Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IEEE EUROPEAN TEST WORKSHOP
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000086181
Tytuł oryginału: Fast and low-area TPGs based on T-type flip-flops can be easily integrated to the scan path.
Tytuł w wersji polskiej: Generatory testów zbudowane na bazie przerzutników T, charakteryzujące się dużą szybkością działania oraz małą powierzchnią, mogą zostać w łatwy sposób zintegrowane ze ścieżką sterująco-obserwacyjną
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam Kristof.
Źródło: W: IEEE European Test Workshop. ETW 2000, Cascais, Portugal, 23-26 May 2000. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000, s. 161-166, bibliogr. 8 poz.
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie