Wynik wyszukiwania
Zapytanie: THIN SILICA FILM
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000097325
Tytuł oryginału: Wytworzenie oraz charakterystyka cienkich warstw SiO2 osadzonych metod± wirow± na szkle.
Autorzy: Jakub* Sitek, Marek Szindler.
¬ródło: W: Sesja Okoliczno¶ciowa Studenckich Kół Naukowych "SO-KÓŁ'15". Red. Mirosław Bonek. Gliwice : Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych Politechniki ¦l±skiej, 2015, s. 53-62, bibliogr. 11 poz.
ISBN: 978-83-65138-01-9
Seria: (Prace Studenckich Kół Naukowych ; Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych. Politechnika ¦l±ska nr 35)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,45
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; tlenek krzemu ; spin-coating ; metoda wirowa ; mikroskopia konfokalna ; AFM ; spektrometr UV/VIS
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon oxide ; spin-coating ; spin-coating method ; confocal microscopy ; AFM ; spectrometer UV/VIS
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000073913
Tytuł oryginału: Parametry optyczne cienkich warstw krzemionkowych na podłożach krzemowych
Autorzy: E. Skoczek, J. Cisowski, Paweł Karasiński, J. Jaglarz, B. Jarz±bek.
¬ródło: -Mater. Ceram. 2012 R. 64 nr 2, s. 282-285, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 1644-3470
Słowa kluczowe polskie: cienka warstwa krzemowa ; podłoże krzemowe ; porowata krzemionka ; zol-żel ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: thin silica film ; silicon substrate ; porous silica ; sol-gel ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1906
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie