Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TWO-DIMENTIONAL MEASUREMENT
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000037961
Tytuł oryginału: A simple algorithm for solving a two-dimensional nonlinear measurement problem.
Tytuł w wersji polskiej: Algorytm odwrotny w pomiarach dwuparametrowych o charakterystykach nieliniowych
Autorzy: Wiesław Domański, Jan** Zakrzewski.
Źródło: W: Synergy of science and technology in instrumentation and measurement. IEEE Instrumentation and Measurement Technology. IMTC/2007, Warsaw, Poland, May 1-3, 2007. Conference proceedings. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-5, bibliogr. 6 poz.
Słowa kluczowe polskie: czujnik nieselektywny ; pomiar dwuwymiarowy ; algorytm ; instrument mikroprocesorowy
Słowa kluczowe angielskie: non-selective sensor ; two-dimentional measurement ; algorithm ; microprocessor instrument
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie