| Nr opisu: | 0000124101 |
| Tytuł oryginału: | Opracowanie stanowiska pomiarowego do badania wybranych parametrów pokryć odlewniczych. |
| Autorzy: | Roman* Romelczyk, Błażej Siodmok, Natalia Przyszlak, J. Dorula, Andrzej Studnicki. |
| Źródło: | W: XIV Seminarium Studenckiego Koła Naukowego Odlewników SFEROID '2018, Ustroń-Jaszowiec, 23-24 maj 2018. Red. Jan Szajnar, Andrzej Studnicki, Jacek Suchoń. Gliwice : Komisja Odlewnictwa PAN. Oddział Katowice, 2018, s. 81-88, bibliogr. 7 poz. |
| ISBN: | 978-83-63605-30-8 |
| Seria: | (Zeszyty Studenckich Prac Naukowych "Sferoid" ; nr 20) |
| Punktacja MNiSW: | 20.000 |
| Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,5 |
| Słowa kluczowe polskie: | powłoka odlewnicza ; właściwości powłoki ; żelazo ; krzywa krystalizacji ; krzywa chłodzenia ; grubość powłoki |
| Słowa kluczowe angielskie: | foundry coating ; coating properties ; iron ; crystallization curve ; cooling curve ; layer thickness |
| Typ publikacji: | RK |
| Język publikacji: | POL |
| Zasieg terytorialny: | K |
| Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |
| Lokalizacja Źródła: | PŚl. |