Nr opisu: | 0000113757 |
Tytuł oryginału: | Influence of nitrogen implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure. |
Autorzy: | K. Król, M. Sochacki, M. Turek, J. Zuk, M. Przewlocki, T. Gutt, P. Borowicz, M. Guziewicz, Jacek** Szuber, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, J. Szmidt. |
¬ródło: | W: Silicon carbide and related materials 2012. Selected, peer reviewed papers from the 9th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ECSCRM 2012), September 2-6, 2012, St. Petersburg, Russian Federation. Ed. by Alexander A. Lebedev, Sergey Yu. Davydov, Pavel A. Ivanov and Mikhail E. Levinshtein. Durnten-Zurich : Trans Tech Publications, 2013, s. 733-736, bibliogr. 6 poz. |
ISBN: | 978-3-03785-624-6978-3-03785-624-6 |
Seria: | (Materials Science Forum ; vol. 740/742 0255-5476) |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,4 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Scopus; Web of Science |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | implantacja jonów ; węglik krzemu ; utlenianie termiczne |
Słowa kluczowe angielskie: | ion implantation ; silicon carbide ; thermal oxidation ; ion implantation damage |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000082758 |
Tytuł oryginału: | Redukcja stanów pułapkowych w strukturze MOS 4H-SiC(0001) pod wpływem implantacji azotu - wpływ profilu implantacji. |
Autorzy: | K. Król, M. Sochacki, W. Strupiński, M. Turek, J. Żuk, P. Borowicz, H. Przewłocki, Monika Kwoka, Piotr* Ko¶cielniak, Jacek** Szuber, J. Szmidt. |
¬ródło: | W: Technologia elektronowa. ELTE '2013. XI Konferencja naukowa, Ryn, 10-20 kwietnia 2013. [Dokument elektroniczny]. Warszawa : Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 2013, dysk optyczny (CD-ROM) s. 155-156, bibliogr. 3 poz. |
ISBN: | 978-83-64102-00-4 |
Organizator: | Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,1 |
Słowa kluczowe polskie: | stan pułapkowy ; implantacja jonów ; struktura MOS |
Słowa kluczowe angielskie: | trapping state ; ion implantation ; MOS structure |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | POL |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Nr opisu: | 0000084277 |
Tytuł oryginału: | Isotopic investigations of sediments from Lake Wigry (NE Poland). |
Tytuł w wersji angielskiej: | Izotpowe badania osadu z Jeziora Wigry (NE Polska) |
Autorzy: | Jacek Pawlyta, Anna** Pazdur, J. Rutkowski, K. Król, Natalia Piotrowska, Grzegorz Poręba, M. Szczepanek, Jarosław Sikorski, S. Hałas. |
¬ródło: | W: Methods of absolute chronology. 8th International conference, Ustroń, Poland, 17-19th, May 2004. Ed. J. Sikorski. Gliwice : Instytut Fizyki Politechniki ¦l±skiej, 2004, s. 123-124 |
Organizator: | Instytut Fizyki. Politechnika ¦l±ska, Fundacja Radiowęglowa, Komitet Badań Czwartorzędu Polskiej Akademii Nauk |
Typ publikacji: | K |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | K |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |