Nr opisu: | 0000093992 |
Tytuł oryginału: | Wykorzystanie pakietów testów statystycznych do analizy sygnałów pseudolosowych. |
Tytuł w wersji angielskiej: | Application of the statistical test suites in the pseudo random signal analysis |
Autorzy: | Rafał* Stępień. |
¬ródło: | W: XXXVII Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2014, Gliwice - Ustroń, 21-24.05.2014 = 37th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej. Politechnika ¦l±ska], 2014, s. 34, bibliogr. 4 poz. |
ISBN: | 978-83-85940-36-4 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Słowa kluczowe polskie: | test statystyczny ; DIEHARD ; NIST STS 2.1.1 ; ENT ; sekwencja pseudolosowa |
Słowa kluczowe angielskie: | statistical test ; DIEHARD ; NIST STS 2.1.1 ; ENT ; pseudorandom sequence |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. Cz.O1 143096 |
Nr opisu: | 0000081357 |
Tytuł oryginału: | Stereological and statistical evaluation of grain size in experimental Ni-based and conventional supercoarse sintered carbides. |
Tytuł w wersji polskiej: | Stereologiczna i statystyczna ocena wielko¶ci ziarna w eksperymentalnych z osnow± Ni i konwencjonalnych supergruboziarnistych węglikach spiekanych |
Autorzy: | Janusz Richter, Marian** Maliński. |
¬ródło: | W: Stereology and image analysis in materials science. 9th International Conference on Stereology and Image Analysis in Materials, Zakopane, Poland, 3-6 September 2012. Ed. Agnieszka Szczotok. Stafa-Zurich : Trans Tech Publications, 2013, s. 143-148, bibliogr. 7 poz. |
Seria: | (Solid State Phenomena ; vol. 197) |
Punktacja MNiSW: | 10.000 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,35 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Web of Science; Scopus; Google Scholar |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | wielko¶ć ziarna ; matryca na bazie niklu ; test statystyczny ; węglik spiekany |
Słowa kluczowe angielskie: | grain size ; Ni-based matrix ; statistical test ; sintered carbide |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |