Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ROM
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000029358
Tytuł oryginału: Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych
Autorzy: Tomasz Rudnicki.
Źródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2007 nr 7, s. 95-97, bibliogr. 3 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: MISR ; pary testowe ; pokrycie uszkodzeń ; CUT ; ROM
Słowa kluczowe angielskie: MISR ; test pairs ; cover of delay faults ; CUT ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000028977
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Theor. Appl. Informat. 2007 vol. 19 no. 1, s. 19-36, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 1896-5334
Słowa kluczowe polskie: uszkodzenie opóźnieniowe ; pary testowe ; MISR ; pamięć tylko do odczytu ; generator obrazu kontrolnego ; generator par testowych
Słowa kluczowe angielskie: delay fault ; test pairs ; MISR ; Read-Only Memory ; test pattern generator ; ROM
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.4405
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie