Nr opisu: | 0000106780 |
Tytuł oryginału: | Analiza UV-VIS cienkich warstw kompozytowych PVP/SiO2. |
Autorzy: | Wiktor Matysiak, S. Zieliński, Tomasz Tański, M. Zaborowska, P. Witek, Ewa Rusek, Artur* Skorupa, M. Latusek. |
¬ródło: | W: Materiały i technologie XXI wieku. XVIII Międzynarodowa studencka sesja naukowa, Katowice, 19 maja 2016. [Dokument elektroniczny]. Red. Marcin Godzierz, Adam Gryc, Marta Biesaga, Aleksandra Miczek, Konrad Brzyski. Katowice : [b.w.], 2016, pamięć USB (PenDrive) s. 240-245, bibliogr. 17 poz. |
Organizator: | Wydział Inżynierii Materiałowej i Metalurgii, Studenckie Koło Naukowe MATER-TECH |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,2 |
Słowa kluczowe polskie: | cienka warstwa kompozytowa ; morfologia kompozytów ; morfologia powierzchni ; mikroskop sił atomowych ; spektroskopia UV-Vis |
Słowa kluczowe angielskie: | thin composite layer ; morphology of composites ; surface morphology ; atomic force microscope ; UV-Vis spectroscopy |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |