Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IBIST
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000081582
Tytuł oryginału: Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
Autorzy: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 479-484, bibliogr. 17 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź [et al.]
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; połączenie BIST ; test połączeń
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; interconnect BIST ; interconnect test ; R-LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/5
Nr opisu: 0000063344
Tytuł oryginału: How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie połączeń ; rejestr pierścieniowy LFSR ; podpis
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/5
Nr opisu: 0000056440
Tytuł oryginału: Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
Słowa kluczowe polskie: interkonekt ; przesłuch ; błąd dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


4/5
Nr opisu: 0000051249
Tytuł oryginału: Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
Źródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test połączeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; połączenie BIST ; IBIST
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


5/5
Nr opisu: 0000039319
Tytuł oryginału: On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0867-6747
Słowa kluczowe polskie: tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwość operacyjna
Słowa kluczowe angielskie: Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.168


stosując format:
Nowe wyszukiwanie