Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SCANNING PROBE MICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000133639
Tytuł oryginału: Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method
Autorzy: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, M. Guziewicz.
Źródło: -Ultramicroscopy 2020 vol. 210s, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz.
Impact Factor: 2.452
Punktacja MNiSW: 140.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sond skanujących ; cienka warstwa ZnO ; przewodnictwo cieplne ; przewodnictwo elektryczne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; ZnO thin film ; thermal conductivity ; electrical conductivity
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/4
Nr opisu: 0000131144
Tytuł oryginału: Scanning thermal microscopy - a tool for thermal measurement in the nanoscale.
Autorzy: Jerzy Bodzenta.
Źródło: W: Nanostructured thin films. Fundamentals and applications. Ed. by Maria Benelmekki, Andreas Erbe. Amsterdam : Elsevier, 2019, s. 181-213, bibliogr. 127 poz.
ISBN: 978-0-08-102572-7
Seria: (Frontiers of Nanoscience ; vol. 14 1876-2778)
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 2
Bazy indeksujące publikację: Scopus; Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar termiczny w nanoskali ; mikroskopia sond skanujących ; skaningowa mikroskopia termiczna ; SPM ; SThM ; transport termiczny w nanoskali
Słowa kluczowe angielskie: nanoscale thermal measurement ; scanning probe microscopy ; scanning thermal microscopy ; SPM ; SThM ; thermal transport at nanoscale
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/4
Nr opisu: 0000091265
Tytuł oryginału: Badanie z wykorzystaniem mikroskopu z sondą skanującą.
Autorzy: Paweł Jarka, Marcin Staszuk, Tomasz* Gaweł, Tomasz Tański.
Źródło: W: Ćwiczenia laboratoryjne z inżynierii materiałowej i nanotechnologii. Praca zbiorowa. Pod red. Leszka A. Dobrzańskiego i Tomasza Tańskiego. Gliwice : International OCSCO World Press, 2013, s. 88-91
ISBN: 978-83-63553-25-8
Seria: (Open Access Library ; vol. 10 (28) 2083-5191)
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,20
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia ze skanującą sondą ; mikroskop sił atomowych ; badanie makroskopowe ; ćwiczenia laboratoryjne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; atomic force microscope ; microscopic examination ; laboratory exercises
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


4/4
Nr opisu: 0000079453
Tytuł oryginału: Skaningowa mikroskopia tunelowa - powierzchniowa metoda badawcza o atomowej rozdzielczości
Autorzy: Jerzy** Żak, P. Ślęczkowski.
Źródło: -Laboratorium 2013 nr 3/4, s. 16-19
Punktacja MNiSW: 2.000
p-ISSN: 1643-7381
Słowa kluczowe polskie: skaningowa mikroskopia tunelowa ; STM ; mikroskopia ze skanującą sondą ; SPM ; nanotechnologia
Słowa kluczowe angielskie: scanning tunneling microscopy ; STM ; scanning probe microscopy ; SPM ; nanotechnology
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie