Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ULTRAMICROSCOPY
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000133639
Tytuł oryginału: Microscopic investigations of morphology and thermal properties of ZnO thin films grown by atomic layer deposition method
Autorzy: Anna Kaźmierczak-Bałata, Jerzy Bodzenta, M. Guziewicz.
Źródło: -Ultramicroscopy 2020 vol. 210s, art. no. 112923 s. 1-13, bibliogr. 49 poz.
Impact Factor: 2.452
Punktacja MNiSW: 140.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mikroskopia sond skanujących ; cienka warstwa ZnO ; przewodnictwo cieplne ; przewodnictwo elektryczne
Słowa kluczowe angielskie: scanning probe microscopy ; ZnO thin film ; thermal conductivity ; electrical conductivity
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000114170
Tytuł oryginału: Measuring thermal conductivity of thin films by Scanning Thermal Microscopy combined with thermal spreading resistance analysis
Autorzy: Justyna Juszczyk, Anna Kaźmierczak-Bałata, P. Firek, Jerzy Bodzenta.
Źródło: -Ultramicroscopy 2017 vol. 175, s. 81-86, bibliogr. 28 poz.
Impact Factor: 2.929
Punktacja MNiSW: 50.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: skaningowa mikroskopia termiczna ; przewodność cieplna ; pomiar cieplny ; próbnik termiczny ; powłoka cienka
Słowa kluczowe angielskie: scanning thermal microscopy ; thermal conductivity ; thermal measurement ; thermal probe ; thin film ; thermal spreading resistance
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000094419
Tytuł oryginału: Application of scanning thermal microscopy for investigation of thermal boundaries in multilayered photonic structures
Autorzy: Justyna Juszczyk, Maciej Krzywiecki, R. Kruszka, Jerzy Bodzenta.
Źródło: -Ultramicroscopy 2013 vol. 135, s. 95-98, bibliogr. 17 poz.
Impact Factor: 2.745
Punktacja MNiSW: 50.000
p-ISSN: 0304-3991
DOI:
Słowa kluczowe polskie: struktura warstwowa ; skaningowa mikroskopia termiczna ; granica termiczna ; odwzorowanie cieplne ; struktura fotoniczna
Słowa kluczowe angielskie: layered structure ; scanning thermal microscopy ; thermal boundary ; thermal imaging ; photonic structure
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie