Nr opisu: | 0000137490 |
Tytuł oryginału: | On the reliability of highly magnified micrographs for structural analysis in materials science |
Autorzy: | M. Wortmann, A.S. Layland, N. Frese, U. Kahmann, T. Grothe, J. L. Storck, Tomasz Błachowicz, Jacek Grzybowski, B. Husgen, A. Ehrmann. |
Źródło: | -Sci. Rep. 2020 vol. 10, s. 1-8, bibliogr. 36 poz. |
Impact Factor: | 3.998 |
Punktacja MNiSW: | 140.000 |
p-ISSN: | 2045-2322 |
DOI: | |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |
Informacje o dostępie open-access: | open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL |
Dostęp on-line: | |