Wynik wyszukiwania
Zapytanie: IEEE DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS - IEEE DDECS 20
Liczba odnalezionych rekordów: 2



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/2
Nr opisu: 0000037988
Tytuł oryginału: Distributed design of semiconductor IP based on the workflow concept.
Autorzy: A. Kokoszka, Q.T. Nguyen, K. Siekierska, Adam* Pawlak, D. Obrębski, N. Ługowski.
Źródło: W: IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems - IEEE DDECS 2001. Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Gyor, Hungary, April 18-20, 2001. Eds: J. Hlavicka [et al.]. Gyor : [b.w.], 2001, s. 299-306, bibliogr. 11 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/2
Nr opisu: 0000091812
Tytuł oryginału: Low hardware overhead deterministic logic BIST with zero-aliasing compactor.
Autorzy: O. Novak, Andrzej** Hławiczka, Tomasz Garbolino, Krzysztof* Gucwa, J. Nosek, Z. Pliva.
Źródło: W: IEEE design and diagnostics of electronic circuits and systems - IEEE DDECS 2001. Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Gyor, Hungary, April 18-20, 2001. Eds: J. Hlavicka [et al.]. Gyor : [b.w.], 2001, s. 29-35, bibliogr. 21 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


stosując format:
Nowe wyszukiwanie