Nr opisu: | 0000136890 |
Tytuł oryginału: | Error sources in electronic fully-digital impedance bridges. |
Autorzy: | M. Ortolano, M. Marzano, V. D'Elia, N. T. M. Tran, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, Krzysztof Musioł, A. Christensen, A. Pokatilov, L. Callegaro, J. Kucera, O. Power. |
¬ródło: | W: 2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM). Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-2, bibliogr. 2 poz. |
ISBN: | 978-1-7281-5899-0978-1-7281-5898-3 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,3 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | IEEE Xplore; Scopus |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | pomiar impedancji ; układ mostkowy ; bł±d pomiaru ; niepewno¶ć pomiaru ; kalibracja |
Słowa kluczowe angielskie: | impedance measurement ; bridge circuit ; measurement uncertainty ; calibration |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |
Nr opisu: | 0000097820 |
Tytuł oryginału: | Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge. |
Autorzy: | L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran. |
¬ródło: | W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz. |
ISBN: | 978-1-4799-2480-6 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,25 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Scopus; INSPEC; IEEE Xplore |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary |
Słowa kluczowe angielskie: | metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |