Nr opisu: | 0000107834 |
Tytuł oryginału: | Technologia cienkich warstw tlenku cynku o kontrolowanych własno¶ciach strukturalnych, transportowych i optycznych |
Tytuł w wersji angielskiej: | Technology of zinc oxide thin films with controlled structural, transport and optical properties |
Autorzy: | M. A. Borysiewicz, E. Kamińska, T. Wojciechowski, K. Gołaszewska, E. Dynowska, M. Wzorek, R. Kruszka, K. D. P±gowska, Monika Kwoka, Jacek** Szuber, T. Boll, K. Stiller, T. Wojtowicz, A. Piotrowska. |
¬ródło: | -Elektronika 2016 R. 57 nr 8, s. 75-80, bibliogr. 10 poz. |
Punktacja MNiSW: | 8.000 |
p-ISSN: | 0033-2089 |
e-ISSN: | 2449-9528 |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | tlenek cynku ; ZnO ; katodowe rozpylanie magnetronowe ; przezroczysta elektronika ; czujnik |
Słowa kluczowe angielskie: | zinc oxide ; ZnO ; magnetron sputtering ; transparent electronics ; sensor |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. P.2411 |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000104603 |
Tytuł oryginału: | Defect states in tin oxide - a subtle way for tuning the oxide's sensing properties. |
Autorzy: | Maciej Krzywiecki, Monika Kwoka, A. Sarfraz, G. Genchev, A. Erbe. |
¬ródło: | W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 41 |
Organizator: | Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000102948 |
Tytuł oryginału: | Elektrochemiczna redukcja soli diazoniowych jako metoda immobilizacji pochodnych fenotiazyn. |
Autorzy: | Katarzyna Piwowar, Jerzy** Żak, J. Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, Agata Blacha-Grzechnik. |
¬ródło: | W: 58 Zjazd Naukowy Polskiego Towarzystwa Chemicznego w Gdańsku. Polska chemia w mie¶cie wolno¶ci, 21-25 wrze¶nia 2015. Materiały zjazdowe. Cz. 1, Streszczenia. Warszawa : Polskie Towarzystwo Chemiczne, 2015, s. 339, bibliogr. 2 poz. |
ISBN: | 978-83-60988-20-6 |
Organizator: | Oddział Gdański Polskiego Towarzystwa Chemicznego, Wydział Chemii Uniwersytetu Gdańskiego |
Słowa kluczowe polskie: | nanowarstwa ; warstwa organiczna ; tlen singletowy ; sól diazoniowa ; pochodna fenotiazyny |
Słowa kluczowe angielskie: | nanolayer ; organic layer ; singlet oxygen ; diazonium salt ; phenothiazine derivative |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Informacje o dostępie open-access: | open-access-licence: OTHER |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000104599 |
Tytuł oryginału: | Study of gas-sensing and catalytic properties of one-dimensional ZnO structures modified with gold nanoparticles. |
Autorzy: | H. Teterycz, P. Suchorska-WoĽniak, Monika Kwoka, O. Rac, M. Fiedot. |
¬ródło: | W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 29, bibliogr. 2 poz. |
Organizator: | Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000104604 |
Tytuł oryginału: | XPS studies of surface chemistry of pure and Nb-doped TiO2 nanotubes for gas sensor application. |
Autorzy: | Monika Kwoka, V. Galstyan, E. Comini, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: IX International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2015, Zakopane, Poland, 13-16 December 2015. Programme, abstracts, info. [B.m.] : [b.w.], 2015, s. 42, bibliogr. 10 poz. |
Organizator: | Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000101036 |
Tytuł oryginału: | Comparative analysis of the surface properties of tin dioxide SnO2 one-dimensional and two-diemnsional nanostructures. Rozprawa doktorska. |
Autorzy: | Michał* Sitarz. |
Miejsce i rok obrony: | Gliwice, 2014 |
Opis fizyczny: | , 79 k., bibliogr. 61 poz. |
Uczelnia i wydział: | Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki. |
Promotor: | prof. dr hab. inż. Jacek** Szuber, dr Monika Kwoka |
Słowa kluczowe polskie: | nanostruktura SnO2 ; SnO2 ; dwutlenek cyny ; wła¶ciwo¶ci powierzchniowe ; analiza porównawcza |
Słowa kluczowe angielskie: | SnO2 nanostructure ; SnO2 ; tin dioxide ; surface properties ; comparative analysis |
Typ publikacji: | D |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. Cz.Ab. R-5203 + CD |
Nr opisu: | 0000093837 |
Tytuł oryginału: | Badania wybranych nanostruktur SnO2 w aspekcie zastosowań sensorowych. |
Autorzy: | Monika Kwoka, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 180 + tekst na CD-ROM |
ISBN: | 978-83-934712-6-3 |
Organizator: | Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej |
Uwagi: | Pełny tekst na CD-ROM |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,5 |
Słowa kluczowe polskie: | SnO2 ; nanostruktura SnO2 ; wła¶ciwo¶ci sensorowe |
Słowa kluczowe angielskie: | SnO2 ; SnO2 nanostructure ; sensor properties |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000113757 |
Tytuł oryginału: | Influence of nitrogen implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure. |
Autorzy: | K. Król, M. Sochacki, M. Turek, J. Zuk, M. Przewlocki, T. Gutt, P. Borowicz, M. Guziewicz, Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, J. Szmidt. |
¬ródło: | W: Silicon carbide and related materials 2012. Selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation. Ed. by Alexander A. Lebedev, Sergey Yu. Davydov, Pavel A. Ivanov and Mikhail E. Levinshtein. Durnten-Zurich : Trans Tech Publications, 2013, s. 733-736, bibliogr. 6 poz. |
ISBN: | 978-3-03785-624-6978-3-03785-624-6 |
Seria: | (Materials Science Forum ; vol. 740/742 0255-5476) |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,4 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Scopus; Web of Science |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | implantacja jonów ; węglik krzemu ; utlenianie termiczne |
Słowa kluczowe angielskie: | ion implantation ; silicon carbide ; thermal oxidation ; ion implantation damage |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082758 |
Tytuł oryginału: | Redukcja stanów pułapkowych w strukturze MOS 4H-SiC(0001) pod wpływem implantacji azotu - wpływ profilu implantacji. |
Autorzy: | K. Król, M. Sochacki, W. Strupiński, M. Turek, J. Żuk, P. Borowicz, H. Przewłocki, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, Jacek** Szuber, J. Szmidt. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 155-156, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,1 |
Słowa kluczowe polskie: | stan pułapkowy ; implantacja jonów ; struktura MOS |
Słowa kluczowe angielskie: | trapping state ; ion implantation ; MOS structure |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000071982 |
Tytuł oryginału: | Optimization of technology for deposition of ultrathin SnO2 films by spin-coating method. |
Autorzy: | Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, Michał* Sitarz, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: Powierzchnia i struktury cienkowarstwowe. XII Seminarium. SemPiSC, Szklarska Poręba, 9-12 maja 2012. Ksi±żka streszczeń. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 1, bibliogr. 6 poz. |
Organizator: | Polskie Towarszystwo Próżniowe, Sekcja Cienkich Warstw, Sekcja Nauki o Powierzchni [i in.] |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082740 |
Tytuł oryginału: | Optymalizacja technologii osadzania nanowarstw SnO2 metod± rozwirowywania z roztworów (spin-coating). |
Autorzy: | Jacek** Szuber, Krzysztof** Waczyński, Monika Kwoka, Michał* Sitarz, Natalia Waczyńska-Niemiec, Piotr* Ko¶cielniak. |
¬ródło: | W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 159 |
Organizator: | Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej |
Uwagi: | Pełny tekst na CD-ROM |
Słowa kluczowe polskie: | SnO2 ; nanowarstwa ; spin-coating ; technologia osadzania |
Słowa kluczowe angielskie: | SnO2 ; nanolayer ; spin-coating ; deposition technology |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000083460 |
Tytuł oryginału: | SEM, XPS and TDS studies of surface properties of SNO2 nanowires prepared on Ag and Au catalyst layers deposited on Si substrate. |
Autorzy: | Michał* Sitarz, E. Comini, Monika Kwoka, D. Zappa, Piotr* Ko¶cielniak, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 58, bibliogr. 4 poz. |
Organizator: | Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l sygn. Cz.O1 138157 |
Nr opisu: | 0000083459 |
Tytuł oryginału: | XPS and TDS comparative studies of the surface chemistry of Ag-doped L-CVD SnO2 nanolayers and SnO2 nanowires after air exposure. |
Autorzy: | Monika Kwoka, Michał* Sitarz, L. Ottaviano, E. Comini, D. Zappa, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: VIII International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2012, Cracow, Poland, 11-15 September 2012. Programme & abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2012, s. 55, bibliogr. 3 poz. |
Organizator: | Silesian University of Technology. Institute of Electronics, European Center of Excellence CESIS. Gliwice. Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l sygn. Cz.O1 138157 |
Nr opisu: | 0000076043 |
Tytuł oryginału: | XRD and XPS comparative studies of stoichiometry of RGTO SnO2 thin films for gas sensor application. |
Autorzy: | Monika Kwoka, L. Ottaviano, P. Parissi, F. Bisti, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: IX Electron Technology Conference. ELTE 2007, Kraków, 4-7.09.2007. Book of abstracts. Eds: K. Zakrzewska [et al.]. Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, 2007, s. 198, bibliogr. 7 poz. |
Organizator: | Department of Electronics. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH [et al.] |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000025450 |
Tytuł oryginału: | Comparative photoemission study of the electronic properties of L-CVD SnO2 thin films |
Autorzy: | Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | -Appl. Surf. Sci. 2006 vol. 252 iss. 21, s. 7734-7738, bibliogr. 23 poz. |
Uwagi: | Zawiera materiały z: Fourth International Workshop on Semiconductor Surface Passivation. SSP'05, Ustroń, Poland, 10-13 September 2005 |
Impact Factor: | 1.436 |
p-ISSN: | 0169-4332 |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | dwutlenek cyny ; powłoka cienka ; nakładanie L-CVD ; wła¶ciwo¶ci elektroniczne warstwy ładunku przestrzennego ; poziom Fermiego ; elektroniczne pasmo wzbronione |
Słowa kluczowe angielskie: | tin dioxide ; thin film ; L-CVD deposition ; electronic properties of space charge layer ; Fermi level ; electronic band gap |
Typ publikacji: | A |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000023051 |
Tytuł oryginału: | Surface morphology of L-CVD SnO2 thin films for gas sensor application. |
Autorzy: | Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, S. Santucci, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 46 |
Organizator: | Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. Cz.01 116437 |
Nr opisu: | 0000023052 |
Tytuł oryginału: | XPS studies of surface chemistry and electronic properties of Ag-doped L-VCD SnO2 thin films. |
Autorzy: | Monika Kwoka, L. Ottaviano, M. Passacantando, G. Czempik, S. Santucci, Jacek** Szuber. |
¬ródło: | W: V International Workshop on Semiconductor Gas Sensors. SGS 2006, Ustroń, Poland, September 10-13, 2006. Programme and abstracts. [B.m.] : [b.w.], 2006, s. 47, bibliogr. 8 poz. |
Organizator: | Centre of Excellence in Physics and Technology of Semiconductor Interfaces and Sensors (CESIS). Department of Electron Technology. Silesian University of Technology, Gliwice, Poland |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. Cz.01 116437 |