Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
MIKROSKOPIA AFM
Liczba odnalezionych rekordów:
10
Przej¶cie do opcji zmiany formatu
|
Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/10
Nr opisu:
0000090831
Tytuł oryginału:
Study of thin films for application in photovoltaic cells
Autorzy:
Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, M.
Domański
, Magdalena
Szindler
.
¬ródło:
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2013 vol. 64 nr 2
, s. 182-191, bibliogr. 14 poz.
Punktacja MNiSW:
13.000
p-ISSN:
1897-2764
Słowa kluczowe polskie:
MePc:PTCDA
;
morfologia warstw cienkich
;
mikroskopia AFM
;
PVD
;
absorbancja
Słowa kluczowe angielskie:
MePc:PTCDA
;
thin film morphology
;
AFM microscopy
;
PVD
;
absorbance
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access:
open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:
2/10
Nr opisu:
0000072078
Tytuł oryginału:
Badanie morfologii i własno¶ci fizycznych cienkich warstw poliazometin. Rozprawa doktorska.
Autorzy:
Barbara*
Hajduk
.
Miejsce i rok obrony:
Gliwice, 2012
Opis fizyczny:
, 110 k., bibliogr. 117 poz. + zał.: 75 k. tabl.
Uczelnia i wydział:
Politechnika ¦l±ska. Wydział Mechaniczny Technologiczny.
Promotor:
dr hab. Jan** Weszka
Słowa kluczowe polskie:
polimer skoniugowany
;
spektroskopia UV-Vis
;
FTIR
;
mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie:
conjugated polymer
;
UV-Vis spectroscopy
;
FTIR
;
AFM microscopy
Typ publikacji:
D
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. Cz.Ab. R-4835 + CD
3/10
Nr opisu:
0000082431
Tytuł oryginału:
Investigations of morphology and optical properties of thin films of TiOPc/PTCDA donor acceptor couple
Autorzy:
Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, B.
Hajduk
, M.
Chwastek-Ogierman
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 55 iss. 2
, s. 396-402, bibliogr. 13 poz.
Punktacja MNiSW:
8.000
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie:
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:
4/10
Nr opisu:
0000082859
Tytuł oryginału:
Researches of topography and optical properties of the thin films NiPc/PTCDA donor acceptor couple
Autorzy:
Jan**
Weszka
, Paweł
Jarka
, M.
Chwastek-Ogierman
, B.
Hajduk
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2012 vol. 53 iss. 2
, s. 81-88, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW:
8.000
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
organiczna warstwa cienka
;
parowanie
;
system donorowo-akceptorowy
;
ftalocyjanina
;
PTCDA
;
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie:
organic thin film
;
evaporation
;
donor-acceptor system
;
phthalocyanine
;
PTCDA
;
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.4671
Dostęp on-line:
5/10
Nr opisu:
0000067008
Tytuł oryginału:
Influence of technological conditions on optical properties and morphology of spin-coated PPI thin films
Autorzy:
Małgorzata*
Chwastek
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
.
¬ródło:
-
Arch. Mater. Sci. Eng.
2011 vol. 48 nr 2
, s. 69-76, bibliogr. 23 poz.
Punktacja MNiSW:
9.000
p-ISSN:
1897-2764
Słowa kluczowe polskie:
spin-powłoka
;
spektroskopia UV-Vis
;
spektroskopia IR
;
mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie:
spin-coating
;
UV-Vis spectroscopy
;
IR spectroscopy
;
AFM microscopy
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.4182
Dostęp on-line:
6/10
Nr opisu:
0000057448
Tytuł oryginału:
Badania struktury, morfologii powierzchni oraz wła¶ciwo¶ci sensorowych cienkich warstw SnO
2
Autorzy:
Weronika
Izydorczyk
, M.
Pisarek
, Jerzy**
Żak
.
¬ródło:
-
Elektronika
2010 R. 51 nr 6
, s. 50-53, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN:
0033-2089
Słowa kluczowe polskie:
morfologia powierzchni
;
dyfraktometria rentgenowska
;
mikroskopowa siła atomowa
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia elektronów Augera
;
adsorpcja tlenu
Słowa kluczowe angielskie:
surface morphology
;
X-ray diffraction
;
atomic force microscope
;
AFM microscopy
;
Auger electron spectroscopy
;
oxygen adsorption
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:
7/10
Nr opisu:
0000057804
Tytuł oryginału:
Comparing of optical properties and morphology of polyoxadiazoles with CF
3
groups
Autorzy:
Barbara*
Hajduk
, Paweł
Jarka
, Jan**
Weszka
, M.
Bruma
, J.
Jurusik
, Małgorzata*
Chwastek
, D.
Mańkowski
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2010 vol. 40 iss. 1
, s. 7-14, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
spektroskopia IR
;
metoda spin-coating
;
polimer organiczny
Słowa kluczowe angielskie:
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
IR spectroscopy
;
spin-coating method
;
organic polymer
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l.
Dostęp on-line:
8/10
Nr opisu:
0000050227
Tytuł oryginału:
Influence of LCVD technological parameters on properties of polyazomethine thin films
Autorzy:
Barbara*
Hajduk
, Jan**
Weszka
, J.
Jurusik
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 36 iss. 1
, s. 41-48, bibliogr. 19 poz.
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
spektroskopia UV-Vis
;
mikroskopia AFM
;
chemiczne osadzanie z fazy gazowej
;
CVD
;
LCVD
;
polimer skoniugowany
Słowa kluczowe angielskie:
UV-Vis spectroscopy
;
AFM microscopy
;
chemical vapour deposition
;
CVD
;
LCVD
;
conjugated polymer
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l.
Dostęp on-line:
9/10
Nr opisu:
0000056347
Tytuł oryginału:
Predicting properties of PVD and CVD coatings based on fractal quantities describing their surface
Autorzy:
Waldemar
Kwa¶ny
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 125-192, bibliogr. 156 poz.
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
powłoka cienka
;
powłoka gruba
;
powłoka PVD
;
powłoka CVD
;
analiza obrazu
;
analiza fraktalna
;
analiza rentgenowska
;
mikroskopia AFM
Słowa kluczowe angielskie:
thin coating
;
thick coating
;
PVD coating
;
CVD coating
;
image analysis
;
fractal analysis
;
X-ray analysis
;
AFM microscopy
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
10/10
Nr opisu:
0000056361
Tytuł oryginału:
Studying of spin-coated oxad-Si properties
Autorzy:
Jan**
Weszka
, Leszek**
Dobrzański
, Paweł
Jarka
, J.
Jurusik
, Barbara*
Hajduk
, M.
Bruma
, Jarosław
Konieczny
, D.
Mańkowski
.
¬ródło:
-
J. Achiev. Mater. Manuf. Eng.
2009 vol. 37 iss. 2
, s. 505-511, bibliogr. 13 poz.
p-ISSN:
1734-8412
Słowa kluczowe polskie:
warstwa cienka
;
morfologia
;
mikroskopia AFM
;
metoda spin-coating
;
absorbancja
;
oxad-Si
Słowa kluczowe angielskie:
thin film
;
morphology
;
AFM microscopy
;
spin-coating method
;
absorbance
;
oxad-Si
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
stosuj±c format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie