Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
PHOTOEMISSION
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000104508
Tytuł oryginału:
Ambience-related adsorbates on CuPc surface - photoemission and thermal desorption spectroscopy studies for control of organic electronics degradation processes
Autorzy:
Lucyna
Grządziel
, Maciej
Krzywiecki
.
Źródło:
-
Synth. Met.
2015 vol. 210 pt. B
, s. 141-147, bibliogr. 53 poz.
Impact Factor:
2.299
Punktacja MNiSW:
30.000
p-ISSN:
0379-6779
e-ISSN:
1879-3290
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
elektronika organiczna
;
ftalocyjanina
;
proces degradacji
;
właściwości powierzchniowe
;
fotoemisja
;
desorpcja termiczna
Słowa kluczowe angielskie:
organic electronics
;
phthalocyanine
;
degradation process
;
surface properties
;
photoemission
;
thermal desorption
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
2/3
Nr opisu:
0000123726
Tytuł oryginału:
On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy:
Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
Źródło:
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Uwagi:
Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002
Impact Factor:
1.598
p-ISSN:
0040-6090
e-ISSN:
1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie:
ftalocyjanina miedzi
;
cienka powłoka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie:
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
3/3
Nr opisu:
0000011696
Tytuł oryginału:
On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy:
Lucyna
Grządziel
, Jerzy**
Żak
, Jacek**
Szuber
.
Źródło:
-
Thin Solid Films
2003 vol. 436 iss. 1
, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Impact Factor:
1.598
p-ISSN:
0040-6090
e-ISSN:
1879-2731
Słowa kluczowe polskie:
ftalocyjanina miedzi
;
warstwa cienka
;
fotoemisja
;
mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie:
copper phthalocyanine
;
thin film
;
photoemission
;
atomic force microscope
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie