Wynik wyszukiwania
Zapytanie: INSTITUTE OF PHYSICS CONFERENCE SERIES
Liczba odnalezionych rekordów: 3



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/3
Nr opisu: 0000018841
Contribution of interface states and bulk traps to GaAs MIS admittance.
[Aut.]: Stanisław** Kochowski, B. Paszkiewicz, R. Paszkiewicz.
W: Compound semiconductors 2002. Proceedings of the Twenty-ninth International Symposium on Compound Semiconductors, Lusanne, Switzerland, 7-10 October 2002. Eds: Marc Ilegems, Gunter Weimann, Joachim Wagner. Bristol : Institute of Physics Publishing, 2003, s. 37-40 (Institute of Physics Conference Series ; no. 174)

2/3
Nr opisu: 0000010717
Ni-solute redistribution for the delta/gamma competitive growth of the directionally solidifying Fe-Ni alloys.
[Aut.]: T. Okane, Andrzej** Dytkowicz, J. Kloch, T. Umeda, W. Wolczyński.
W: Microbeam analysis 2000. Proceedings of the Second Conference of the International Union of Microbeam Analysis Societes, Kailua-Kona, Hawaii, 9-14 July 2000. Ed. David B. Wiliams, Ryuichi Shimuzu. Bristol : Institute of Physics Publishing, 2000, s. 447-448 (Institute of Physics Conference Series ; no. 165)

3/3
Nr opisu: 0000045894
The spatial resolution of X-ray microanalysis experimental aspects.
[Aut.]: Michał** Żelechower.
W: X-ray optics and microanalysis 1992. Proceedings of the Thirteenth International Congress, Manchester, UK, 31 August - 4 September 1992. Ed. P. B. Kenway [i in.]. Bristol : Institute of Physics Publishing, 1993, s. 157-160, bibliogr. 5 poz. (Institute of Physics Conference Series ; nr 130)

stosując format:
Nowe wyszukiwanie