Wynik wyszukiwania
Zapytanie: ELEVENTH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000025287
Tytuł oryginału: Test-per-clock detection, localization and identification of interconnect faults.
Autorzy: M. Kopec, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: Eleventh IEEE European Test Symposium. ETS 2006, Southampton, United Kingdom, 21-24 May 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 233-238, bibliogr. 18 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie