Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PROCEEDINGS OF EAST-WEST DESIGN TEST WORKSHOP
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000086183
Tytuł oryginału: A new idea of test-per-clock interconnect BIST structure.
Tytuł w wersji polskiej: Nowa idea struktury wbudowanego testera do testowania połączeń wykorzystującego metodę Test per Clock
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam Kristof.
Źródło: W: Proceedings of East-West Design & Test Workshop. EWDTW'04, Yalta, Ukraine, September 23-26, 2004. Kharkov : Kharkov National University of Radioelectronics, 2004, s. 23-29, bibliogr. 16 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie