Wynik wyszukiwania
Zapytanie: EUROPEAN DESIGN TEST CONFERENCE
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000027785
Tytuł oryginału: Extension of the boundary-scan architecture and new idea of BIST for more effective testing and self-testing of interconnections.
Autorzy: Adam Kristof.
Źródło: W: European Design & Test Conference. ED&TC 97, Paris, France, March 17-20, 1997. Proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 1997, s. 630, bibliogr. 4 poz.
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie