Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
WIDMO ODBICIOWE
Liczba odnalezionych rekordów:
4
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/4
Nr opisu:
0000131351
Tytuł oryginału:
Homogeneity of sol-gel derived silica-titania waveguide films - spectroscopic and AFM studies
Autorzy:
Paweł
Karasiński
, Alina
Domanowska
, E.
Gondek
, A.
Sikora
, Cuma
Tyszkiewicz
, M.
Skolik
.
Źródło:
-
Opt. Laser Technol.
2020 vol. 121
, art. no.105840 s. 1-8, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor:
3.233
Punktacja MNiSW:
100.000
p-ISSN:
0030-3992
e-ISSN:
1879-2545
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
zol-żel
;
powłoka krzemionkowo-tytanowa
;
światłowód planarny
;
jednorodność optyczna
;
widmo odbiciowe
;
metoda macierzy przejścia
Słowa kluczowe angielskie:
sol-gel
;
silica-titania film
;
planar waveguide
;
optical homogeneity
;
reflectance spectra
;
transfer matrix method
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
2/4
Nr opisu:
0000127005
Tytuł oryginału:
Jednorodność optyczna warstw falowodowych SiO2:TiO2 wytwarzanych metodą zol-żel.
Autorzy:
Paweł
Karasiński
.
Źródło:
W:
Światłowody i ich zastosowanie
. TAL 2018. XVIII Konferencja i V Szkoła "Technologia światłowodów", Nałęczów, 20-23.11.2018. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018
, pamięć USB (PenDrive) s. 1, bibliogr. 3 poz.
Organizator:
Pracownia Technologii Światłowodów Uniwersytetu Marii Curie-Skłodowskiej, Instytut Elektroniki i Technik Informacyjnych Politechniki Lubelskiej
Słowa kluczowe polskie:
warstwa cienka
;
współczynnik załamania
;
jednorodność optyczna
;
widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie:
thin layer
;
refractive index
;
optical homogeneity
;
reflectance spectra
Typ publikacji:
K
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
3/4
Nr opisu:
0000124790
Tytuł oryginału:
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych
Tytuł w wersji angielskiej:
Method of refractive indices determination on the films interfaces based on reflectances envelopes
Autorzy:
Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Marcin
Skolik
, T.
Błaszczyk
.
Źródło:
-
Prz. Elektrot.
2018 R. 94 nr 8
, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW:
14.000
p-ISSN:
0033-2097
e-ISSN:
2449-9544
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
spektrofotometria
;
współczynnik załamania
;
warstwa dielektryczna
;
warstwa cienka
;
widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie:
spectrophotometry
;
refractive index
;
dielectric layer
;
thin film
;
reflectance spectra
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła:
PŚl. sygn. P.677
Informacje o dostępie open-access:
open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:
4/4
Nr opisu:
0000125130
Tytuł oryginału:
Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
Autorzy:
Paweł
Karasiński
, Cuma
Tyszkiewicz
, Marcin
Skolik
, T.
Błaszczyk
.
Źródło:
W:
XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018
. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018
, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7
Organizator:
Akademia Morska w Gdyni
Słowa kluczowe polskie:
spektrofotometria
;
współczynnik załamania
;
warstwa dielektryczna
;
warstwa cienka
;
widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie:
spectrophotometry
;
refractive index
;
dielectric layer
;
thin film
;
reflectance spectra
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie