Nr opisu: | 0000082755 |
Tytuł oryginału: | Metody wyznaczania dwójłomno¶ci modowej ¶wiatłowodów planarnych. |
Autorzy: | Kazimierz Gut. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 61-62, bibliogr. 6 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Słowa kluczowe polskie: | dwójłomno¶ć modowa ; ¶wiatłowód planarny |
Słowa kluczowe angielskie: | modal birefringence ; planar waveguide |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000090037 |
Tytuł oryginału: | Organiczne i nieorganiczne nanostruktury sensorowe w optycznych i ¶wiatłowodowych czujnikach chemicznych. |
Autorzy: | Erwin Maciak, Tadeusz Pustelny. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 57-58, bibliogr. 2 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Słowa kluczowe polskie: | czujnik ¶wiatłowodowy ; czujnik optyczny ; nanostruktura ; Nafion |
Słowa kluczowe angielskie: | waveguide sensor ; optical sensor ; nanostructure ; Nafion |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082758 |
Tytuł oryginału: | Redukcja stanów pułapkowych w strukturze MOS 4H-SiC(0001) pod wpływem implantacji azotu - wpływ profilu implantacji. |
Autorzy: | K. Król, M. Sochacki, W. Strupiński, M. Turek, J. Żuk, P. Borowicz, H. Przewłocki, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, Jacek** Szuber, J. Szmidt. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 155-156, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,1 |
Słowa kluczowe polskie: | stan pułapkowy ; implantacja jonów ; struktura MOS |
Słowa kluczowe angielskie: | trapping state ; ion implantation ; MOS structure |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082757 |
Tytuł oryginału: | Warstwy SiO2-TiO2 wytwarzane metod± zol-żel - charakteryzacja i zastosowania. |
Autorzy: | Paweł Karasiński. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 67-68, bibliogr. 5 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Słowa kluczowe polskie: | metoda zol-żel ; powłoka cienka ; warstwa falowodowa |
Słowa kluczowe angielskie: | sol-gel method ; thin coating ; waveguide layer |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082759 |
Tytuł oryginału: | Wykorzystanie obiektywu z pryzmatem Wollastona w metrologii ¶wiatłowodowej pola bliskiego. |
Autorzy: | Kazimierz Gut. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 237-238, bibliogr. 5 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Słowa kluczowe polskie: | pole bliskie ; metrologia ; ¶wiatłowód |
Słowa kluczowe angielskie: | near field ; metrology ; optical waveguide |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000046252 |
Tytuł oryginału: | Characterization of insulator-semiconductor interface phenomena in MIS structures by impedance spectroscopy. |
Autorzy: | Stanisław** Kochowski, K. Nitsch, R. Paszkiewicz, B. Paszkiewicz, Michał* Szydłowski. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2007. IX Konferencja, Kraków, 4-7.09.2007. Materiały konferencyjne. Red. T. Stapiński [i in.]. [Kraków] : [Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica], 2008, s. 47-50, bibliogr. 11 poz. |
Organizator: | Katedra Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. AGH w Krakowie [i in.] |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |