Wynik wyszukiwania
Zapytanie: PHOTOEMISSION
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000104508
Tytuł oryginału: Ambience-related adsorbates on CuPc surface - photoemission and thermal desorption spectroscopy studies for control of organic electronics degradation processes
Autorzy: Lucyna Grządziel, Maciej Krzywiecki.
Źródło: -Synth. Met. 2015 vol. 210 pt. B, s. 141-147, bibliogr. 53 poz.
Impact Factor: 2.299
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0379-6779
e-ISSN: 1879-3290
DOI:
Słowa kluczowe polskie: elektronika organiczna ; ftalocyjanina ; proces degradacji ; właściwości powierzchniowe ; fotoemisja ; desorpcja termiczna
Słowa kluczowe angielskie: organic electronics ; phthalocyanine ; degradation process ; surface properties ; photoemission ; thermal desorption
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/3
Nr opisu: 0000123726
Tytuł oryginału: On the correlation between morphology and electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek** Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Uwagi: Referat wygłoszony na: 3rd International Seminar on Semiconductor Gas Sensors. SGS'2002, Ustroń, Poland, 19-22 September 2002
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; cienka powłoka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/3
Nr opisu: 0000011696
Tytuł oryginału: On the correlation between the morphology and the electronic properties of copper phthalocyanine (CuPc) thin films
Autorzy: Lucyna Grządziel, Jerzy** Żak, Jacek** Szuber.
Źródło: -Thin Solid Films 2003 vol. 436 iss. 1, s. 70-75, bibliogr. 23 poz.
Impact Factor: 1.598
p-ISSN: 0040-6090
e-ISSN: 1879-2731
Słowa kluczowe polskie: ftalocyjanina miedzi ; warstwa cienka ; fotoemisja ; mikroskop sił atomowych
Słowa kluczowe angielskie: copper phthalocyanine ; thin film ; photoemission ; atomic force microscope
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie