Wynik wyszukiwania
Zapytanie: TESTOWALNOŚĆ
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000039010
Tytuł oryginału: Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
Źródło: -IEEE Trans. Circuits Syst., II 2007 vol. 54 iss. 2, s. 117-121, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 1.104
p-ISSN: 1549-7747
e-ISSN: 1558-3791
Słowa kluczowe polskie: układ antenowy ; analogowy system testowania ; testowalność ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; analog system testing ; design for testability ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000117529
Tytuł oryginału: Initialisation of BIST circuits based on rule 60 Cellular Automata.
Tytuł w wersji polskiej: Inicjalizacja układów wbudowanego samotestowania zbudowanych na bazie rejestrów typu Cellular Automata o strukturze opisanej regułą 60
Autorzy: Tomasz Garbolino, Andrzej** Hławiczka.
Źródło: W: IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems (PDS 2000), Ostrava, Czech Republic, 8-9 February 2000. Oxford : Elsevier, 2000, s. 123-128, bibliogr. 9 poz.
Seria: (IFAC Proceedings Volumes ; vol. 33, iss. 1 1474-6670)
Bazy indeksujące publikację: Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: rejestr ; stan początkowy ; test ; generowanie testów ; testowalność ; projektowanie VLSI
Słowa kluczowe angielskie: register ; initial state ; test ; test generation ; testability ; design VLSI
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie