Wynik wyszukiwania
Zapytanie: POROUS SILICA FILM
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000136423
Tytuł oryginału: Scattering phenomena in porous sol-gel-derived silica films
Autorzy: J. Jaglarz, P. Dulian, Paweł Karasiński, P. Winkowski.
Źródło: -Coatings 2020 vol. 10 iss. 6, s. 1-13, bibliogr. 32 poz.
Impact Factor: 2.436
Punktacja MNiSW: 100.000
e-ISSN: 2079-6412
DOI:
Słowa kluczowe polskie: proces zol-żel ; powłoka cienka ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna ; rozpraszanie światła ; elipsometria spektroskopowa
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel process ; thin film ; porous silica film ; antireflection coating ; light scattering ; spectroscopic ellipsometry
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000134200
Tytuł oryginału: Thermo-optical properties of porous silica thin films produced by sol-gel method
Autorzy: J. Jaglarz, P. Dulias, Paweł Karasiński.
Źródło: -Mater. Chem. Phys. 2020 vol. 243, art. no. 122603 s. 1-6, bibliogr. 36 poz.
Impact Factor: 3.408
Punktacja MNiSW: 70.000
p-ISSN: 0254-0584
DOI:
Słowa kluczowe polskie: proces zol-żel ; powłoka cienka ; elipsometria spektroskopowa ; warstwa z krzemionki porowatej ; powłoka antyrefleksyjna
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel process ; thin film ; spectroscopic ellipsometry ; porous silica film ; antireflective coating
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie