Wynik wyszukiwania
Zapytanie: UNIWERSALNY SYSTEM TESTOWANIA
Liczba odnalezionych rekordów: 1



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/1
Nr opisu: 0000059075
Tytuł oryginału: Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne.
Autorzy: Jan* Mocha, Zbigniew* Łaskarzewski.
Źródło: W: Informatyka - sztuka czy rzemiosło. KNWS'09, Rydzyna, 3-5 czerwca 2009. Materiały 6. konferencji naukowej. Preprint. Zielona Góra : Instytut Informatyki i Elektroniki. Wydział Elektrotechniki, Informatyki i Telekomunikacji. Uniwersytet Zielonogórski, 2009, s. 57-59, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Uniwersytet Zielonogórski. Instytut Informatyki i Elektroniki, Polskie Towarzystwo Informatyczne. Oddział Wielkopolski
Słowa kluczowe polskie: uniwersalny system testowania ; testowanie ; ATE ; matryca wieloigłowa ; testowanie funkcjonalne ; SCPI ; wtyczka
Słowa kluczowe angielskie: universal testing system ; testing ; ATE ; bed of nails ; functional testing ; SCPI ; plug-in
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie