Nr opisu: | 0000051249 |
Tytuł oryginału: | Application of modified ring LFSRs for interconnect faults detection. |
Autorzy: | Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino, M. Kopeć. |
Źródło: | W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. Łódź : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź, 2008, s. 487-492, bibliogr. 16 poz. |
ISBN: | 83-922632-7-8 |
Organizator: | Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of Łódź. Poland [et al.] |
Słowa kluczowe polskie: | test połączeń ; wbudowane samotestowanie ; BIST ; połączenie BIST ; IBIST |
Słowa kluczowe angielskie: | interconnect test ; built-in self test ; BIST ; interconnect BIST ; IBIST |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w PŚl. |
Dostęp on-line: | |