Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
CATASTROPHIC FAULT
Liczba odnalezionych rekordów:
6
Przej¶cie do opcji zmiany formatu
|
Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu:
0000068427
Tytuł oryginału:
Czwórnikowa metoda testowania 4-tBT analogowych układów elektronicznych
Tytuł w wersji angielskiej:
Four terminal method 4-tBT of analog electronic circuit
Autorzy:
Piotr*
Kyzioł
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
-
Prz. Elektrot.
2011 R. 87 nr 10
, s. 76-79, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor:
0.244
Punktacja MNiSW:
15.000
p-ISSN:
0033-2097
Słowa kluczowe polskie:
czwórnikowa metoda testowania
;
4-tBT
;
uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie:
4-terminal based test
;
4-tBT
;
catastrophic fault
Typ publikacji:
A
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła:
P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:
2/6
Nr opisu:
0000082608
Tytuł oryginału:
Czwórnikowa metoda testowania N-tBT analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Piotr*
Kyzioł
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 229
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi:
Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie:
czwórnikowa metoda testowania
;
N-tBT
;
uszkodzenie katastroficzne
Słowa kluczowe angielskie:
4-terminal based test
;
N-tBT
;
catastrophic fault
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
3/6
Nr opisu:
0000072427
Tytuł oryginału:
Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind. Design for testability with analysis of influence of components tolerance.
Autorzy:
Łukasz
Chruszczyk
.
¬ródło:
W:
Mixed design of integrated circuits and systems
. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011
, dysk optyczny (CD-ROM) s. 496-501, bibliogr. 18 poz.
Organizator:
Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie:
diagnostyka uszkodzeń
;
układ analogowy
;
wykrywanie uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
uszkodzenie pojedyncze
;
uszkodzenie katastroficzne
;
redukcja czasu testowania
;
tolerancja elementów
;
algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie:
fault diagnosis
;
analog circuit
;
fault detection
;
fault location
;
single fault
;
catastrophic fault
;
test time reduction
;
components tolerance
;
genetic algorithm
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
4/6
Nr opisu:
0000082617
Tytuł oryginału:
Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych.
Autorzy:
Łukasz
Chruszczyk
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]
. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011
, s. 236
Organizator:
Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi:
Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie:
diagnostyka uszkodzeń
;
elektronika analogowa
;
algorytm genetyczny
;
tolerancja elementów
;
uszkodzenie katastroficzne
;
lokalizacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie:
fault diagnosis
;
analogue electronics
;
genetic algorithm
;
components tolerance
;
catastrophic fault
;
fault location
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
POL
Zasieg terytorialny:
K
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
5/6
Nr opisu:
0000072423
Tytuł oryginału:
Tolerance maximisation in fault diagnosis of analogue electronic circuits.
Autorzy:
Łukasz
Chruszczyk
.
¬ródło:
W:
2011 20th European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD), Linkoping, Sweden, 29-31 August 2011
. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011
, s. 881-884, bibliogr. 15 poz.
Słowa kluczowe polskie:
diagnostyka uszkodzeń
;
układ analogowy
;
detekcja uszkodzeń
;
lokalizacja uszkodzeń
;
uszkodzenie pojedyncze
;
uszkodzenie katastroficzne
;
redukcja czasu testowania
;
tolerancja elementów
;
algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie:
fault diagnosis
;
analogue circuit
;
fault detection
;
fault location
;
single fault
;
catastrophic fault
;
test time reduction
;
components tolerance
;
genetic algorithm
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
6/6
Nr opisu:
0000056512
Tytuł oryginału:
Multidimensional search space for catastrophic faults diagnosis in analog electronic circuits.
Autorzy:
Piotr*
Kyzioł
, Damian
Grzechca
, Jerzy**
Rutkowski
.
¬ródło:
W:
European Conference on Circuit Theory and Design
. ECCTD 2009, Antalya, Turkey, 23-27 August 2009. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009
, s. 555-558, bibliogr. 6 poz.
Organizator:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Słowa kluczowe polskie:
bł±d katastrofalny
;
algorytm roju cz±stek
;
przestrzeń wielowymiarowa
;
tester
Słowa kluczowe angielskie:
catastrophic fault
;
particle swarm algorithm
;
multidimensional space
;
tester
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:
stosuj±c format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie