Wynik wyszukiwania
Zapytanie: POMIARY AUTOMATYKA KONTROLA
Liczba odnalezionych rekordów: 41



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/41
Nr opisu: 0000030819
Algorytmy przetwarzania nieregularnych obrazów 3D.
[Aut.]: Sebastian Budzan.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 157-160, bibliogr. 10 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

algorytm przetwarzania 3D ; filtracja ; decymacja

3D processing algorithm ; filtration ; decimation

2/41
Nr opisu: 0000030958
Analogowo-cyfrowe zrównoważone mostki prądu stałego.
[Aut.]: B. Tync, Tadeusz** Skubis.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 2. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 683-686, bibliogr. 7 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

pomiar rezystancji ; zrównoważony mostek prądu stałego ; bezpośrednia konwersja rezystancji na sygnał cyfrowy

resistance measurement ; DC resistance bridge ; direct A/D resistance conversion

3/41
Nr opisu: 0000030820
Barwność obrazu - globalna miara percepcyjna.
[Aut.]: Mariusz Frąckiewicz, Henryk Palus.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 161-164, bibliogr. 8 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

barwność obrazu ; odcień ; nasycenie

image colourfulness ; hue ; saturation

4/41
Nr opisu: 0000030957
Dwustopniowa procedura kompensacji błędów temperaturowych czujników cisnienia z wykorzystaniem procesora MAX 1452.
[Aut.]: Janusz** Żelezik.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 2. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 613-616, bibliogr. 5 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

czujnik ciśnienia ; kondycjonowanie sygnału ; kompensacja temperaturowa ; kalibracja

pressure sensor ; signal conditioning ; temperature compensation ; calibration

5/41
Nr opisu: 0000030959
IEEE 1451 - interfejs przetwornika inteligentnego.
[Aut.]: Roman Wyżgolik.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 2. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 723-726, bibliogr. 12 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

IEEE 1451 ; czujnik pomiarowy ; przetwornik pomiarowy ; system pomiarowy

IEEE 1451 ; sensor ; measuring transducer ; measurement system

6/41
Nr opisu: 0000030955
Jednoczesna ocena informacji ilościowej i jakościowej podczas wspomagania diagnostyki medycznej.
[Aut.]: Ewa Straszecka.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 2. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 372-375, bibliogr. 8 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

wspomaganie diagnozy medycznej ; zbiór rozmyty ; teoria Dempstera-Shafera

medical diagnosis support ; fuzzy set ; Dempster-Shafer theory

7/41
Nr opisu: 0000030823
Metoda pomiaru modowej dyspersji chromatycznej w światłowodach planarnych.
[Aut.]: Roman Rogoziński.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 273-276, bibliogr. 17 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

światłowód planarny ; efektywny współczynnik załamania modów

planar waveguide ; effective refractive index of modes

8/41
Nr opisu: 0000030814
Model błędu pojedynczego wyniku pomiaru jako podstawa składania niepewności typu A i B.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 21-24, bibliogr. 8 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

błąd pomiaru ; model pojedynczego wyniku pomiaru ; niepewność typu A ; niepewność typu B

measurement error ; model of single measurement result ; uncertainty of type A ; uncertainty of type B

9/41
Nr opisu: 0000030956
Modelowanie zakłóceń impulsowych w przetwarzaniu sygnałów biomedycznych.
[Aut.]: Tomasz Pander.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 2. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 429-432, bibliogr. 12 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

zakłócenia impulsowe ; filtr miriadowy ; filtr medianowy ; rozkład alfa-stabilny

impulse noise ; myriad filter ; median filter ; alfa-stable distribution

10/41
Nr opisu: 0000030817
Modulator szerokości impulsu o dużej rozdzielczości nastawy współczynnika wypełnienia.
[Aut.]: Janusz Tokarski, Marian Kampik, Grzegorz* Popek.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 35-37, bibliogr. 4 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

modulacja PWM ; PWM ; przetwornik cyfrowo-analogowy ; kalibrator

pulse-width modulation ; PWM ; digital-to-analog converter ; calibrator

11/41
Nr opisu: 0000030818
Poprawa wiarygodności wyników analizy obrazów poprzez zastosowanie metod segmentacji odpornych na zmianę orientacji obrazu.
[Aut.]: Artur Bal.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 153-156, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

analiza obrazu ; segmentacja obrazu ; obszarowa metoda segmentacji ; segmentacja niezależna od orientacji

image analysis ; image segmentation ; region based segmentation ; scan direction independent segmentation

12/41
Nr opisu: 0000030824
Zastosowanie sprzęgacza siatkowego do precyzyjnych pomiarów współczynnika załamania.
[Aut.]: Paweł Karasiński.
W: Metrologia - narzędzie poznania i droga rozwoju. Kongres Metrologii, Kraków, 9-13 września 2007. T. 1. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2007, s. 277-280, bibliogr. 13 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; vol. 53, nr 9 bis 0032-4140)

współczynnik załamania ; sprzęgacz siatkowy ; zol-żel

refractive index ; grating coupler ; sol-gel

13/41
Nr opisu: 0000030165
Analiza wpływu szumu na dokładność wyznaczenia częstotliowści za pomocą metody Interpolowanej DFT.
[Aut.]: Wojciech Oliwa.
W: XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów. MKM'06, Warszawa, 4-6 września 2006 r.. Pod red. R. Raka. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2006, s. 123-125, bibliogr. 11 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 9 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

metoda Interpolowana DFT ; częstotliwość ; szum

Interpolated DFT ; frequency ; noise

14/41
Nr opisu: 0000030164
Detekcja powierzchni parametrycznych z wykorzystaniem transformaty Hough'a 3D.
[Aut.]: Sebastian Budzan.
W: XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów. MKM'06, Warszawa, 4-6 września 2006 r.. Pod red. R. Raka. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2006, s. 97-100, bibliogr. 18 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 9 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

transformata Hougha ; detekcja powierzchni ; 3D

Hough transform ; surface detection ; 3D

15/41
Nr opisu: 0000030163
Generacyjny przetwornik składowych impedancji czujnika pojemnościowego.
[Aut.]: Andrzej Malcher.
W: XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów. MKM'06, Warszawa, 4-6 września 2006 r.. Pod red. R. Raka. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2006, s. 90-93, bibliogr. 4 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 9 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

czujnik pojemnościowy ; impedancja ; składowa pojemnościowa

capacitive sensor ; impedance ; capacitive component

16/41
Nr opisu: 0000030166
Stanowisko dydaktyczno-badawcze z iskrobezpieczną magistralą obiektową oraz górniczymi urządzeniami pomiarowymi.
[Aut.]: Tomasz Grychowski.
W: XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów. MKM'06, Warszawa, 4-6 września 2006 r.. Pod red. R. Raka. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2006, s. 140-142, bibliogr. 8 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 9 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

stanowisko dydaktyczne ; stanowisko badawcze ; urządzenie pomiarowe ; system pomiarowy

didactic stand ; test stand ; measuring device ; measurement system

17/41
Nr opisu: 0000030228
Strategie syntezy przeznaczone dla układów CPLD.
[Aut.]: Dariusz Kania, Józef Kulisz, Robert Czerwiński.
W: Reprogramowalne układy cyfrowe. RUC'2006. IX Konferencja naukowa, Szczecin, 18-19 maja 2006. Warszawa : Agenda Wydaw. PAK, 2006, s. 103-105 (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

18/41
Nr opisu: 0000030162
Wspomaganie oceny komfortu cieplnego z wykorzystaniem wnioskowania rozmytego.
[Aut.]: Tomasz Grychowski.
W: XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów. MKM'06, Warszawa, 4-6 września 2006 r.. Pod red. R. Raka. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2006, s. 38-40, bibliogr 11 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 9 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

komfort cieplny ; wnioskowanie rozmyte ; atmosfera kopalniana ; monitoring powietrza

thermal comfort ; fuzzy inference ; mine air ; air monitoring

19/41
Nr opisu: 0000030230
Wykorzystanie dekompozycji grafów w projektowaniu układów sekwencyjnych.
[Aut.]: Jerzy** Rutkowski, Dariusz Kania.
W: Reprogramowalne układy cyfrowe. RUC'2006. IX Konferencja naukowa, Szczecin, 18-19 maja 2006. Warszawa : Agenda Wydaw. PAK, 2006, s. 118-120 (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

20/41
Nr opisu: 0000029795
Wykorzystanie języka XML do opisu właściwości komponentów.
[Aut.]: Edward** Hrynkiewicz, Dariusz* Stachańczyk.
W: Reprogramowalne układy cyfrowe. RUC'2006. IX Konferencja naukowa, Szczecin, 18-19 maja 2006. Warszawa : Agenda Wydaw. PAK, 2006, s. 43-45 (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7 bis wyd. spec. dod. 0032-4140)

21/41
Nr opisu: 0000021224
Dekompozycja modeli diagnostycznych.
[Aut.]: Wojciech Cholewa.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 19-21, bibliogr. 10 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

22/41
Nr opisu: 0000021234
Grupowanie trajektorii ruchu środka czopa.
[Aut.]: Wojciech Cholewa, Grzegorz* Urbanek, Jacek* Wojtusik.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 231-233, bibliogr. 2 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

23/41
Nr opisu: 0000021209
Komputerowe wspomaganie diagnostyki obrazowej w medycynie.
[Aut.]: Ewa Piętka.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 16-18, bibliogr. 5 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

24/41
Nr opisu: 0000021236
Koncepcja diagnozowania maszyn na podstawie analizy obrazów termograficznych.
[Aut.]: Marek Fidali.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 309-310, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

25/41
Nr opisu: 0000021231
Koncepcja metodyki tworzenia heurystycznych modeli obiektów przemysłowych.
[Aut.]: Piotr Przystałka, Wojciech Moczulski.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 136-138, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

26/41
Nr opisu: 0000021238
Koncepcja systemu do diagnostyki złożonego procesu przemysłowego.
[Aut.]: Piotr* Tomasik.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 327-329, bibliogr. 9 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

27/41
Nr opisu: 0000021235
Koncepcja zastosowania zintegrowanego systemu pomiarowego.
[Aut.]: Marek* Adamczyk.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 286-287, bibliogr. 4 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

28/41
Nr opisu: 0000021233
Metoda pozyskiwania wiedzy do prowadzenia złożonego procesu technologicznego.
[Aut.]: R. Szulim, Wojciech Moczulski.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 145-147, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

29/41
Nr opisu: 0000021228
Metodyka heurystycznego modelowania obiektów i procesów dynamicznych w diagnostyce i sterowaniu.
[Aut.]: Wojciech Moczulski.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 39-41, bibliogr. 14 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

30/41
Nr opisu: 0000021232
Projekcja i selekcja atrybutów w identyfikacji modeli dynamicznych metodami odkryć wiedzy w bazach danych.
[Aut.]: Dominik Wachla.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 142-144, bibliogr. 12 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

31/41
Nr opisu: 0000021226
Przykład zastosowania analizy wrażliwości w optymalizacji zbioru cech sygnałów.
[Aut.]: Damian* Sławik.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 29-31, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

32/41
Nr opisu: 0000021239
Rozproszony system wspomagający wnioskowanie z dynamicznym grupowaniem jego elementów.
[Aut.]: Sebastian Rzydzik.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 330-332, bibliogr. 10 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

33/41
Nr opisu: 0000021229
Wyznaczanie obrazów cech sygnałów diagnostycznych.
[Aut.]: Wojciech Cholewa, Grzegorz* Urbanek.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 49-50, bibliogr. 3 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

34/41
Nr opisu: 0000021230
Zastosowanie algorytmów mrówkowych do selekcji informacji diagnostycznej.
[Aut.]: Krzysztof Ciupke.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 134-135, bibliogr. 10 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

35/41
Nr opisu: 0000021227
Zastosowanie sekwencji zdarzeń do monitorowania procesów.
[Aut.]: Adam Cholewa.
W: Diagnostyka procesów przemysłowych. VII Krajowa konferencja naukowo-techniczna, Rajgród, 12-14 września 2005. Pod red. J. Kościelnego. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2005, s. 35-38, bibliogr. 21 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; wyd. spec. 9 bis 0032-4140)

36/41
Nr opisu: 0000004068
Błędy własne algorytmu przetwarzania czasowego ciągu danych pomiarowych.
[Aut.]: Tadeusz* Topór-Kamiński.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 105-108, bibliogr. 5 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

37/41
Nr opisu: 0000004067
Metoda cyfrowego odtwarzania wzorcowego napięcia quasi-sinusoidalnego.
[Aut.]: Arkadiusz* Kluger, Tadeusz** Skubis.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 49-52, bibliogr. 4 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

38/41
Nr opisu: 0000004065
Model błędów sieci neuronowej jako ogniwa przetwarzania próbkującego.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec, Jerzy Roj.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 33-36, bibliogr. 3 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

39/41
Nr opisu: 0000004063
Parametryzacja sygnału stochastycznego za pomocą siatek dwuwymiarowych.
[Aut.]: J. Dulas, Tadeusz** Skubis.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 21-23, bibliogr. 7 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

40/41
Nr opisu: 0000004062
Wyznaczenie niepewności danych w systemie pomiarowym z wykorzystaniem redukcyjnej arytmetyki interwałowej.
[Aut.]: Jerzy** Jakubiec.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 5-12, bibliogr. 6 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

41/41
Nr opisu: 0000004066
Źródło wzorcowego napięcia stałego wykorzystujące zasadę cyfrowej bezpośredniej syntezy sygnału.
[Aut.]: Ł. Jedliński, Marian Kampik, Janusz Tokarski.
W: Systemy pomiarowe w badaniach naukowych i w przemyśle. SP'02. IV Konferencja naukowa. Warszawa : Agenda Wydaw. SIMP, 2002, s. 41-44, bibliogr. 3 poz. (Pomiary Automatyka Kontrola ; nr 7/8 0032-4140)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie