PSO
;
analog electronic circuit
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:
13/27
Nr opisu:
0000038044
Tytuł oryginału:
Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2008 vol. 56 no. 1
, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN:
0239-7528
e-ISSN:
0239-7528
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
analogowy układ scalony
;
logika rozmyta
;
ekspresja genów
;
algorytm genetyczny
;
wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
analog integrated circuit
;
fuzzy logic
;
gene expression
;
genetic algorithm
;
annealing
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:
14/27
Nr opisu:
0000032119
Tytuł oryginału:
Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy:
Tomasz
Golonek
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 72-75, bibliogr. 12 poz.
Seria:
(
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
optymalna częstotliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
optimal frequency
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
15/27
Nr opisu:
0000032118
Tytuł oryginału:
Ewolucyjny projektant filtrów.
Autorzy:
Tomasz
Golonek
, S.
Fedrizzi
, Damian
Grzechca
.
¬ródło:
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 58-61, bibliogr. 10 poz.
Seria:
(
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
ewolucyjny system optymalizacji
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
evolutionary optimization system
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
16/27
Nr opisu:
0000031567
Tytuł oryginału:
Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits
Autorzy:
Łukasz
Chruszczyk
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
-
Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci.
2007 vol. 55 no. 3
, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN:
0239-7528
e-ISSN:
0239-7528
Słowa kluczowe polskie:
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
;
transformata falkowa
;
algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie:
fault detection
;
fault location
;
fault diagnosis
;
analog electronic circuit
;
wavelet transform
;
genetic algorithm
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:
17/27
Nr opisu:
0000031908
Tytuł oryginału:
Optimal excitation in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy:
Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
¬ródło:
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007
, s. 523-528, bibliogr. 4 poz.
Organizator:
Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka uszkodzeń
;
słownik uszkodzeń
;
transformata falkowa
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
fault diagnosis
;
fault dictionary
;
wavelet transform
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
18/27
Nr opisu:
0000031052
Tytuł oryginału:
Optymalizacja uzysku analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 125-130, bibliogr. 8 poz.
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
optymalizacja uzysku
;
analogowy układ elektroniczny
;
koszt produkcji
;
algorytm genetyczny
;
strategia ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie:
yield optimization
;
analog electronic circuit
;
production cost
;
genetic algorithm
;
evolutionary strategy
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. Cz.01 119357
19/27
Nr opisu:
0000032124
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy:
Damian
Grzechca
, Tomasz
Golonek
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 121-124, bibliogr. 5 poz.
Seria:
(
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie:
wyżarzanie symulowane
;
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
simulated annealing
;
analog electronic circuit
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
20/27
Nr opisu:
0000032117
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
I.
Kurowski
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]
. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007
, s. 37-39, bibliogr. 13 poz.
Seria:
(
Elektronika
; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
klasyfikator neuronowy
;
sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
neural classifier
;
neural network
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
21/27
Nr opisu:
0000031023
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
I.
Kurowski
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 71-76, bibliogr. 13 poz.
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka układów analogowych
;
klasyfikator neuronowy
;
RBF
;
sieć neuronowa
;
słownik uszkodzeń
;
metoda BKS
;
modularna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie:
analogue electronic circuit
;
analog circuit diagnosis
;
neural classifier
;
RBF
;
neural network
;
dictionary of damages
;
BKS method
;
analog electronic circuit
;
modular neural network
;
dictionary of faults
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. Cz.01 119357
22/27
Nr opisu:
0000031053
Tytuł oryginału:
Zastosowanie programowania wyrażeń genetycznych do wyboru optymalnego zbioru częstotliwo¶ci w diagnostyce analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Piotr*
Jantos
, Damian
Grzechca
.
¬ródło:
W:
Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]
. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007
, s. 143-148, bibliogr. 6 poz.
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
;
słownik uszkodzeń
;
programowanie wyrażeń genetycznych
;
algorytm ewolucyjny
;
GEP
Słowa kluczowe angielskie:
fault diagnosis
;
analogue electronic circuit
;
dictionary of damages
;
gene expression programming
;
evolutionary algorithm
;
GEP
;
analog electronic circuit
;
dictionary of faults
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. Cz.01 119357
23/27
Nr opisu:
0000013962
Tytuł oryginału:
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 13-22, bibliogr.
Organizator:
Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
testowanie
;
diagnostyka uszkodzeń
;
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
testing
;
fault diagnosis
;
analog electronic circuit
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. 113299
24/27
Nr opisu:
0000013975
Tytuł oryginału:
Straty mocy w układach wzmacniaczy klasy G i klasy H - analiza teoretyczna i wnioski.
Autorzy:
Adam*
Kristof
.
¬ródło:
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 235-240, bibliogr. 12 poz.
Organizator:
Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
wzmacniacz mocy
;
straty mocy
;
sprawno¶ć energetyczna
;
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
power amplifier
;
power losses
;
energetic efficiency
;
analog electronic circuit
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. 113299
25/27
Nr opisu:
0000013969
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do centrowania układów elektronicznych.
Autorzy:
Jerzy**
Rutkowski
, Ł.
Zieliński
.
¬ródło:
W:
Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]
. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004
, s. 145-150, bibliogr. 11 poz.
Organizator:
Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie:
centrowanie
;
strategia ewolucyjna
;
analogowy układ elektroniczny
;
optymalizacja
Słowa kluczowe angielskie:
centering
;
evolutionary strategy
;
analog electronic circuit
;
optimization
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. 113299
26/27
Nr opisu:
0000018460
Tytuł oryginału:
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Jerzy**
Rutkowski
.
Adres wydawniczy:
Warszawa : Wydaw. Komunikacji i ٱczno¶ci, 2003
Opis fizyczny:
, 176 s., bibliogr.
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
Typ publikacji:
M
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l.
27/27
Nr opisu:
0000013070
Tytuł oryginału:
Wykorzystanie sieci neuronowych i technik rozmytych do testowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy:
Damian
Grzechca
.
Miejsce i rok obrony:
Gliwice, 2003
Opis fizyczny:
, 99 s., bibliogr. 44 poz.
Uczelnia i wydział:
Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor:
dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie:
analogowy układ elektroniczny
;
diagnostyka uszkodzeń
;
sieć neuronowa
;
teoria zbiorów rozmytych
;
testowanie analogowych układów elektronicznych
Słowa kluczowe angielskie:
analog electronic circuit
;
fault diagnosis
;
neural network
;
fuzzy set theory
;
analog circuit fault diagnosis
Typ publikacji:
D
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3705
Dostęp BCP¦:
stosuj±c format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie