| Nr opisu: | 0000086181 |
| Tytuł oryginału: | Fast and low-area TPGs based on T-type flip-flops can be easily integrated to the scan path. |
| Tytuł w wersji polskiej: | Generatory testów zbudowane na bazie przerzutników T, charakteryzujące się dużą szybkością działania oraz małą powierzchnią, mogą zostać w łatwy sposób zintegrowane ze ścieżką sterująco-obserwacyjną |
| Autorzy: | Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam Kristof. |
| Źródło: | W: IEEE European Test Workshop. ETW 2000, Cascais, Portugal, 23-26 May 2000. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000, s. 161-166, bibliogr. 8 poz. |
| DOI: | |
| Typ publikacji: | RK |
| Język publikacji: | ENG |
| Zasieg terytorialny: | Z |
| Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |
| Dostęp on-line: | |