Wynik wyszukiwania
Zapytanie: DIELECTRIC LAYER
Liczba odnalezionych rekordów: 5



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/5
Nr opisu: 0000130054
Tytuł oryginału: Warstwy dielektryczne wytwarzane metod± zol-żel i technik± dip-coating do zastosowań w optoelektronice.
Autorzy: Paweł Karasiński.
¬ródło: W: XVIII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 02-06.06.2019. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2019, pamięć USB (PenDrive) s. 285-290, bibliogr. 13 poz.
Organizator: Uniwersytet Morski w Gdyni
Słowa kluczowe polskie: zol-żel ; warstwa dielektryczna ; optyka zintegrowana ; ¶wiatłowód planarny ; czujnik ¶wiatłowodowy ; spektroskopia pola zanikaj±cego ; ditlenek krzemu ; ditlenek tytanu ; pokrycie antyrefleksyjne ; zwierciadło dielektryczne
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel ; dielectric layer ; integrated optics ; planar waveguide ; evanescent field spectroscopy ; silicon dioxide ; titanium dioxide ; antireflective coating ; dielectric mirror
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


2/5
Nr opisu: 0000131066
Tytuł oryginału: Warstwy dielektryczne wytwarzane metod± zol-żel i technik± dip-coating do zastosowań w optoelektronice
Tytuł w wersji angielskiej: Dielectric layers fabricated via sol-gel method and dip-coating technique for applications in optoelectronics
Autorzy: Paweł Karasiński.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2019 R. 95 nr 9, s. 161-164, bibliogr. 20 poz.
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0033-2097
e-ISSN: 2449-9544
DOI:
Słowa kluczowe polskie: zol-żel ; warstwa dielektryczna ; optyka zintegrowana ; ¶wiatłowód planarny
Słowa kluczowe angielskie: sol-gel ; dielectric layer ; integrated optics ; optical planar waveguide
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


3/5
Nr opisu: 0000124790
Tytuł oryginału: Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych
Tytuł w wersji angielskiej: Method of refractive indices determination on the films interfaces based on reflectances envelopes
Autorzy: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2018 R. 94 nr 8, s. 51-54, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 14.000
p-ISSN: 0033-2097
e-ISSN: 2449-9544
DOI:
Słowa kluczowe polskie: spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie: spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


4/5
Nr opisu: 0000125130
Tytuł oryginału: Metoda wyznaczania współczynników załamania na powierzchniach granicznych warstw dielektrycznych z obwiedni charakterystyk odbiciowych.
Autorzy: Paweł Karasiński, Cuma Tyszkiewicz, Marcin Skolik, T. Błaszczyk.
¬ródło: W: XVII Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 03-07.06.2018. Program konferencji. [Dokument elektroniczny]. [B.m.] : [b.w.], 2018, pamięć USB (PenDrive) s. 1-7
Organizator: Akademia Morska w Gdyni
Słowa kluczowe polskie: spektrofotometria ; współczynnik załamania ; warstwa dielektryczna ; warstwa cienka ; widmo odbiciowe
Słowa kluczowe angielskie: spectrophotometry ; refractive index ; dielectric layer ; thin film ; reflectance spectra
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


5/5
Nr opisu: 0000052100
Tytuł oryginału: Wpływ warunków nanoszenia szkliw krzemowych na jako¶ć uzyskanej powierzchni
Autorzy: Edyta Wróbel, Krzysztof** Waczyński.
¬ródło: -Elektronika 2009 R. 50 nr 10, s. 21-23, bibliogr. 4 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: metoda spin-on ; warstwa dielektryczna
Słowa kluczowe angielskie: spin-on method ; dielectric layer
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie