Wynik wyszukiwania
Zapytanie: SYSTEMY POMIAROWE W TEORII I W PRAKTYCE
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000138909
Tytuł oryginału: Calibration of PXI data acquisition cards used for primary impedance metrology.
Tytuł w wersji polskiej: Kalibracja kart akwizycji danych PXI wykorzystywanych w metrologii impedancyjnej
Autorzy: Krzysztof Musioł, Marian Kampik.
Źródło: W: Systemy pomiarowe w teorii i w praktyce. Measurement systems in theory and practice. Pod red. Ryszarda Rybskiego. Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki. Uniwersytet Zielonogórski. Zielona Góra : Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki. Uniwersytet Zielonogórski, 2020, s. 159-169, bibliogr. 18 poz.
ISBN: 978-83-957716-1-3
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,6
Słowa kluczowe polskie: kalibracja ; autokalibracja ; parametry metrologiczne
Słowa kluczowe angielskie: calibration ; autocalibration ; measurement parameters
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/2
Nr opisu: 0000138906
Tytuł oryginału: Oprogramowanie automatyzujące pomiary wykonywane precyzyjnym miernikiem RLC Keysight E4980A.
Tytuł w wersji angielskiej: Software for automation of measurements with Keysight E4980A precision LCR meter
Autorzy: Maciej Malinowski, Marian Kampik, Krzysztof Musioł.
Źródło: W: Systemy pomiarowe w teorii i w praktyce. Measurement systems in theory and practice. Pod red. Ryszarda Rybskiego. Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki. Uniwersytet Zielonogórski. Zielona Góra : Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki. Uniwersytet Zielonogórski, 2020, s. 125-138, bibliogr. 10 poz.
ISBN: 978-83-957716-1-3
Punktacja MNiSW: 20.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,8
Słowa kluczowe polskie: pomiar impedancji ; Keysight 4980A ; automatyzacja pomiarów ; błąd pomiaru
Słowa kluczowe angielskie: impedance measurement ; Keysight 4980A ; automation of measurements ; measurement error
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie