Wynik wyszukiwania
Zapytanie: INTERCONNECT BUILT-IN SELF-TEST
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000056440
Tytuł oryginału: Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
Słowa kluczowe polskie: interkonekt ; przesłuch ; błąd dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000039319
Tytuł oryginału: On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: -Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0867-6747
Słowa kluczowe polskie: tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwość operacyjna
Słowa kluczowe angielskie: Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.168


stosując format:
Nowe wyszukiwanie