Nr opisu: | 0000091919 |
Tytuł oryginału: | Test pattern generator for delay faults based on LFSR with D,T flip-flops and internal inverters. |
Tytuł w wersji polskiej: | Generator wektorów testowych pobudzających uszkodzenia opóźnieniowe zbudowany na bazie rejestru LFSR zawierającego przerzutniki D i T oraz bramki negacji |
Autorzy: | Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka. |
Źródło: | W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kraśniewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998, s. 153-160, bibliogr. 15 poz. |
Organizator: | Computer Society Chapter. IEEE Poland Section [et al.] |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |