Wynik wyszukiwania
Zapytanie:
PROCEEDINGS OF THE 13TH IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC
Liczba odnalezionych rekordów:
3
Przejście do opcji zmiany formatu
|
Wyświetlenie wyników w wersji do druku
|
Pobranie pliku do edytora
|
Przesłanie wyników do modułu analizy
|
excel
|
Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu:
0000063344
Tytuł oryginału:
How to reduce size of a signature-based diagnostic dictionary used for testing of connections.
Autorzy:
Tomasz
Garbolino
, Krzysztof*
Gucwa
, Andrzej**
Hławiczka
.
Źródło:
W:
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
, s. 201-204, bibliogr. 13 poz.
Słowa kluczowe polskie:
BIST
;
IBIST
;
słownik diagnostyczny
;
testowanie połączeń
;
rejestr pierścieniowy LFSR
;
podpis
Słowa kluczowe angielskie:
BIST
;
IBIST
;
diagnostic dictionary
;
interconnection testing
;
ring LFSR
;
signature
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
2/3
Nr opisu:
0000063339
Tytuł oryginału:
Non-disjoint decomposition of logic functions in Reed-Muller spectral domain.
Autorzy:
Edward**
Hrynkiewicz
, S.
Kołodziński
.
Źródło:
W:
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
, s. 293-296, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie:
widmo Reeda-Mullera
;
dekompozycja nierozłączna
;
Boole'owski rachunek różniczkowy
Słowa kluczowe angielskie:
Reed-Muller spectrum
;
non-disjoint decomposition
;
Boolean Differential Calculus
;
FPGA
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
3/3
Nr opisu:
0000063340
Tytuł oryginału:
Testing analog electronic circuits using N-terminal network.
Autorzy:
Piotr*
Kyzioł
, Jerzy**
Rutkowski
, Damian
Grzechca
.
Źródło:
W:
Proceedings of the 13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
. [DDECS 2010], Vienna, Austria, April 14-16, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
, s. 177-180, bibliogr. 7 poz.
Słowa kluczowe polskie:
układ analogowy
;
testowanie układu
;
diagnostyka uszkodzeń
;
filtracja
Słowa kluczowe angielskie:
analog circuit
;
circuit testing
;
fault diagnosis
;
filtering
Typ publikacji:
RK
Język publikacji:
ENG
Zasieg terytorialny:
Z
Afiliacja:
praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:
stosując format:
standardowy
pełny z etykietami pól
roboczy
redakcja skr.
redakcja peł.
kontrolny
Nowe wyszukiwanie