Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
Liczba odnalezionych rekordów: 4



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu: 0000016479
Tytuł oryginału: A new efficiently tested MISR-NOT compactor for soft-repairable digital circuits.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
Źródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'2003. Sixth International IEEE Workshop, Poznań, Poland, April 14-16, 2003. Proceedings. Poznań University of Technology [et al.]. Poznań : Wydaw. Politechniki Poznańskiej, 2003, s. 219-226
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


2/4
Nr opisu: 0000038798
Tytuł oryginału: Digital control in the UPS with S-51 family microprocessors.
Autorzy: Zbigniew Rymarski.
Źródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kraśniewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998, s. 117-121, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Computer Society Chapter. IEEE Poland Section [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


3/4
Nr opisu: 0000091919
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults based on LFSR with D,T flip-flops and internal inverters.
Tytuł w wersji polskiej: Generator wektorów testowych pobudzających uszkodzenia opóźnieniowe zbudowany na bazie rejestru LFSR zawierającego przerzutniki D i T oraz bramki negacji
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kraśniewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998, s. 153-160, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Computer Society Chapter. IEEE Poland Section [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


4/4
Nr opisu: 0000085829
Tytuł oryginału: The JTAG/IEEE1149.1 compatible tester based on a single-chip microcontroller.
Tytuł w wersji polskiej: Dedykowane urządzenie testujące zgodne ze standardem JTAG/IEEE1149.1 zbudowane w oparciu o mikrokontroler jednoukładowy
Autorzy: Adam Kristof.
Źródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kraśniewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998, s. 103-107
Organizator: Computer Society Chapter. IEEE Poland Section [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie