Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
METODA TEST-PER-CLOCK
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000049583
Tytuł oryginału:
Skuteczny generator testów dla przesłuchów w połączeniach
Autorzy:
Tomasz
Rudnicki
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
Źródło:
-
Pomiary Autom. Kontr.
2009 vol. 55 nr 7
, s. 432-434, bibliogr. 14 poz.
p-ISSN:
0032-4140
Słowa kluczowe polskie:
LFSR
;
sieć połączeń
;
system jednoukładowy
;
przesłuchy
;
metoda test-per-clock
;
BIST
Słowa kluczowe angielskie:
LFSR
;
interconnection network
;
System on Chip
;
crosstalks
;
test-per-clock method
;
BIST
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Lokalizacja Źródła:
PŚl. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access:
open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:
2/3
Nr opisu:
0000031907
Tytuł oryginału:
Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy:
Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, M.
Kopeć
, Andrzej**
Hławiczka
.
Źródło:
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [Łódź] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007
, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator:
Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie:
test połączeń
;
uszkodzenie opóźnieniowe
;
przesłuch
;
lokalizacja uszkodzeń
;
identyfikacja uszkodzeń
;
metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie:
interconnect test
;
delay fault
;
crosstalk
;
fault location
;
fault identification
;
test-per-clock method
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
3/3
Nr opisu:
0000012262
Tytuł oryginału:
Test-per-clock logic BIST with semi-deterministic test patterns and zero-aliasing compactor
Autorzy:
O.
Novak
, Z.
Pliva
, J.
Nosek
, Andrzej**
Hławiczka
, Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
.
Źródło:
-
J. Electron. Test.
2004 vol. 20 no. 1
, s. 109-122, bibliogr. 24 poz.
Impact Factor:
0.480
p-ISSN:
0923-8174
e-ISSN:
1573-0727
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
wbudowane samotestowanie
;
metoda test-per-clock
;
kompresja obrazu testowego
Słowa kluczowe angielskie:
built-in self test
;
test-per-clock method
;
test pattern compression
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie