Wynik wyszukiwania
Zapytanie: GOLONEK TOMASZ
Liczba odnalezionych rekordów: 76



Przej¶cie do opcji zmiany formatu | Wy¶wietlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/76
Nr opisu: 0000138809
Tytuł oryginału: Analog circuits specification driven testing by means of digital stream and non-linear estimation model optimized evolutionarily
Autorzy: Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2020 vol. 68 no. 6, s. 1283-1299, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.385
Punktacja MNiSW: 100.000
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 2300-1917
DOI:
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie sterowane specyfikacj± ; obliczenia ewolucyjne ; regresja wielokrotna
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; specification driven testing ; evolutionary computations ; multiple regression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY-NC-ND open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


2/76
Nr opisu: 0000130749
Tytuł oryginału: Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit
Autorzy: Sebastian Temich, Tomasz Golonek, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektron. Elektrotech. 2019 vol. 25 no. 3, s. 25-33, bibliogr. 28 poz.
Impact Factor: 0.707
Punktacja MNiSW: 40.000
p-ISSN: 1392-1215
e-ISSN: 2029-5731
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pompa zasilaj±ca Dickona ; testowanie funkcjonalne ; powstaj±ce wady ; regresja ewolucyjna ; identyfikacja obwodu CMOS
Słowa kluczowe angielskie: Dickson charge-pump ; functional testing ; incipient faults ; evolutionary regression ; CMOS circuit identification
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: OTHER open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


3/76
Nr opisu: 0000137812
Tytuł oryginału: Ewolucyjna metoda testowania funkcjonalnego analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Prace Komisji Naukowych. z. 41-42. Katowice : Polska Akademia Nauk. Oddział w Katowicach, 2019, s. 273-276
ISBN: 978-83-88657-57-3
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; functional testing
Typ publikacji: U
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4217


4/76
Nr opisu: 0000124318
Tytuł oryginału: Analog circuit specification testing by means of Walsh-Hadamard transform and multiple regression supported by evolutionary computations
Autorzy: Tomasz Golonek, Jan Machniewski.
¬ródło: -Circuits Systems Signal Process. 2018 vol. 37 iss. 7, s. 2736-2771, bibliogr. 35 poz.
Impact Factor: 1.922
Punktacja MNiSW: 25.000
p-ISSN: 0278-081X
e-ISSN: 1531-5878
DOI:
Słowa kluczowe polskie: obwód analogowy ; testowanie sterowane specyfikacj± ; programowanie genetyczne ; regresja wielokrotna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; specification driven testing ; genetic programming ; multiple regression
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-text-version: FINAL_PUBLISHED open-access-licence: CC-BY open-access-release-time: AT_PUBLICATION open-access-article-mode: OPEN_JOURNAL
Dostęp on-line:


5/76
Nr opisu: 0000111647
Tytuł oryginału: Analog circuits specifications testing by means of fast fourier transformation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 13-18, bibliogr. 12 poz.
ISBN: 978-1-5090-2667-8
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie ; model matematyczny ; korelacja ; obwód analogowy ; organizacja ; modelowanie komputerowe ; usterka obwodu
Słowa kluczowe angielskie: testing ; mathematical model ; correlation ; analog circuit ; organization ; computational modelling ; circuit fault
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


6/76
Nr opisu: 0000111706
Tytuł oryginału: Home ultrasound device for heart beats monitoring based on ARM microcontroller.
Autorzy: Tomasz Golonek, Marian Kotas, P. Jantos.
¬ródło: W: 2016 International Conference on Signals and Electronic Systems (ICSES), Kraków, Poland, 5-7 September 2016. Eds.: Witold Machowski and Jacek Stępień. Piscataway : IEEE, 2016, s. 243-246, bibliogr. 9 poz.
ISBN: 978-1-5090-2667-8
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: urz±dzenie do sygnałów mieszanych ; monitorowanie uderzeń serca ; fala ultradĽwiękowa ; filtrowanie sygnału analogowego
Słowa kluczowe angielskie: mixed signal device ; heartbeats monitoring ; ultrasound wave ; analog signal filtering
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


7/76
Nr opisu: 0000100632
Tytuł oryginału: Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2015. Book of abstracts of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. [Dokument elektroniczy].. Ed. by Andrzej Napieralski. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015, s. 137
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology [et al.]
Uwagi: Toż na USB PenDrive
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


8/76
Nr opisu: 0000103043
Tytuł oryginału: Analog testing stimulus optimization for generating by means of sigma-delta modulation.
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2015. Proceedings of 22nd international conference, Toruń, Poland, June 25-27, 2015. Ed. by Andrzej Napieralski. ŁódĽ : Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology, 2015, s. 521-524, bibliogr. 10 poz.
ISBN: 978-83-63578-06-0
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Lodz University of Technology [et al.]
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,2
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie analogowych układów elektronicznych ; optymalizacja ewolucyjna ; modulacja gęsto¶ci impulsów ; modulacja sigma-delta
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuits testing ; evolutionary optimization ; pulse-density modulation ; sigma-delta modulation
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


9/76
Nr opisu: 0000113719
Tytuł oryginału: Evolutionary optimization of Sigma-Delta modulated analog stimulus
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: -Int. J. Microelectron. Comput. Sci. 2015 vol. 6 nr 4, s. 130-135, bibliogr. 12 poz.
Punktacja MNiSW: 7.000
p-ISSN: 2080-8755
e-ISSN: 2353-9607
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuits testing ; evolutionary optimization ; sigma-delta modulation ; pulse-density modulation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


10/76
Nr opisu: 0000095495
Tytuł oryginału: Analog circuits testing by means of walsh-hadamard spectrum of supply current transient state monitoring.
Autorzy: Tomasz Golonek.
¬ródło: W: 6th International Conference on Human System Interactions. HSI, Gdańsk, Sopot, Poland, June 06-08, 2013. Eds.: W. Paja, B. Wilamowski. Piscataway : IEEE, 2013, s. 401-406, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 978-1-4673-5635-0
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksuj±ce publikację: Web of Science; Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: analiza Monte Carlo ; przekształcenia Walsha-Hadamarda ; analogowe wykrywanie usterek ; badanie obwodu
Słowa kluczowe angielskie: Monte Carlo analysis ; Walsh-Hadamard transform ; analog faults detection ; circuit under test
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


11/76
Nr opisu: 0000087785
Tytuł oryginału: Koncepcja budowy przeno¶nego urz±dzenia do lokalizacji i identyfikacji osób w obszarze nadzorowanym
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk, P. Knapik.
¬ródło: -Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 63-66, bibliogr. 8 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: monitoring ; identyfikacja osób ; urz±dzenie automatycznej identyfikacji
Słowa kluczowe angielskie: monitoring ; human identification ; automatic identification device
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


12/76
Nr opisu: 0000093835
Tytuł oryginału: Koncepcja budowy przeno¶nego urz±dzenia do lokalizacji osób w obszarze nadzorowanym.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Łukasz Chruszczyk, P. Knapik.
¬ródło: W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 150 + tekst na CD-ROM
ISBN: 978-83-934712-6-3
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Liczba arkuszy wydawniczych: 6,8
Słowa kluczowe polskie: lokalizacja obiektów ; identyfikacja obiektów ; transmisja bezprzewodowa ; ISM ; pozycjonowanie GPS ; system nadzoru ; system ochrony
Słowa kluczowe angielskie: objects' localization ; object identification ; wireless transmission ; ISM ; GPS positioning ; surveillance system ; protection system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


13/76
Nr opisu: 0000113754
Tytuł oryginału: Memetic method for passive filters design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: Analog circuits. Ed. by Yuping Wu. Rijeka : InTech, 2016, s. 52-68, bibliogr. 16 poz.
ISBN: 978-953-51-0930-3
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,8
DOI:
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: CC-BY
Dostęp on-line:


14/76
Nr opisu: 0000087811
Tytuł oryginału: Protokół komunikacyjny o minimalizowanych opóĽnieniach czasowych
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: -Elektronika 2013 R. 54 nr 9, s. 137-139, bibliogr. 10 poz.
Punktacja MNiSW: 8.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: protokół komunikacyjny RS ; opóĽnienie czasowe ; automatyczna identyfikacja ; monitoring
Słowa kluczowe angielskie: RS communication protocol ; time delay ; automatic identification ; monitoring
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


15/76
Nr opisu: 0000087961
Tytuł oryginału: Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajduj±cych się w obszarze chronionym
Tytuł w wersji angielskiej: Base station for modular system of objects' identification and localization in monitored area
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 10, s. 69-72, bibliogr. 9 poz.
Punktacja MNiSW: 14.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: lokalizacja obiektów ; nadajnik radiowy ; odbiornik GPS ; Ethernet
Słowa kluczowe angielskie: objects' localization ; transmitter ; GPS receiver ; Ethernet
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


16/76
Nr opisu: 0000093825
Tytuł oryginału: Stacja bazowa modularnego systemu identyfikacji i lokalizacji obiektów znajduj±cych się w obszarze chronionym.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk.
¬ródło: W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 121 + tekst na CD-ROM
ISBN: 978-83-934712-6-3
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Liczba arkuszy wydawniczych: 5,5
Słowa kluczowe polskie: lokalizacja obiektów ; nadajnik radiowy ; GPS ; Ethernet
Słowa kluczowe angielskie: objects' localization ; transmitter ; GPS ; Ethernet
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


17/76
Nr opisu: 0000087896
Tytuł oryginału: Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS
Tytuł w wersji angielskiej: Testing basic parameters of selected GPS receivers
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2013 R. 89 nr 10, s. 53-56, bibliogr. 13 poz.
Punktacja MNiSW: 14.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: GPS ; lokalizacja ; dokładno¶ć nawigacji ; lokalizacja w terenie otwartym ; bezprzewodowa identyfikacja obiektu
Słowa kluczowe angielskie: GPS ; location ; navigation accuracy ; open area location ; wireless object identification
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


18/76
Nr opisu: 0000093839
Tytuł oryginału: Testowanie podstawowych parametrów zintegrowanych odbiorników GPS.
Autorzy: Łukasz Chruszczyk, Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Dwunasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłowo, 10-13.06.2013]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2013, s. 69 + tekst na CD-ROM
ISBN: 978-83-934712-6-3
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Liczba arkuszy wydawniczych: 3,1
Słowa kluczowe polskie: GPS ; lokalizacja w terenie otwartym ; dokładno¶ć lokalizacji
Słowa kluczowe angielskie: GPS ; open area location ; localization accuracy
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


19/76
Nr opisu: 0000074650
Tytuł oryginału: Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych
Tytuł w wersji angielskiej: A deterministic analogue electronic circuits specification driven diagnosis method
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek.
¬ródło: -Elektronika 2012 R. 53 nr 10, s. 45-48, bibliogr. 8 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: regresja kwadratowa ; diagnostyka funkcjonalna ; pomiar w dziedzinie czasu
Słowa kluczowe angielskie: biquadratic regression ; specification driven test ; time domain measurement
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


20/76
Nr opisu: 0000082691
Tytuł oryginału: Deterministyczna metoda diagnostyki funkcjonalnej układów analogowych.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 65
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: regresja kwadratowa ; diagnostyka funkcjonalna ; pomiar w dziedzinie czasu
Słowa kluczowe angielskie: biquadratic regression ; specification driven test ; time domain measurement
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


21/76
Nr opisu: 0000084011
Tytuł oryginału: Low-cost single-chip GPS receivers' efficiency for personal identification device.
Autorzy: Damian Grzechca, Łukasz Chruszczyk, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Latest trends in information technology, Vienna, Austria, November 10-12, 2012. Ed. D. Anderson, H-J. Yang, P. Varacha. [B.m.] : WSEAS Press, 2012, s. 90-94, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 978-1-61804-134-0
Seria: (Recent Advances in Computer Engineering Series ; 7 1790-5109)
Słowa kluczowe polskie: GPS ; urz±dzenie lokalizuj±ce
Słowa kluczowe angielskie: GPS ; locating device
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


22/76
Nr opisu: 0000082585
Tytuł oryginału: Memetic method for passive filters design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: Analog circuits. Ed. Y. Wu. Rijeka : InTech, 2013, s. 51-68, bibliogr. 16 poz.
DOI:
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


23/76
Nr opisu: 0000071090
Tytuł oryginału: Stimulus with limited band optimization for analogue circuit testing
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Metrol. Meas. Syst. 2012 vol. 19 nr 1, s. 73-84, bibliogr. 20 poz.
Impact Factor: 0.982
Punktacja MNiSW: 20.000
p-ISSN: 0860-8229
Słowa kluczowe polskie: obliczenia ewolucyjne ; testowanie układu analogowego ; nieszczelno¶ć izolacji
Słowa kluczowe angielskie: evolutionary computations ; analogue circuit testing ; fault isolation
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.4407
Dostęp on-line:


24/76
Nr opisu: 0000082690
Tytuł oryginału: Zastosowanie transformaty Walsha-Hadamarda do diagnostyki analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos.
¬ródło: W: Jedenasta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-14.06.2012]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2012, s. 64
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; transformata Walsha-Hadamarda ; korelacja Pearsona ; regresja liniowa
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog circuit diagnosis ; Walsh-Hadamard transform ; Pearson correlation ; linear regression
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


25/76
Nr opisu: 0000071521
Tytuł oryginału: A functional testing of analogue electronic circuits with the use of specification approximation in the time-domain response features space
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2011 R. 87 nr 10, s. 110-113, bibliogr. 15 poz.
Impact Factor: 0.244
Punktacja MNiSW: 15.000
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analogue electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


26/76
Nr opisu: 0000069623
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features
Tytuł w wersji polskiej: Sterowane specyfikacj± testowanie układów analogowych z wykorzystaniem aproksymacji w dziedzinie cech odpowiedzi
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 65-68, bibliogr. 11 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ analogowy ; triangulacja Delaunaya ; testowanie sterowane specyfikacj±
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; analogue circuit ; Delaunay's triangulation ; specification driven testing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


27/76
Nr opisu: 0000081583
Tytuł oryginału: An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 485-489
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie funkcjonalne ; czas odpowiedzi
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronic circuits ; functional testing ; response time
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


28/76
Nr opisu: 0000082610
Tytuł oryginału: Testowanie funkcjonalne analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem aproksymacji specyfikacji w przestrzeni cech odpowiedzi układu testowanego.
Autorzy: Piotr* Jantos, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 231
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: triangulacja Delaunaya ; testowanie funkcjonalne ; analogowy układ elektroniczny ; sztuczna sieć neuronowa
Słowa kluczowe angielskie: Delaunay's triangulation ; specification driven testing ; analog electronic circuit ; artificial neural network
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


29/76
Nr opisu: 0000069621
Tytuł oryginału: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing
Tytuł w wersji polskiej: Wykorzystanie pary specjalizowanych pobudzeń wielopasmowych do testowania analogowych układów elektronicznych
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
¬ródło: -Elektronika 2011 R. 52 nr 12, s. 47-49, bibliogr. 7 poz.
Punktacja MNiSW: 6.000
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; wykrywanie uszkodzeń ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa amplitudy ; pobudzenie testuj±ce
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; fault detection ; evolutionary computations ; amplitude density ; testing stimuli
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


30/76
Nr opisu: 0000081591
Tytuł oryginału: The use of specialized multi-band stimuli for analog circuits testing.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2011. Proceedings of the 18th international conference, Gliwice, Poland, 16-18 June 2011. [Dokument elektroniczy]. [Ed. by A. Napieralski]. Wrocław : Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ, 2011, dysk optyczny (CD-ROM) s. 516-519, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ [et al.]
Słowa kluczowe polskie: wykrywanie uszkodzeń ; gęsto¶ć widmowa amplitudy ; obliczenia ewolucyjne ; pobudzenie testuj±ce
Słowa kluczowe angielskie: fault detection ; amplitude density ; evolutionary computations ; testing stimuli
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


31/76
Nr opisu: 0000082611
Tytuł oryginału: Zastosowanie pobudzenia pasmowego do testowania analogowych układów elektronicznych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Piotr* Jantos, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziesi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 05-09.06.2011]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2011, s. 232
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; testowanie układu analogowego ; obliczenia ewolucyjne ; gęsto¶ć widmowa ; szereg Fouriera
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analogue circuit testing ; evolutionary computations ; spectral density ; Fourier series
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


32/76
Nr opisu: 0000063360
Tytuł oryginału: Analog IC fault diagnosis by means of supply current monitoring in test points selected evolutionarily.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'10, Gliwice, Poland, September 7-10, 2010. Conference proceedings. Ed. Andrzej Pułka, Tomasz Golonek. Gliwice : [Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki], 2010, s. 397-400, bibliogr. 7 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


33/76
Nr opisu: 0000059491
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 17-20, bibliogr. 6 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


34/76
Nr opisu: 0000082627
Tytuł oryginału: Diagnostyka analogowych układów scalonych metod± monitorowania pr±du zasilania w ewolucyjnie dobranych punktach pomiarowych.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Dziewi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 30.05-02.06.2010]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2010, s. 48
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: genotyp ; populacja ; reprodukcja ; krzyżowanie ; mutacja ; diagnostyka ; analogowy układ scalony
Słowa kluczowe angielskie: genotype ; population ; reproduction ; crossover ; mutation ; diagnosis ; analog integrated circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


35/76
Nr opisu: 0000063214
Tytuł oryginału: PCA application to frequency reduction for fault diagnosis in analog and mixed electronic circuit.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Nano-bio circuit fabrics and systems. IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS, Paris, France, May 30th - June 2nd, 2010. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, s. 1919-1922, bibliogr. 6 poz.
DOI:
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


36/76
Nr opisu: 0000059493
Tytuł oryginału: Synteza impedancji dwójnika pasywnego RLC z wykorzystaniem algorytmu programowania genetycznego
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2010 R. 51 nr 9, s. 24-28, bibliogr. 8 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: dwójnik ; impedancja ; programowanie genetyczne
Słowa kluczowe angielskie: two-terminal network ; impedance ; genetic programming
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


37/76
Nr opisu: 0000056507
Tytuł oryginału: Analog circuit state identification by means of differential evolution.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 509-512
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


38/76
Nr opisu: 0000056508
Tytuł oryginału: Classification of analog circuit states using PSO in the multidimensional space of solutions.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Mixed design of integrated circuits and systems. MIXDES 2009. Proceedings of the 16th international conference, ŁódĽ, Poland, 25-27 June, 2009. [Ed. by A. Napieralski]. ŁódĽ : Politechnika Łódzka. Wydział Elektrotechniki i Elektroniki. Katedra Mikroelektroniki i Technik Informatycznych, 2009, s. 513-518
Organizator: Department of Microelectronics and Computer Science. Technical University of ŁódĽ. Poland [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


39/76
Nr opisu: 0000052095
Tytuł oryginału: Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Prz. Elektrot. 2009 R. 85 nr 11, s. 135-138, bibliogr. 7 poz.
Impact Factor: 0.196
p-ISSN: 0033-2097
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; ewolucja różnicowa ; transmitancja operatorowa
Słowa kluczowe angielskie: analog fault diagnosis ; differential evolution ; transfer function
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.677
Dostęp on-line:


40/76
Nr opisu: 0000051444
Tytuł oryginału: Ewolucyjna metoda identyfikacji stanu liniowego układu analogowego.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Ósma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 07-10 czerwca 2009]. Materiały konferencji. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2009, s. 58
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Uwagi: Pełny tekst na CD-ROM
Typ publikacji: K
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


41/76
Nr opisu: 0000050793
Tytuł oryginału: Diagnosis of specification parametric faults in the FPAA - the RBF neural network approach.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 275-280, bibliogr. 8 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


42/76
Nr opisu: 0000050791
Tytuł oryginału: Global parametric faults in analogue integrated circuits: two approaches to classification with the use of differential evolution.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: New aspects on computing research. Proceedings of the 2nd European Computing Conference (ECC'08), Malta, September 11-13, 2008. Eds: Costin Cepisca, Guennadi A. Kouzaev, Nikos E. Mastorakis. [B.m.] : WSEAS Press, 2008, s. 281-286, bibliogr. 9 poz.
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


43/76
Nr opisu: 0000043102
Tytuł oryginału: Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 122-125, bibliogr. 11 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; testowanie ; globalne uszkodzenie parametryczne ; diagnostyka uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; testing ; global parametric fault ; fault diagnosis
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


44/76
Nr opisu: 0000038044
Tytuł oryginału: Heuristic methods to test frequencies optimization for analogue circuits diagnosis
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -Bull. Pol. Acad. Sci., Tech. Sci. 2008 vol. 56 no. 1, s. 29-38, bibliogr. 20 poz.
p-ISSN: 0239-7528
e-ISSN: 0239-7528
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; analogowy układ scalony ; logika rozmyta ; ekspresja genów ; algorytm genetyczny ; wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; analog integrated circuit ; fuzzy logic ; gene expression ; genetic algorithm ; annealing
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.1277
Dostęp on-line:


45/76
Nr opisu: 0000049055
Tytuł oryginału: Optimization of PWL analog testing excitation by means of genetic algorithm.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 541-544, bibliogr. 15 poz.
Organizator: Department of Electronics. AGH University of Science and Technology [et al.]
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; testowanie układu ; PWL ; algorytm genetyczny ; fenotyp ; genotyp
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; circuit testing ; PWL ; genetic algorithm ; phenotype ; genotype
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


46/76
Nr opisu: 0000051411
Tytuł oryginału: Optymalizacja pobudzenia PWL testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 311-316, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


47/76
Nr opisu: 0000048020
Tytuł oryginału: The influence of global parametric faults on analogue electronic circuits time domain response features.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008. Proceedings. Eds: B. Straube [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2008, s. 299-303, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ scalony ; analiza w dziedzinie czasu ; diagnostyka błędów
Słowa kluczowe angielskie: analog integrated circuit ; time domain analysis ; fault diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


48/76
Nr opisu: 0000049104
Tytuł oryginału: The use of variable load for RF circuit testing.
Autorzy: Piotr* Kyzioł, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'08, Kraków, Poland, September 14-17, 2008. Proceedings. [Kraków] : [Department of Electronics. AGH University of Science and Technology], 2008, s. 557-560, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Department of Electronics. AGH University of Science and Technology [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


49/76
Nr opisu: 0000051412
Tytuł oryginału: Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Siódma Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 02-04 czerwca 2008]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk], 2008, s. 317-323, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


50/76
Nr opisu: 0000043107
Tytuł oryginału: Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: -Elektronika 2008 R. 49 nr 11, s. 158-162, bibliogr. 5 poz.
p-ISSN: 0033-2089
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; FPAA ; testowanie ; diagnostyka ; testowanie funkcjonalne ; symulacja uszkodzeń
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; testing ; diagnostics ; functional testing ; fault simulation
Typ publikacji: A
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411
Dostęp on-line:


51/76
Nr opisu: 0000031632
Tytuł oryginału: Evolutionary system for analog test frequencies selection with fuzzy initialization.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Kraków, Poland, April 11-13, 2007. Eds: P. Girard [et al.]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 353-356, bibliogr. 10 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie analogowe ; niejednoznaczno¶ć zbioru ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; system wbudowany
Słowa kluczowe angielskie: analog testing ; ambiguity set ; evolutionary computations ; fuzzy set ; embedded system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 118456
Dostęp on-line:


52/76
Nr opisu: 0000032119
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 72-75, bibliogr. 12 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; optymalna częstotliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; optimal frequency
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


53/76
Nr opisu: 0000031051
Tytuł oryginału: Ewolucyjny dobór częstotliwo¶ci sygnałów testuj±cych z rozmyt± inicjalizacj± systemu.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 101-106, bibliogr. 12 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; obliczenia ewolucyjne ; zbiór rozmyty ; testowanie układu analogowego ; optymalizacja ewolucyjna
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; evolutionary computation ; fuzzy set ; analogue circuit testing ; evolutionary optimization ; evolutionary computations
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


54/76
Nr opisu: 0000032118
Tytuł oryginału: Ewolucyjny projektant filtrów.
Autorzy: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 58-61, bibliogr. 10 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: analogowy układ elektroniczny ; ewolucyjny system optymalizacji
Słowa kluczowe angielskie: analog electronic circuit ; evolutionary optimization system
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


55/76
Nr opisu: 0000031058
Tytuł oryginału: Ewolucyjny projektant filtrów.
Autorzy: Tomasz Golonek, S. Fedrizzi, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 213-218, bibliogr. 10 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: transmitancja ; filtr analogowy ; genotyp ; fenotyp ; funkcja celu
Słowa kluczowe angielskie: transmittance ; analog filter ; genotype ; phenotype ; objective function
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


56/76
Nr opisu: 0000031891
Tytuł oryginału: Gene expression programming-based method of optimal frequency set determination for purpose of analogue circuits' diagnosis.
Autorzy: Piotr* Jantos, Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Computer recognition systems 2. Eds: M. Kurzynski [et al.]. Berlin : Springer-Verlag, 2007, s. 794-801, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Advances in Soft Computing ; vol. 45 1615-3871)
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


57/76
Nr opisu: 0000039010
Tytuł oryginału: Genetic-algorithm-based method for optimal analog test points selection
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: -IEEE Trans. Circuits Syst., II 2007 vol. 54 iss. 2, s. 117-121, bibliogr. 21 poz.
Impact Factor: 1.104
p-ISSN: 1549-7747
e-ISSN: 1558-3791
Słowa kluczowe polskie: układ antenowy ; analogowy system testowania ; testowalno¶ć ; algorytm genetyczny
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit ; analog system testing ; design for testability ; genetic algorithm
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


58/76
Nr opisu: 0000032122
Tytuł oryginału: Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracuj±cy z częstotliwo¶ci± 13,56 MHz.
Autorzy: Damian Grzechca, P. Tatar, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 96-99, bibliogr. 4 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: RFID ; czytnik kart zbliżeniowych
Słowa kluczowe angielskie: RFID ; proximity card reader
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


59/76
Nr opisu: 0000031028
Tytuł oryginału: Moduł czytnika kart zbliżeniowych pracuj±cy z częstotliwo¶ci± 13.56 MHz.
Autorzy: Damian Grzechca, P. Tatar, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 2. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 481-486, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: RFID ; karta zbliżeniowa ; czytnik kart ; czytnik
Słowa kluczowe angielskie: RFID ; smart card ; card reader ; contactless smart card ; reader device
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119358


60/76
Nr opisu: 0000039873
Tytuł oryginału: Simulated annealing with fuzzy fitness function for test frequencies selection.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2007 IEEE International Fuzzy Systems Conference. FUZZ-IEEE 2007, London, UK, July 23-26, 2007. [Dokument elektroniczny]. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, dysk optyczny (CD-ROM) s. 1-6, bibliogr. 8 poz.
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych ; symulowane wyżarzanie
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; fault diagnosis ; fuzzy set theory ; simulated annealing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


61/76
Nr opisu: 0000039872
Tytuł oryginału: The use of simulated annealing with fuzzy objective function to optimal frequency selection for analog circuit diagnosis.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. ICECS 2007, Marrakech, Morocco, December 11-14, 2007. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007, s. 899-902, bibliogr. 9 poz.
Słowa kluczowe polskie: układ analogowy ; niezawodno¶ć obwodu ; diagnostyka uszkodzeń ; teoria zbiorów rozmytych
Słowa kluczowe angielskie: analogue circuit ; circuit reliability ; fault diagnosis ; fuzzy set theory
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


62/76
Nr opisu: 0000032124
Tytuł oryginału: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: VI Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007 r.]. Warszawa : Wydaw. Czasopism i Ksi±żek Technicznych SIGMA-NOT, 2007, s. 121-124, bibliogr. 5 poz.
Seria: (Elektronika ; R. 48, nr 11 0033-2089)
Słowa kluczowe polskie: wyżarzanie symulowane ; analogowy układ elektroniczny
Słowa kluczowe angielskie: simulated annealing ; analog electronic circuit
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. P.2411


63/76
Nr opisu: 0000031049
Tytuł oryginału: Wykorzystanie metody symulowanego wyżarzania do doboru optymalnego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Szósta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 11-13 czerwca 2007]. Materiały konferencji. T. 1. [Gdańsk] : [Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej], 2007, s. 83-88, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Polskie Towarzystwo Elektrotechniki Teoretycznej i Stosowanej. Oddział Gdańsk, Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: symulowane wyżarzanie ; optymalizacja pobudzenia ; testowanie układu analogowego ; diagnostyka układów analogowych ; algorytm symulowanego wyżarzania
Słowa kluczowe angielskie: simulated annealing ; optimization of excitation ; analogue circuit testing ; simulated annealing algorithm ; analog circuit diagnosis
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 119357


64/76
Nr opisu: 0000031165
Tytuł oryginału: Analog fault AC dictionary creation - the fuzzy set approach.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 5744-5747, bibliogr. 4 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: testowanie układu ; słownik ; sprzęt elektroniczny ; częstotliwo¶ć ; teoria zbiorów rozmytych ; wytwarzanie ; macierz rzadka
Słowa kluczowe angielskie: circuit testing ; dictionary ; electronic equipment ; frequency ; fuzzy set theory ; manufacturing
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


65/76
Nr opisu: 0000031164
Tytuł oryginału: Application of genetic programming to edge detector design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: 2006 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS 2006, Island of Kos, May 21-24, 2006. Proceedings. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2006, s. 4683-4686, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 0-7803-9389-9
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar pr±du ; detektor ; programowanie genetyczne ; przetwarzanie obrazu ; piksel ; układ logiki programowalnej ; proces stochastyczny ; transmitancja operatorowa
Słowa kluczowe angielskie: current measurement ; detector ; genetic programming ; image processing ; pixel ; programmable logic device ; stochastic process ; transfer function
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Dostęp on-line:


66/76
Nr opisu: 0000031163
Tytuł oryginału: Evolutionary method for test frequencies selection based on entropy index an ambiguity sets.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: International Conference on Signals and Electronic Systems. ICSES'06, ŁódĽ, Poland, September 17-20, 2006. Conference proceedings. Institute of Circuit Theory, Metrology and Materials Science of the Technical Unifersity of ŁódĽ, Poland [et al.]. [ŁódĽ] : [Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa Politechniki Łódzkiej], [2006], s. 511-514
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


67/76
Nr opisu: 0000031753
Tytuł oryginału: Ewolucyjny detektor krawędzi.
Autorzy: Tomasz Golonek, Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 105-110, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


68/76
Nr opisu: 0000031746
Tytuł oryginału: Konstrukcja rozmytego słownika uszkodzeń z wykorzystaniem rzadko¶ci macierzy wrażliwo¶ci do testowania w dziedzinie częstotliwo¶ci.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Pi±ta Krajowa Konferencja Elektroniki, [Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2006, s. 87-92, bibliogr. 4 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


69/76
Nr opisu: 0000017970
Tytuł oryginału: Use of the Multi Layer Perceptron to analog fault functional test creation.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Proceedings of IFAC Workshop on Programmable Devices and Embedded Systems. PDeS 2006, Brno, February 14th - 16th, 2006. [Brno] : [Brno University of Technology], [2006], s. 352-355, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Department of Control and Instrumentation. Faculty of Electrical Engineering and Commmunication. Brno University of Technology. Czech Republic [et al.]
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


70/76
Nr opisu: 0000016941
Tytuł oryginału: Creation of functional test - the neural network utilization.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Methods of artificial intelligence. AI-METH 2005. [Proceedings of the Symposium on Methods of Artificial Intelligence AI-METH 2005 and the Workshop on Knowledge Acquisition in Mechanical Engineering, Gliwice, Poland, 16-18 November 2005]. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. [Gliwice] : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 57-58, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 83-921605-3-3
Słowa kluczowe polskie: sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych ; wykrywanie błędów
Słowa kluczowe angielskie: neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis ; fault detection
Typ publikacji: K
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


71/76
Nr opisu: 0000017094
Tytuł oryginału: Creation of functional test - the neural network utilization.
Autorzy: Damian Grzechca, Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Recent developments in artificial intelligence methods. AI-METH 2005. Eds: T. Burczyński, W. Cholewa, W. Moczulski. Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, Polish Association for Computational Mechanics. Gliwice : Centre of Excellence AI-METH. Silesian University of Technology, 2005, s. 95-98, bibliogr. 8 poz.
ISBN: 83-921605-8-483-921605-4-1
Uwagi: pełny tekst na CD-ROM
Słowa kluczowe polskie: sieć neuronowa ; perceptron wielowarstwowy ; analogowe wykrywanie usterek ; diagnostyka układów analogowych
Słowa kluczowe angielskie: neural network ; multilayer perceptron ; analog faults detection ; analog fault diagnosis
Typ publikacji: U
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l.


72/76
Nr opisu: 0000013970
Tytuł oryginału: Zastosowanie ewolucji różnicowej do projektowania odcinkowo-liniowego pobudzenia testuj±cego analogowe układy elektroniczne.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski, Damian Grzechca.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 151-156, bibliogr. 7 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: diagnostyka układów analogowych ; pobudzenie testuj±ce ; ewolucja różnicowa ; populacja ; genotyp
Słowa kluczowe angielskie: analog circuit diagnosis ; testing stimuli ; differential evolution ; population ; genotype
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


73/76
Nr opisu: 0000013973
Tytuł oryginału: Zastosowanie teorii zbiorów rozmytych oraz rzadko¶ci macierzy wrażliwo¶ci do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach analogowych.
Autorzy: Damian Grzechca, Jerzy** Rutkowski, Tomasz Golonek.
¬ródło: W: Trzecia Krajowa Konferencja Elektroniki, [Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004 r.]. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydaw. Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2004, s. 169-174, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Słowa kluczowe polskie: teoria zbiorów rozmytych ; detekcja uszkodzeń ; lokalizacja uszkodzeń ; układ analogowy ; wrażliwo¶ć
Słowa kluczowe angielskie: fuzzy set theory ; fault detection ; fault localization ; analogue circuit ; sensitivity
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. 113299


74/76
Nr opisu: 0000009232
Tytuł oryginału: Application of genetic programming to analog fault decoder design.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: Proceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design. ECCTD'03, Cracow, Poland, September 1st-4th, 2003. Vol. 2. Eds: Z. Galias [i in.]. Kraków : Wydaw. Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica, s. II-113-116, bibliogr. 6 poz.
Organizator: Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. AGH University of Science and Technology
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.


75/76
Nr opisu: 0000009178
Tytuł oryginału: Strategia ewolucyjna doboru optymalnego skokowego pobudzenia testuj±cego.
Autorzy: Tomasz Golonek, Jerzy** Rutkowski.
¬ródło: W: II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKE'2003, Kołobrzeg, 9-12 czerwca 2003. Materiały konferencji. T. 1. Koszalin : Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej, 2003, s. 235-240, bibliogr. 5 poz.
Organizator: Wydział Elektroniki Politechniki Koszalińskiej
Typ publikacji: RK
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.01 115183 + CD


76/76
Nr opisu: 0000013074
Tytuł oryginału: Wykorzystanie ewolucyjnych technik obliczeniowych do projektowania i diagnozowania analogowych układów elektronicznych. Rozprawa doktorska.
Autorzy: Tomasz Golonek.
Miejsce i rok obrony: Gliwice, 2003
Opis fizyczny: , 98 s., bibliogr. 53 poz.
Uczelnia i wydział: Politechnika ¦l±ska. Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki.
Promotor: dr hab. inż. Jerzy** Rutkowski
Słowa kluczowe polskie: elektronika analogowa ; układ elektroniczny ; diagnostyka układów analogowych ; ewolucyjne techniki obliczeniowe ; programowanie genetyczne
Słowa kluczowe angielskie: analogue electronics ; electronic system ; analog circuit diagnosis ; evolutionary computational techniques ; genetic programming
Typ publikacji: D
Język publikacji: POL
Zasieg terytorialny: K
Afiliacja: praca afiliowana w P¦l.
Lokalizacja ¬ródła: P¦l. sygn. Cz.Ab. R-3706
Dostęp BCP¦:


stosuj±c format:
Nowe wyszukiwanie