Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IEEE CONGRESS ON EVOLUTIONARY COMPUTATION NEW ORLEANS JUNE 5-8 2011
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000081926
Tytuł oryginału: Optimal on-line built-in self-test structure for system-reliability improvement.
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
Źródło: W: IEEE Congress on Evolutionary Computation, New Orleans, June 5-8, 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 222-229, bibliogr. 29 poz.
DOI:
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; algorytm genetyczny ; obwód ; sprzęt komputerowy
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; genetic algorithm ; circuit ; hardware
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie