Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PARAMETRY RESZTKOWE
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000065688
Tytuł oryginału: Wpływ parametrów resztkowych komparatora impedancji na wyniki komparacji wzorców indukcyjności własnej
Autorzy: Krzysztof Musioł, Grzegorz* Popek, Tadeusz** Skubis.
Źródło: -Pr. Nauk. PŚl., Elektr. 2010 R. 56 z. 2 (214), s. 45-59, bibliogr. 10 poz.
p-ISSN: 1897-8827
Słowa kluczowe polskie: parametry resztkowe ; komparator impedancji ; wzorzec indukcyjności własnej
Słowa kluczowe angielskie: residual parameters ; impedance comparator bridge ; self-inductance standard
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. P.3348
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000013256
Tytuł oryginału: Minimalizacja parametrów resztkowych multipleksera wzorców indukcyjności.
Tytuł w wersji angielskiej: Minimisation of parasite parameters of specially controlled switch for maintenance of inductance standards
Autorzy: Andrzej** Met, Krzysztof Musioł.
Źródło: W: Podstawowe problemy metrologii. PPM'05. [Materiały konferencji naukowo-technicznej], Ustroń, 8-11 maj 2005. [Gliwice] : Komisja Metrologii Oddziału PAN w Katowicach, 2005, s. 169-176, bibliogr. 8 poz.
Organizator: Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechniki Śląskiej, Stowarzyszenie Elektryków Polskich. Oddział Gliwicki
Seria: (Prace Komisji Metrologii Oddziału PAN w Katowicach ; Seria: Konferencje ; nr 8)
Słowa kluczowe polskie: parametry resztkowe ; multiplekser ; indukcyjność
Słowa kluczowe angielskie: residual parameters ; multiplexer ; inductance
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła: PŚl. sygn. Cz.01 112691


stosując format:
Nowe wyszukiwanie