Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GARBOLINO TOMASZ
Liczba odnalezionych rekordów: 71



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/71
Nr opisu: 0000124788
Tytuł oryginału: A method to support diagnostics of dynamic faults in networks of interconnections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2018 vol. 64 nr 3, s. 407-420, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 2081-8491
e-ISSN: 2300-1933
DOI:
Słowa kluczowe polskie: sieć poł±czeń ; system-on-chip ; diagnostyka ; MISR ; kompakcja ; sygnatura ; chińskie twierdzenie o resztach
Słowa kluczowe angielskie: network of interconnections ; system-on-chip ; diagnostics ; MISR ; compaction ; signature ; Chinese Remainder Theorem
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/71
Nr opisu: 0000117924
Tytuł oryginału: Testowanie i diagnostyka poł±czeń między modułami cyfrowymi w systemach scalonych. Wybrane zagadnienia.
Tytuł w wersji angielskiej: Testing and diagnostics of interconnections between digital cores of systems-on-chip selected issues
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2017
Opis fizyczny: , 262 s., bibliogr. 242 poz.
ISBN: 978-83-7880-463-5
Seria: (Monografia ; [Politechnika ¦l±ska] nr 659)
Punktacja MNiSW: 80.000
Liczba arkuszy wydawniczych: 16,5
Słowa kluczowe polskie: System on Chip ; uszkodzenia poł±czeń ; testowanie poł±czeń ; diagnostyka uszkodzeń ; liniowy rejestr pier¶cieniowy
Słowa kluczowe angielskie: system-on-chip ; faults of interconnections ; interconnection testing ; fault diagnosis ; ring LFSR
Typ publikacji: M
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp BCP¦:


3/71
Nr opisu: 0000113630
Tytuł oryginału: Wybrane metody testowania i diagnostyki poł±czeń między modułami systemów cyfrowych.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Prace Komisji Naukowych. z. 39-40. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2016, s. 327-331
ISBN: 978-83-88657-56-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Słowa kluczowe polskie: system cyfrowy ; testowanie ; diagnostyka
Słowa kluczowe angielskie: digital system ; testing ; diagnosis
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/71
Nr opisu: 0000099068
Tytuł oryginału: New structure of test pattern generator stimulating crosstalks in bus-type connections
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Int. J. Electron. Telecommun. 2015 vol. 61 no. 1, s. 67-75, bibliogr. 38 poz.
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0867-6747
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zintegrowane poł±czenia obwodu ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; System on Chip
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit interconnections ; crosstalk ; test pattern generator ; built-in self test ; system-on-chip
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


5/71
Nr opisu: 0000091808
Tytuł oryginału: Designing of test pattern generators for stimulation of crosstalk faults in bus-type connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of the 2014 IEEE 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS, Warsaw, Poland, April 23-25, 2014. Eds.: Witold Pleskacz, Michel Renovell, Dominik Kasprowicz, Lukas Sekanina, Serge Bernard. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 270-273, bibliogr. 22 poz.
ISBN: 978-1-4799-4558-0
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus; IEEE Xplore; INSPEC
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ scalony ; przesłuch ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; wbudowane samotestowanie
Słowa kluczowe angielskie: integrated circuit ; crosstalk ; test pattern generator ; System on Chip ; built-in self test
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/71
Nr opisu: 0000076481
Tytuł oryginału: Podstawy techniki cyfrowej. Przykłady zadań egzaminacyjnych.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Józef Kulisz, Tomasz Rudnicki, Dariusz* Stachańczyk.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2012
Opis fizyczny: , 334 s.
Uwagi: Skrypt nr 2505
Słowa kluczowe polskie: układ cyfrowy ; układ kombinacyjny ; układ sekwencyjny ; układ asynchroniczny ; układ synchroniczny ; zadania
Słowa kluczowe angielskie: digital circuit ; combinational circuit ; sequential circuit ; asynchronous circuit ; synchronous circuit ; exercises
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp BCP¦:


7/71
Nr opisu: 0000069622
Tytuł oryginału: Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections
Tytuł w wersji polskiej: Analiza pracy rejestru pier¶cieniowego LFSR użytego do testowania jednokierunkowych poł±czeń o dowolnej strukturze
Autorzy: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 50-53, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: testowanie poł±czeń ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; BIST ; rejestr XR-LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnection testing ; ring LFSR ; BIST ; XR-LFSR register
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


8/71
Nr opisu: 0000081582
Tytuł oryginału: Analysis of operation of ring LFSR used for testing of unidirectional interleaved interconnections.
Autorzy: Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 479-484, bibliogr. 17 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; poł±czenie BIST ; test poł±czeń
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; XR-LFSR ; interconnect BIST ; interconnect test ; R-LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/71
Nr opisu: 0000081926
Tytuł oryginału: Optimal on-line built-in self-test structure for system-reliability improvement.
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: IEEE Congress on Evolutionary Computation, New Orleans, June 5-8, 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 222-229, bibliogr. 29 poz.
DOI:
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; algorytm genetyczny ; obwód ; sprzęt komputerowy
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; genetic algorithm ; circuit ; hardware
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/71
Nr opisu: 0000083214
Tytuł oryginału: Stochastic approach to test pattern generator design.
Tytuł w wersji polskiej: Podej¶cie stochastyczne do projektowania generatora wektorów testowych
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Stochastic optimization - seeing the optimal for the uncertain. Ed. by Ioannis Dritsas. Rijeka : InTech, 2011, s. 75-94, bibliogr. 37 poz.
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


11/71
Nr opisu: 0000063710
Tytuł oryginału: Sygnaturowy słownik diagnostyczny o niewielkich rozmiarach wykorzystywany w testowaniu poł±czeń
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2011 vol. 57 nr 1, s. 52-54, bibliogr. 10 poz.
Punktacja MNiSW: 7.000
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: słownik diagnostyczny ; testowanie poł±czeń ; liniowy rejestr pier¶cieniowy ; R-LFSR ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: diagnostic dictionary ; interconnection testing ; Ring Linear Feedback Shift Register ; R-LFSR ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


12/71
Nr opisu: 0000063532
Tytuł oryginału: Genetic algorithm for test pattern generator design Automatic evolution of circuits
Autorzy: Tomasz Garbolino, G. Papa.
¬ródło: -Appl. Intell. 2010 vol. 32 nr 2, s. 193-204, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 0.893
p-ISSN: 0924-669X
e-ISSN: 1573-7497
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja ; algorytm genetyczny ; projekt ; generator obrazu kontrolnego
Słowa kluczowe angielskie: optimization ; genetic algorithm ; design ; test pattern generator
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


13/71
Nr opisu: 0000063344
Tytuł oryginału: How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
Słowa kluczowe polskie: BIST ; IBIST ; słownik diagnostyczny ; testowanie poł±czeń ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; podpis
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; IBIST ; diagnostic dictionary ; interconnection testing ; ring LFSR ; signature
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


14/71
Nr opisu: 0000058757
Tytuł oryginału: Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. Andrzeja Hławiczki. Wyd. 3 popr.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, Dariusz Kania, J. Kardaszewicz, Józef Kulisz, Adam** Morawiec.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2010
Opis fizyczny: , 268 s., bibliogr.
Uwagi: Skrypt nr 2458
Słowa kluczowe polskie: układ cyfrowy ; układ sekwencyjny ; układ kombinacyjny ; synteza układów cyfrowych ; przerzutnik
Słowa kluczowe angielskie: digital circuit ; sequential circuit ; combinational circuit ; synthesis of digital circuits ; flip-flop
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp BCP¦:


15/71
Nr opisu: 0000068979
Tytuł oryginału: Reduced-size signature-based diagnostic dictionary for interconnection testing, programmable devices and embedded systems.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2010, Pszczyna, Poland, 6-8 October 2010. Gliwice : Institute of Electronics, 2010, s. 103-108
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


16/71
Nr opisu: 0000061262
Tytuł oryginału: Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2010 R. 86 nr 11a, s. 133-137, bibliogr. 22 poz.
Impact Factor: 0.242
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; generator obrazu kontrolnego ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; sieć poł±czeń
Słowa kluczowe angielskie: linear ring register ; test pattern generator ; System on Chip ; crosstalks ; interconnection network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


17/71
Nr opisu: 0000063175
Tytuł oryginału: Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2010. Proceedings of the 17th international conference, Wrocław, Poland, 24-26 June 2010. Ed. by A. Napieralski. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2010, s. 486-491, bibliogr. 13 poz.
ISBN: 978-83-928756-3-5
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: testowanie poł±czeń ; BIST ; rejestr pier¶cieniowy LFSR ; sygnatura ; słownik diagnostyczny
Słowa kluczowe angielskie: interconnection testing ; BIST ; ring LFSR ; signature ; diagnostic dictionary
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.
Dostęp on-line:


18/71
Nr opisu: 0000062418
Tytuł oryginału: Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary
Tytuł w wersji polskiej: Testowanie uszkodzeń w poł±czeniach z wykorzystaniem sygnaturowego słownika diagnostycznego o zredukowanym rozmiarze
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 11, s. 15-18, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: słownik diagnostyczny ; testowanie poł±czeń ; liniowy rejestr pier¶cieniowy ; diagnostyka uszkodzeń ; R-LFSR
Słowa kluczowe angielskie: diagnostic dictionary ; interconnection testing ; Ring Linear Feedback Shift Register ; fault diagnosis ; R-LFSR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


19/71
Nr opisu: 0000059176
Tytuł oryginału: An Interconnect BIST for crosstalk faults based on a Ring LFSR.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, M. Kopeć.
¬ródło: W: Proceedings of IEEE East-West Design and Test Symposium. EWDTS'09, Moscow, Russia, September 18-21, 2009. Moscow : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 381-384
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


20/71
Nr opisu: 0000056440
Tytuł oryginału: Effective BIST for crosstalk faults in interconnects.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS'2009, Liberec, Czech Republic, April 15-17, 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, s. 164-169, bibliogr. 29 poz.
Słowa kluczowe polskie: interkonekt ; przesłuch ; bł±d dynamiczny ; tester wbudowany ; IBIST ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: interconnect ; crosstalk ; dynamic fault ; Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; LFSR
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


21/71
Nr opisu: 0000055003
Tytuł oryginału: Evolutionary-based artificial intelligence approach to the test pattern generator design.
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2009. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Silesian University of Technology. Faculty of Mechanical Engineering. Department of Fundamentals of Machinery Design. Department of Strength of Materials and Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2009, s. 235-246, bibliogr. 22 poz.
ISBN: 83-60759-15-4
Słowa kluczowe polskie: optymalizacja ; sztuczna inteligencja ; algorytm genetyczny ; projekt ; BIST
Słowa kluczowe angielskie: optimization ; artificial intelligence ; genetic algorithm ; design ; BIST
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


22/71
Nr opisu: 0000051797
Tytuł oryginału: On the use of Ring LFSR based BIST for detection, identification and localization of static and dynamic faults in interconnects
Tytuł w wersji polskiej: Użycie testera wbudowanego BIST wykorzystuj±cego pier¶cieniowe rejestry LFSR do detekcji, lokalizacji i identyfikacji statycznych i dynamicznych uszkodzeń w poł±czeniach
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Theor. Appl. Informat. 2009 vol. 21 no. 1, s. 23-36, bibliogr. 17 poz.
p-ISSN: 1896-5334
Słowa kluczowe polskie: testowanie poł±czeń ; BIST ; analiza sygnaturowa ; LFSR ; liniowy rejestr pier¶cieniowy ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: interconnection testing ; BIST ; signature analysis ; LFSR ; Ring Linear Feedback Shift Register ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405
Dostęp on-line:


23/71
Nr opisu: 0000059076
Tytuł oryginału: Skuteczny generator testów dla przesłuchów w poł±czeniach.
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 60-62, bibliogr. 14 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: rejestr liniowy ; przesłuchy ; BIST ; rejestr LFSR ; system jednoukładowy ; SoC ; sieć poł±czeń
Słowa kluczowe angielskie: linear register ; crosstalks ; BIST ; LFSR register ; System on Chip ; SoC ; interconnection network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


24/71
Nr opisu: 0000049583
Tytuł oryginału: Skuteczny generator testów dla przesłuchów w poł±czeniach
Autorzy: Tomasz Rudnicki, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 7, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; sieć poł±czeń ; system jednoukładowy ; przesłuchy ; metoda test-per-clock ; BIST
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; interconnection network ; System on Chip ; crosstalks ; test-per-clock method ; BIST
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


25/71
Nr opisu: 0000056505
Tytuł oryginału: Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 530-535
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


26/71
Nr opisu: 0000050838
Tytuł oryginału: Testowanie dynamicznych uszkodzeń typu przesłuchy w sieciach poł±czeń przy użyciu rejestrów pier¶cieniowych R-LFSR
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2009 vol. 55 nr 8, s. 572-574, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; liniowy rejestr pier¶cieniowy ; przesłuchy ; sieć poł±czeń ; BIST ; LFSR ; R-LFSR
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; linear ring register ; crosstalks ; interconnection network ; BIST ; LFSR ; R-LFSR
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


27/71
Nr opisu: 0000047669
Tytuł oryginału: A new approach to optimization of test pattern generator structure
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Inf. MIDEM 2008 vol. 38 nr 1, s. 26-30, bibliogr. 30 poz.
Impact Factor: 0.154
p-ISSN: 0352-9045
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


28/71
Nr opisu: 0000051249
Tytuł oryginału: Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; poł±czenie BIST ; IBIST
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


29/71
Nr opisu: 0000047708
Tytuł oryginału: Deterministic test pattern generator design.
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino, F. Novak.
¬ródło: W: Applications of evolutionary computing. EvoWorkshops 2008, Naples, Italy, March 26-28, 2008. Proceedings. Eds: M. Giacobini [et al.]. Berlin : Springer, 2008, s. 204-213
Seria: (Lecture Notes in Computer Science ; vol. 4974 0302-9743)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


30/71
Nr opisu: 0000083217
Tytuł oryginału: Evolutionary-based design of deterministic test pattern.
Tytuł w wersji polskiej: Zastosowanie algorytmów ewolucyjnych do projektowania generatorów testów deterministycznych
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Artificial intellgence. New research. Eds. Randal B. Bernstein, Wesley N. Curtis. New York : Nova Science Publishers, 2008, s. 415-428, bibliogr. 34 poz.
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


31/71
Nr opisu: 0000048018
Tytuł oryginału: Interconnect faults identification and localization using modified ring LFSRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 247-250, bibliogr. 12 poz.
Słowa kluczowe polskie: LFSR ; diagnostyka błędów ; przesłuch ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: LFSR ; fault diagnosis ; crosstalk ; fault detection
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


32/71
Nr opisu: 0000039319
Tytuł oryginału: On application of polynomial algebra for identification of dynamic faults in interconnects
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 29-41, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN: 0867-6747
Słowa kluczowe polskie: tester wbudowany ; IBIST ; uszkodzenie ; chińskie twierdzenie o resztach ; częstotliwo¶ć operacyjna
Słowa kluczowe angielskie: Interconnect Built-In Self-Test ; IBIST ; fault ; Chinese Remainder Theorem ; operating frequency
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.168


33/71
Nr opisu: 0000039320
Tytuł oryginału: On design of high speed test pattern generators based on ring LFSRs
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Kwart. Elektron. Telekom. 2008 t. 54 z. 1, s. 43-51, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0867-6747
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; LFSR
Słowa kluczowe angielskie: linear ring register ; LFSR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.168


34/71
Nr opisu: 0000047703
Tytuł oryginału: Test pattern generator design optimization based on genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Garbolino, G. Papa.
¬ródło: W: New frontiers in applied artificial intelligence. 21th International Conference on Industrial, Engineering and Other Applications of Applied Intelligent Systems. IEA/AIE 2008, Wroclaw, Poland, June 18-20, 2008. Proceedings. Eds: Ngoc Thanh Nguyen [et al.]. Berlin : Springer, 2008, s. 580-589
Seria: (Lecture Notes in Computer Science ; vol. 5027 0302-9743)
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


35/71
Nr opisu: 0000039950
Tytuł oryginału: Zastosowanie liniowych rejestrów pier¶cieniowych do testowania poł±czeń w układach FPGA
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2008 vol. 54 nr 8, s. 594-597, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; testowanie poł±czeń ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; sygnatura ; słownik diagnostyczny ; układ FPGA
Słowa kluczowe angielskie: Ring Linear Feedback Shift Register ; interconnection testing ; fault location ; damage identification ; signature ; diagnostic dictionary ; Field Programmable Gate Array
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


36/71
Nr opisu: 0000031627
Tytuł oryginału: Avoiding crosstalk influence on interconnect delay fault testing.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 149-152, bibliogr. 10 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456
Dostęp on-line:


37/71
Nr opisu: 0000031907
Tytuł oryginału: Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; uszkodzenie opóĽnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


38/71
Nr opisu: 0000039291
Tytuł oryginału: Deterministic test pattern generator design with genetic algorithm approach
Autorzy: G. Papa, Tomasz Garbolino, F. Novak, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -J. Electr. Eng. 2007 vol. 58 no. 3, s. 121-127, bibliogr. 15 poz.
p-ISSN: 1335-3632
e-ISSN: 1339-309X
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


39/71
Nr opisu: 0000039875
Tytuł oryginału: On design of ring LFSRs and MISRs.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium. EWDTS'07, Yerevan, Armenia, September 7-10, 2007. Kharkov National University of Radioelectronics. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 27-34, bibliogr. 5 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


40/71
Nr opisu: 0000040675
Tytuł oryginału: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: Patrick Girard, Andrzej Kra¶niewki, Elena Gramatova, Adam Pawlak, Tomasz Garbolino.
Adres wydawniczy: Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
Typ publikacji: RED
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456


41/71
Nr opisu: 0000040204
Tytuł oryginału: Reliable measurement of interconnect delays in presence of crosstalk-induced noise.
Autorzy: M. Kopeć, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: 12th IEEE European Test Symposium. ETS '07, Freiburg, Germany, May 20-24, 2007. Informal digest of papers. [B.m.] : [b.w.], 2007, s. 167-172
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


42/71
Nr opisu: 0000025294
Tytuł oryginału: Detection, localisation and identification of interconnection faults using MISR compactor.
Autorzy: Tomasz Garbolino, M. Kopec, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems, April 18-21, 2006. [B.m.] : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 228-229, bibliogr. 9 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


43/71
Nr opisu: 0000029027
Tytuł oryginału: Multi-signature analysis for interconnect test.
Autorzy: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2006. Proceedings of the international conference, Gdynia, Poland, 22-24 June 2006. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2006, s. 577-582, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland, Department of Marine Electronics. Gdynia Maritime University. Poland, Institute of Microelectronics and Optoelectronics. Warsaw University of Technology. Poland
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


44/71
Nr opisu: 0000021755
Tytuł oryginału: On the use of multi-signature analysis for interconnect test
Tytuł w wersji polskiej: Wykorzystanie analizy wielosygnaturowej w testowaniu poł±czeń
Autorzy: Tomasz Garbolino, M. Kopeć, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Elektronika 2006 R. 47 nr 10, s. 16-18
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


45/71
Nr opisu: 0000025287
Tytuł oryginału: Test-per-clock detection, localization and identification of interconnect faults.
Autorzy: M. Kopec, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Eleventh IEEE European Test Symposium. ETS 2006, Southampton, United Kingdom, 21-24 May 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 233-238, bibliogr. 18 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


46/71
Nr opisu: 0000021969
Tytuł oryginału: Bist built-in self test.
Autorzy: O. Novak, V. Drabek, Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Handbook of testing electronic systems. Eds: O. Novak [et al.]. [Praha] : Czech Technical University Publishing House, 2005, s. 227-299
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


47/71
Nr opisu: 0000020264
Tytuł oryginału: Can a D flip-flop based MISR compactor reliability detect interconnect faults?.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: W: Proceedings of 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. DDECS 2005, Sopron, Hungary, April 13-16, 2005. Eds: G. Takach [et al.]. Sopron : University of West Hungary, 2005, s. 2-10
Organizator: Institute of Informatics. University of West Hungary
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


48/71
Nr opisu: 0000020262
Tytuł oryginału: On design of a low-area deterministic test pattern generator by the use of genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, G. Papa, F. Novak.
¬ródło: W: The experience of designing and application of CAD. Proceedings of the VIIIth International Conference CADSM 2005, Lviv - Polyana, Ukraine, 23-26 February 2005. Lviv : Publishing House of Lviv Polytechnic National University, 2005, s. 392-393
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


49/71
Nr opisu: 0000014398
Tytuł oryginału: On detection of interconnect faults by a MISR compactor - unknown problems and new solutions
Tytuł w wersji polskiej: Wykrywanie uszkodzeń w poł±czeniach przez rejestr MISR - nieznane problemy i nowe rozwi±zania
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć.
¬ródło: -Arch. Informat. Teor. Stosow. 2005 t. 17 z. 2, s. 109-126, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN: 0867-2121
Słowa kluczowe polskie: BIST ; generator obrazu kontrolnego ; MISR
Słowa kluczowe angielskie: BIST ; test pattern generator ; MISR
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4405


50/71
Nr opisu: 0000086183
Tytuł oryginału: A new idea of test-per-clock interconnect BIST structure.
Tytuł w wersji polskiej: Nowa idea struktury wbudowanego testera do testowania poł±czeń wykorzystuj±cego metodę Test per Clock
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam* Kristof.
¬ródło: W: Proceedings of East-West Design & Test Workshop. EWDTW'04, Yalta, Ukraine, September 23-26, 2004. Kharkov : Kharkov National University of Radioelectronics, 2004, s. 23-29, bibliogr. 16 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


51/71
Nr opisu: 0000010639
Tytuł oryginału: A novel method of designing linear ring generators and compactors.
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2004, Cracow, November 18th -19th, 2004. [Gliwice] : [Instytut Elektroniki. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej], [2004], s. 208-215, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 83-908409-8-7
Organizator: Institute of Electronics. Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science. Silesian University of Technology. Gliwice [i in.]
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; rejestr pier¶cieniowy ; wewnętrzne sprzężenie zwrotne ; zewnętrzne sprzężenie zwrotne ; przerzutnik ; LUB wykluczaj±ce ; wielomian
Słowa kluczowe angielskie: linear feedback shift register ; ring register ; internal feedback ; external feedback ; flip-flop ; exclusive OR ; polynomial
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 111563


52/71
Nr opisu: 0000013844
Tytuł oryginału: Test pattern generator structure design by genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Garbolino, G. Papa, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Bioinspired optimization methods and their applications. BIOMA 2004. Proceedings of the international conference, Ljubljana, Slovenia,11-12 October 2004. Eds: Bogdan Filipic, Jurij Silc. Ljubljana : Jozef Stefan Institute, 2004, s. 115-126
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


53/71
Nr opisu: 0000012262
Tytuł oryginału: Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor
Autorzy: O. Novak, Z. Pliva, J. Nosek, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa.
¬ródło: -J. Electron. Test. 2004 vol. 20 no. 1, s. 109-122, bibliogr. 24 poz.
Impact Factor: 0.480
p-ISSN: 0923-8174
e-ISSN: 1573-0727
DOI:
Słowa kluczowe polskie: wbudowane samotestowanie ; metoda test-per-clock ; kompresja obrazu testowego
Słowa kluczowe angielskie: built-in self test ; test-per-clock method ; test pattern compression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


54/71
Nr opisu: 0000098366
Tytuł oryginału: Integration of a long pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2003, Ostrava, Czech Republik, February 11th-13th, 2003. Preprints. Ostrava : VSB - Technicka univerzita Ostrava, 2003, s. 441-446, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB - Technical University of Ostrava. Czech Republic, Institute of Electronics. Silesian Technical University. Gliwice. Poland
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


55/71
Nr opisu: 0000006309
Tytuł oryginału: Integration of a long test pattern generator composed of T-type flip-flops into a scan path.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Programmable devices and systems 2003. (PDS 2003). A proceedings volume from the 6th IFAC Workshop, Ostrava, Czech Republik, 11-13 February 2003. Ed. by: V. Srovnal, K. Vlcek. Oxford : Pergamon Press, 2003, s. 281-286, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 008 044130 0
Organizator: Department of Measurement and Control. Faculty of Electrical Engineering and Computer Science. VSB Technical University of Ostrava. Czech Republik
Słowa kluczowe polskie: generator obrazu kontrolnego ; wbudowane samotestowanie ; ¶cieżka skanowania ; skanowanie w trybie quasi ; przerzutnik bistabilny typu T
Słowa kluczowe angielskie: test pattern generator ; built-in self test ; scan path ; quasi-scan mode ; T-type flip-flop
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. B. zak. Au3 9644


56/71
Nr opisu: 0000007306
Tytuł oryginału: Efficient test pattern generators based on specific cellular automata structures
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: -Microelectron. Reliab. 2002 vol. 42 iss. 6, s. 975-983, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.593
p-ISSN: 0026-2714
e-ISSN: 1872-941X
DOI:
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


57/71
Nr opisu: 0000000038
Tytuł oryginału: Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. A. Hławiczki.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, Dariusz Kania, Jerzy* Kardaszewicz, Józef Kulisz, Adam** Morawiec.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2002
Opis fizyczny: , 274 s., bibliogr.
Uwagi: Skrypt nr 2297
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


58/71
Nr opisu: 0000012916
Tytuł oryginału: Liniowe generatory testów wykrywaj±cych uszkodzenia w samotestowalnych układach cyfrowych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2002
Opis fizyczny: , 144 s., bibliogr. 144 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Andrzej** Hławiczka
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3657
Dostęp BCP¦:


59/71
Nr opisu: 0000004859
Tytuł oryginału: Laboratorium podstaw techniki cyfrowej. Praca zbiorowa. Pod red. A. Hławiczki.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, Andrzej** Hławiczka, Dariusz Kania, Jerzy* Kardaszewicz, Józef Kulisz, Adam** Morawiec.
Adres wydawniczy: Gliwice : Wydaw. Politechniki ¦l±skiej, 2001
Opis fizyczny: , 274 s., bibliogr.
Uwagi: Skrypt nr 2261
Typ publikacji: P
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


60/71
Nr opisu: 0000091812
Tytuł oryginału: Low hardware overhead deterministic logic BIST with zero-aliasing compactor.
Autorzy: O. Novak, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, J. Nosek, Z. Pliva.
¬ródło: W: IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems - IEEE DDECS 2001. Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Gyor, Hungary, April 18-20, 2001. Eds: J. Hlavicka [et al.]. Gyor : [b.w.], 2001, s. 29-35, bibliogr. 21 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


61/71
Nr opisu: 0000000848
Tytuł oryginału: Using genetic algorithms to desing efficient built-in test pattern generators.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Norbert* Henzel, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems. PDS 2001, Gliwice, November 22nd - 23rd, 2001. Preprints. [B.m.] : [b.w.], [2001], s. 263-268, bibliogr. 19 poz.
Organizator: Institute of Electronics. Silesian University of Technology. Gliwice, Poland [i in.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 107809


62/71
Nr opisu: 0000003105
Tytuł oryginału: Deterministic TPG based on modified feedback shift register composed of D and T flip-flops.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Proceedings of the International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES '2000, Ustroń, Poland, 17-20 October 2000. [Gliwice] : [Institute of Electronics Silesian University of Technology], [2000], s. 195-200, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 106346


63/71
Nr opisu: 0000086181
Tytuł oryginału: Fast and low-area TPGs based on T-type flip-flops can be easily integrated to the scan path.
Tytuł w wersji polskiej: Generatory testów zbudowane na bazie przerzutników T, charakteryzuj±ce się duż± szybko¶ci± działania oraz mał± powierzchni±, mog± zostać w łatwy sposób zintegrowane ze ¶cieżk± steruj±co-obserwacyjn±
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka, Adam* Kristof.
¬ródło: W: IEEE European Test Workshop. ETW 2000, Cascais, Portugal, 23-26 May 2000. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000, s. 161-166, bibliogr. 8 poz.
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


64/71
Nr opisu: 0000117529
Tytuł oryginału: Initialisation of BIST circuits based on rule 60 Cellular Automata.
Tytuł w wersji polskiej: Inicjalizacja układów wbudowanego samotestowania zbudowanych na bazie rejestrów typu Cellular Automata o strukturze opisanej reguł± 60
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems (PDS 2000), Ostrava, Czech Republic, 8-9 February 2000. Oxford : Elsevier, 2000, s. 123-128, bibliogr. 9 poz.
Seria: (IFAC Proceedings Volumes ; vol. 33, iss. 1 1474-6670)
Bazy indeksuj±ce publikację: Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rejestr ; stan pocz±tkowy ; test ; generowanie testów ; testowalno¶ć ; projektowanie VLSI
Słowa kluczowe angielskie: register ; initial state ; test ; test generation ; testability ; design VLSI
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


65/71
Nr opisu: 0000002388
Tytuł oryginału: Ustawianie stanu pocz±tkowego liniowych generatorów testów zbudowanych w oparciu o przerzutniki T.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Krajowe Sympozjum Telekomunikacji'2000, Akademia Techniczno-Rolnicza, Bydgoszcz, 6-8 wrze¶nia 2000. [T.] A. Polska Akademia Nauk. Komitet Elektroniki i Telekomunikacji [i in.]. Warszawa : Instytut Telekomunikacji Politechniki Warszawskiej, 2000, s. 271-279, bibliogr. 10 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


66/71
Nr opisu: 0000008460
Tytuł oryginału: A new LFSR with D and T flip-flops as an effective test pattern generator for VLSI circuits.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Dependable computing. Third European Dependable Computing Conference, Prague, Czech Republic, September 15-17, 1999. Proceedings. Eds: J. Hlavicka, E. Maehle, A. Pataricza. Berlin : Springer, 1999, s. 321-338, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Lecture Notes in Computer Science ; vol. 1667 0302-9743)
Impact Factor: 0.872
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


67/71
Nr opisu: 0000129401
Tytuł oryginału: Synthesis and analysis of new LFSRs with D and T flip-flops, XOR and IOR gates.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: 1. Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Potsdam-Hermannswerder, vom 28. Februar bis 2. März. Red.: H. T. Vierhaus, M. Gossel. Brandenburgische TU Cottbus. Technische Informatik, Universitat Potsdam. Institut fur Informatik. Cottbus : Universitatsbibliothek. Publikationsstelle, 1999, s. 34-37, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 3-9806494-1-5
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


68/71
Nr opisu: 0000091919
Tytuł oryginału: Test pattern generator for delay faults based on LFSR with D,T flip-flops and internal inverters.
Tytuł w wersji polskiej: Generator wektorów testowych pobudzaj±cych uszkodzenia opóĽnieniowe zbudowany na bazie rejestru LFSR zawieraj±cego przerzutniki D i T oraz bramki negacji
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Design and diagnostics of electronic circuits and systems. DDECS'98. Second International Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Szczyrk, Poland, September 2-4, 1998. Proceedings. Eds: Andrzej Hławiczka, Andrzej Kra¶niewski, Dariusz Badura. Gliwice : Silesian Technical University Press, 1998, s. 153-160, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Computer Society Chapter. IEEE Poland Section [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


69/71
Nr opisu: 0000041886
Tytuł oryginału: ICs' output modification for interconnections testing purpose.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Adam* Kristof.
¬ródło: W: International Conference on Programmable Devices and Systems. PDS'96, Ostrava, Czech Republic, November 26-28, 1996. VSB Technical University Ostrava. Department of Electronics and Telecommunication. [B.m.] : [b.w.], 1996, s. 101-107, bibliogr. 14 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


70/71
Nr opisu: 0000034915
Tytuł oryginału: Wbudowane generatory testów deterministycznych dla samotestowalnych układów ASIC
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Elektronika 1996 R. 37 nr 6, s. 21-26, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


71/71
Nr opisu: 0000037044
Tytuł oryginału: Optimised synthesis of self-testable finite state machine using BIST-PAT structures in PLDs.
Autorzy: Tomasz Garbolino.
¬ródło: W: Programmable devices and systems. PDS'95. International conference, Gliwice, Poland, 9-10.11.95. Conference proceedings. [B.m.] : [b.w.], 1995, s. 51-58, bibliogr. 9 poz.
Organizator: Institute of Electronics. Silesian Technical University of Gliwice, Polish Section IEEE
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. MgCzO 103530


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie