Wynik wyszukiwania
Zapytanie: FAULT LOCATION
Liczba odnalezionych rekordów: 12



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/12
Nr opisu: 0000083609
Tytuł oryginału: Deployment of system of detection and localization of leakages water supply network of PWiK Rybnik.
Autorzy: Wojciech Moczulski, Krzysztof Ciupke, Daniel Paj±k, Piotr Przystałka, Piotr* Tomasik, Dominik Wachla, Ryszard Wyczółkowski.
¬ródło: W: XII International Technical Systems Degradation Conference. TSD International Conference, Liptovsky Mikulas, 3-6 April 2013. Ed. J. M±czak. Faculty of Automotive and Construction Machinery Engineering. Warsaw University of Technology [et al.]. Warszawa : Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne, 2013, s. 51-54, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 978-83-93044-4-8
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,35
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka wsparta modelowo ; model przybliżony ; wykrywanie nieszczelno¶ci ; system diagnostyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; fault location ; model-based diagnostics ; approximate model ; leak detection ; diagnostic system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 146523


2/12
Nr opisu: 0000084022
Tytuł oryginału: Analiza możliwo¶ci i zakresu stosowania metody reflektometrycznej lokalizacji uszkodzeń w kopalnianych sieciach SN.
Autorzy: Adam Heyduk, Joachim Pielot.
¬ródło: W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 paĽdziernika 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki ¦l±skiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki ¦l±skiej, 2012, s. 293-303, bibliogr. 6 poz.
ISBN: 978-83-61553-32-8
Słowa kluczowe polskie: sieć kopalniana ; lokalizacja uszkodzeń ; reflektometria
Słowa kluczowe angielskie: mine network ; fault location ; reflectometry
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


3/12
Nr opisu: 0000098085
Tytuł oryginału: Lokalizacja uszkodzeń kabli i przewodów oponowych w strefach zagrożonych wybuchem.
Autorzy: A. Kozłowski, M. Kryca, J. Chudorliński, Sergiusz Boron, M. Górny, M. Mistarz.
¬ródło: W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 paĽdziernika 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki ¦l±skiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki ¦l±skiej, 2012, s. 305-313
ISBN: 978-83-61553-32-8
Słowa kluczowe polskie: kabel elektroenergetyczny ; przewód oponowy ; lokalizacja uszkodzeń ; zagrożenie wybuchem ; aparatura pomiarowa
Słowa kluczowe angielskie: power cable ; flexible power cable ; fault location ; explosion hazard ; measuring apparatus
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


4/12
Nr opisu: 0000083916
Tytuł oryginału: Przegl±d górniczych kabli i przewodów oponowych z punktu widzenia możliwo¶ci lokalizacji uszkodzeń.
Autorzy: Sergiusz Boron.
¬ródło: W: XIV Krajowa Konferencja Elektryki Górniczej, Zakopane, 10-12 paĽdziernika 2012 r. Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa. Wydział Górnictwa i Geologii Politechniki ¦l±skiej w Gliwicach [i in.]. Gliwice : Katedra Elektryfikacji i Automatyzacji Górnictwa Politechniki ¦l±skiej, 2012, s. 223-234, bibliogr. 6 poz.
ISBN: 978-83-61553-32-8
Słowa kluczowe polskie: przewód oponowy ; kabel ; lokalizacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: flexible power cable ; cable ; fault location
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/12
Nr opisu: 0000072427
Tytuł oryginału: Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analog circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/12
Nr opisu: 0000082617
Tytuł oryginału: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 236
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; elektronika analogowa ; algorytm genetyczny ; tolerancja elementów ; uszkodzenie katastroficzne ; lokalizacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue electronics ; genetic algorithm ; components tolerance ; catastrophic fault ; fault location
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


7/12
Nr opisu: 0000072423
Tytuł oryginału: Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: 2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka uszkodzeń ; układ analogowy ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; uszkodzenie pojedyncze ; uszkodzenie katastroficzne ; redukcja czasu testowania ; tolerancja elementów ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault diagnosis ; analogue circuit ; fault detection ; fault location ; single fault ; catastrophic fault ; test time reduction ; components tolerance ; genetic algorithm
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


8/12
Nr opisu: 0000049105
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analog electronic circuits.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2008, Malta, 31st August - 3rd September 2008. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 242-246, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 978-1-4244-2181-7978-1-4244-2182-4
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; obwód elektroniczny ; diagnostyka uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; ekstrakcja cech ; pomiar czasu ; ocena efektywno¶ci
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; electronic circuit ; fault diagnosis ; fault location ; feature extraction ; time measurement ; performance evaluation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/12
Nr opisu: 0000084725
Tytuł oryginału: Specialised excitation and wavelet feature extraction in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Tytuł w wersji polskiej: Specjalizowane pobudzenie i falkowa ekstrakcja cech w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2008. Proceedings of the 15th international conference, Poznań, Poland, 19-21 June, 2008. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2008, s. 511-516, bibliogr. 10 poz.
ISBN: 83-922632-7-8
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; słownik uszkodzeń ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny ; elektronika analogowa
Słowa kluczowe angielskie: fault location ; fault diagnosis ; fault dictionary ; wavelet transform ; genetic algorithm ; analogue electronics
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


10/12
Nr opisu: 0000039950
Tytuł oryginału: Zastosowanie liniowych rejestrów pier¶cieniowych do testowania poł±czeń w układach FPGA
Autorzy: Andrzej** Hławiczka, Krzysztof* Gucwa, Tomasz Garbolino.
¬ródło: -Pomiary Autom. Kontr. 2008 vol. 54 nr 8, s. 594-597, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0032-4140
Słowa kluczowe polskie: liniowy rejestr pier¶cieniowy ; testowanie poł±czeń ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; sygnatura ; słownik diagnostyczny ; układ FPGA
Słowa kluczowe angielskie: Ring Linear Feedback Shift Register ; interconnection testing ; fault location ; damage identification ; signature ; diagnostic dictionary ; Field Programmable Gate Array
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.661
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


11/12
Nr opisu: 0000031907
Tytuł oryginału: Crosstalk-insensitive method for testing of delay faults in interconnects between cores in SoCs.
Autorzy: Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, M. Kopeć, Andrzej** Hławiczka.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2007. Proceedings of the 14th international conference, Ciechocinek, Poland, 21-23 June 2007. Ed. by A. Napieralski. [ŁódĽ] : [Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych], 2007, s. 496-500, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Słowa kluczowe polskie: test poł±czeń ; uszkodzenie opóĽnieniowe ; przesłuch ; lokalizacja uszkodzeń ; identyfikacja uszkodzeń ; metoda test-per-clock
Słowa kluczowe angielskie: interconnect test ; delay fault ; crosstalk ; fault location ; fault identification ; test-per-clock method
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


12/12
Nr opisu: 0000031567
Tytuł oryginału: Finding of optimal excitation signal for testing of analog electric circuits
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2007 vol. 55 no. 3, s. 273-280, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; diagnostyka uszkodzeń ; analogowy układ elektroniczny ; transformata falkowa ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; fault location ; fault diagnosis ; analog electronic circuit ; wavelet transform ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie