Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SURFACE EXPLORATION
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000122026
Tytuł oryginału: Analiza powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Autorzy: Bogusław Ziębowicz, Marcin Staszuk, Paweł Jarka.
¬ródło: -LAB Laboratoria Apar. Bad. 2018 nr 1, s. 18-22, bibliogr. 7 poz.
Punktacja MNiSW: 1.000
p-ISSN: 1427-5619
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sił atomowych ; AFM ; badanie powierzchni ; cienka warstwa organiczna
Słowa kluczowe angielskie: atomic force microscopy ; AFM ; surface exploration ; thin organic film
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


2/2
Nr opisu: 0000049517
Tytuł oryginału: Recenzja.
Autorzy: Andrzej Wyci¶lik.
¬ródło: -Hutnik 2005 R. 72 nr 11, s. 562
Praca recenzowana: Photoelectron spectroscopy principles and applications / S. Hüfner. Berlin 2003
Słowa kluczowe polskie: spektroskopia fotoelektronowa ; badanie powierzchni ; recenzja ; ksi±żka
Słowa kluczowe angielskie: photoelectron spectroscopy ; surface exploration ; review ; book
Typ publikacji: REC
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.499
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie