Nr opisu: | 0000102908 |
Tytuł oryginału: | Profesor Adam Macura - pro memoria. |
Autorzy: | Lucjan** Karwan, Jan Machniewski. |
¬ródło: | W: XXXVIII Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2015, Gliwice - Ustroń, 20-23.05.2015 = 38th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej], 2015, s. 117-118 |
ISBN: | 978-83-85940-37-1 |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,09 |
Słowa kluczowe polskie: | Macura Adam Karol ; biografia ; Politechnika ¦l±ska |
Słowa kluczowe angielskie: | Macura Adam Karol ; biography ; Silesian University of Technology |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. sygn. Cz.O1 144737 |
Nr opisu: | 0000094229 |
Tytuł oryginału: | Statistical approach to fault diagnosis of electrical circuits. |
Tytuł w wersji polskiej: | Statystyczne podej¶cie do diagnostyki układów elektrycznych |
Autorzy: | Jan Machniewski, Lucjan** Karwan. |
¬ródło: | W: XXXVI Międzynarodowa Konferencja z Podstaw Elektrotechniki i Teorii Obwodów. IC-SPETO 2013, Gliwice - Ustroń, 22-25.05.2013 = 36th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory. Instytut Elektrotechniki i Informatyki Politechniki ¦l±skiej, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informatyczno-Pomiarowych Politechniki Warszawskiej, Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej PTETiS. Oddział Gliwice-Opole. Gliwice : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Przemysłowej. Politechnika ¦l±ska], 2013, s. 95-96, bibliogr. 5 poz. |
ISBN: | 978-83-85940-35-7 |
Uwagi: | Toż na CD-ROM |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,1 |
Słowa kluczowe polskie: | diagnostyka błędów ; parametry statystyczne ; wrażliwo¶ć |
Słowa kluczowe angielskie: | fault diagnosis ; statistical parameters ; sensitivity |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Lokalizacja ¬ródła: | P¦l. |