| Nr opisu: | 0000086183 |
| Tytuł oryginału: | A new idea of test-per-clock interconnect BIST structure. |
| Tytuł w wersji polskiej: | Nowa idea struktury wbudowanego testera do testowania połączeń wykorzystującego metodę Test per Clock |
| Autorzy: | Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam* Kristof. |
| Źródło: | W: Proceedings of East-West Design & Test Workshop. EWDTW'04, Yalta, Ukraine, September 23-26, 2004. Kharkov : Kharkov National University of Radioelectronics, 2004, s. 23-29, bibliogr. 16 poz. |
| Typ publikacji: | RK |
| Język publikacji: | ENG |
| Zasieg terytorialny: | Z |
| Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |