Nr opisu: | 0000103752 |
Tytuł oryginału: | Nonstandard optical methods as a tool for rough surface analysis. |
Autorzy: | J. Jaglarz, Janusz Szewczenko, K. Marszałek, Marcin Basiaga, M. Marszałek. |
¬ródło: | W: 7th International Symposium on Macro- and Supramolecular Architectures and Materials, [Johannesburg, South Africa, 23-27 November 2014]. Ed. by Sabelo Mhlanga, Lucky Sikhwivhilu, Tshepo Malefetse and Richard Harris. Amsterdam : Elsevier, 2015, s. 4046-4052, bibliogr. 24 poz. |
Seria: | (Materials Today: Proceedings ; vol. 2, iss. 7 2214-7853) |
Liczba arkuszy wydawniczych: | 0,3 |
Bazy indeksuj±ce publikację: | Web of Science; Scopus |
DOI: | |
Słowa kluczowe polskie: | powłoka cienka ; dwukierunkowa funkcja rozkładu odbicia |
Słowa kluczowe angielskie: | thin film ; bidirectional reflection distribution function |
Typ publikacji: | RK |
Język publikacji: | ENG |
Zasieg terytorialny: | Z |
Afiliacja: | praca afiliowana w P¦l. |
Dostęp on-line: | |