Wynik wyszukiwania
Zapytanie: D ELIA V
Liczba odnalezionych rekordów: 6



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/6
Nr opisu: 0000138707
Tytuł oryginału: A comprehensive analysis of error sources in electronic fully digital impedance bridges
Autorzy: M. Ortolano, M. Marzano, V. D'Elia, N.T. Mai Tran, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, Krzysztof Musioł, A. Christensen, L. Callegaro, J. Kucera, O. Power.
Źródło: -IEEE Trans. Instrum. Meas. 2021 vol. 70, s. 1-14, bibliogr. 42 poz.
Impact Factor: 3.658
Punktacja MNiSW: 100.000
p-ISSN: 0018-9456
e-ISSN: 1557-9662
DOI:
Słowa kluczowe polskie: układ mostkowy ; kalibracja ; pomiar impedancji ; błąd pomiaru ; niepewność pomiaru
Słowa kluczowe angielskie: bridge circuit ; calibration ; impedance measurement ; measurement error ; measurement uncertainty
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


2/6
Nr opisu: 0000136890
Tytuł oryginału: Error sources in electronic fully-digital impedance bridges.
Autorzy: M. Ortolano, M. Marzano, V. D'Elia, N. T. M. Tran, R. Rybski, J. Kaczmarek, M. Kozioł, Krzysztof Musioł, A. Christensen, A. Pokatilov, L. Callegaro, J. Kucera, O. Power.
Źródło: W: 2020 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM). Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-2, bibliogr. 2 poz.
ISBN: 978-1-7281-5899-0978-1-7281-5898-3
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,3
Bazy indeksujące publikację: IEEE Xplore; Scopus
DOI:
Słowa kluczowe polskie: pomiar impedancji ; układ mostkowy ; błąd pomiaru ; niepewność pomiaru ; kalibracja
Słowa kluczowe angielskie: impedance measurement ; bridge circuit ; measurement uncertainty ; calibration
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


3/6
Nr opisu: 0000100126
Tytuł oryginału: Experiences with a two-terminal-pair digital impedance bridge
Autorzy: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh.
Źródło: -IEEE Trans. Instrum. Meas. 2015 vol. 64 no. 6, s. 1460-1465, bibliogr. 16 poz.
Impact Factor: 1.808
Punktacja MNiSW: 30.000
p-ISSN: 0018-9456
e-ISSN: 1557-9662
DOI:
Słowa kluczowe polskie: admitancja ; układ mostkowy ; impedancja ; wzorzec miary ; metrologia ; pomiar precyzyjny
Słowa kluczowe angielskie: admittance ; bridge circuit ; impedance ; measurement standard ; metrology ; precision measurement
Typ publikacji: A
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.


4/6
Nr opisu: 0000097836
Tytuł oryginału: A precise two-channel digitally synthesized AC voltage source for impedance metrology.
Autorzy: J. Nissila, K. Ojasalo, Marian Kampik, J. Kaasalainen, V. Maisi, M. Casserly, F. Overney, A. Christensen, L. Callegaro, V. D'Elia, N. T. M. Tran, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, J. Penttila, L. Roschier.
Źródło: W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 768-769, bibliogr. 2 poz.
ISBN: 978-1-4799-2480-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,5
Bazy indeksujące publikację: Scopus; INSPEC; IEEE Xplore
DOI:
Słowa kluczowe polskie: mostek impedancyjny ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; źródło sygnału cyfrowego
Słowa kluczowe angielskie: impedance bridge ; digital-to-analog converter ; digital signal source
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


5/6
Nr opisu: 0000097820
Tytuł oryginału: Experiences with a two terminal-pair digital impedance bridge.
Autorzy: L. Callegaro, V. D'Elia, Marian Kampik, D. B. Kim, M. Ortolano, F. Pourdanesh, N. T. M. Tran.
Źródło: W: 2014 Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 24-29 August 2014. Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, s. 222-223, bibliogr. 5 poz.
ISBN: 978-1-4799-2480-6
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,25
Bazy indeksujące publikację: Scopus; INSPEC; IEEE Xplore
DOI:
Słowa kluczowe polskie: metrologia ; impedancja ; admitancja ; pomiar precyzyjny ; układ mostkowy ; wzorzec miary
Słowa kluczowe angielskie: metrology ; impedance ; admittance ; precision measurement ; bridge circuit ; measurement standard
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ENG
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Dostęp on-line:


6/6
Nr opisu: 0000097826
Tytuł oryginału: Ponti digitali automatici per la metrologia di impedenza.
Autorzy: L. Callegaro, V. D'Elia, F. Pourdanesh, M. Ortolano, D. B. Kim, Marian Kampik.
Źródło: W: Atti del XXXI Congresso Nazionale dell'Associazione Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche, Ancona, 11-13 settembre 2014. A cura di Janet L. Dubbini, David Macii. [B.m.] : [b.w.], 2014, s. 285-291, bibliogr. 7 poz.
ISBN: 978-88-97683-66-7978-88-97683-67-4
Liczba arkuszy wydawniczych: 0,25
Typ publikacji: RK
Język publikacji: ITA
Zasieg terytorialny: Z
Afiliacja: praca afiliowana w PŚl.
Informacje o dostępie open-access: open-access-licence: OTHER
Dostęp on-line:


stosując format:
Nowe wyszukiwanie