Nr opisu: | 0000127014 |
Tytuł oryginału: | Trilateral comparison of a planar thin-film thermal AC voltage standard in frequency range 1 MHz - 30 MHz. |
Autorzy: | Marian Kampik, Michał Grzenik, T. Lippert, K.-E. Rydler, V. Tarasso. |
¬ródło: | W: 2018 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2018), Paris, France, July 8-13, 2018. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2018, s. 1-2, bibliogr. 7 poz. |
ISBN: | 978-1-5386-2130-1978-1-5386-0974-3 |
Punktacja MNiSW: | 15.000 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,2 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | INSPEC; IEEE Xplore; Web of Science; Scopus |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | wzorzec miary ; przetwornik termiczny ; transfer AC-DC ; różnica transferowa AC-DC ; porównanie kluczowe |
Słowa kluczowe angielskie: | measurement standard ; thermal converter ; AC-DC transfer ; AC-DC transfer difference ; key comparison |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000097820 |
Tytuł oryginału: | Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge. |
Autorzy: | L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran. |
¬ródło: | W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz. |
ISBN: | 978-1-4799-2480-6 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Scopus; INSPEC; IEEE Xplore |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary |
Słowa kluczowe angielskie: | metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |