Nr opisu: | 0000107834 |
Tytuł oryginału: | Technologia cienkich warstw tlenku cynku o kontrolowanych własno¶ciach strukturalnych, transportowych i optycznych |
Tytuł w wersji angielskiej: | Technology of zinc oxide thin films with controlled structural, transport and optical properties |
Autorzy: | M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, T. Wojciechowski, K. Gołaszewska, E. Dynowska, M. Wzorek, R. Kruszka, K. D. P±gowska, Monika Kwoka, Jacek** Szuber, T. Boll, K. Stiller, T. Wojtowicz, A. Piotrowska. |
¬ródło: | -Elektronika 2016 R. 57 nr 8, s. 75-80, bibliogr. 10 poz. |
Punktacja MNiSW: | 8.000 |
p-ISSN: | 0033-2089 |
e-ISSN: | 2449-9528 |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | tlenek cynku ; ZnO ; katodowe rozpylanie magnetronowe ; przezroczysta elektronika ; czujnik |
Słowa kluczowe angielskie: | zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; transparent electronics ; sensor |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. P.2411 |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000093497 |
Tytuł oryginału: | Cienkie warstwy ZnO wytwarzane technik± magnetronowego rozpylania katodowego: mikrostruktura i funkcjonalno¶ć |
Tytuł w wersji angielskiej: | Thin ZnO films fabricated by magnetron sputtering: functionallity and microstructure |
Autorzy: | M. Borysiewicz, M. Wzorek, K. Gołaszewska, E. Kamińska, A. Piotrowska, E. Dynowska, T. Wojciechowski, R. Jakieła, T. Wojtowicz, Przemysław Struk, Tadeusz Pustelny. |
¬ródło: | -Elektronika 2014 R. 55 nr 9, s. 16-19, bibliogr. 21 poz. |
Punktacja MNiSW: | 8.000 |
p-ISSN: | 0033-2089 |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | tlenek cynku ; ZnO ; rozpylanie magnetronowe ; warstwa porowata |
Słowa kluczowe angielskie: | zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; porous layer |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. P.2411 |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000072518 |
Tytuł oryginału: | Surface morphology and optical properties of polymer thin films |
Autorzy: | Jan** Weszka, Magdalena Szindler, M. Bruma. |
¬ródło: | -Elektronika 2012 R. 53 nr 6, s. 120-122, bibliogr. 6 poz. |
Uwagi: | Referat wygłoszony na European Summer School of Photovoltaics, Karaków, Poland, 4-7 July 2012 |
Punktacja MNiSW: | 6.000 |
p-ISSN: | 0033-2089 |
Słowa kluczowe polskie: | morfologia powierzchni ; polimer ; warstwa cienka |
Słowa kluczowe angielskie: | surface morphology ; polymer ; thin film |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. P.2411 |
Nr opisu: | 0000068353 |
Tytuł oryginału: | Profilowanie składu chemicznego tlenkowych warstw pasywacyjnych metod± spektromikroskopii elektronów Augera |
Tytuł w wersji angielskiej: | Profiling of chemical content of oxide passivation layers using Auger electron spectromicroscopy |
Autorzy: | Alina Domanowska, Andrzej** Klimasek, E. Lisiecka, Piotr* Bidziński, Bogusława Adamowicz, Janusz Szewczenko, A. Taube, K. Korwin-Mikke, S. Gierałtowska, J. Żywicki. |
¬ródło: | -Elektronika 2011 R. 52 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 6 poz. |
Punktacja MNiSW: | 6.000 |
p-ISSN: | 0033-2089 |
Słowa kluczowe polskie: | spektromikroskopia ; elektron Augera ; widmo AES |
Słowa kluczowe angielskie: | spectromicroscopy ; Auger electron ; AES spectrum |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. P.2411 |
Dostęp on-line: | |