Wynik wyszukiwania
Zapytanie: VACUUM
Liczba odnalezionych rekordów: 19



Przejście do opcji zmiany formatu | Wyświetlenie wyników w wersji do druku | Pobranie pliku do edytora | Przesłanie wyników do modułu analizy | excel | Nowe wyszukiwanie
1/19
Nr opisu: 0000124848   
Influence of low temperature plasma oxynitriding on the mechanical behavior of NiTi shape memory alloys.
[Aut.]: J. Witkowska, J. Rudnicki, W. Piekoszewski, G. Raugh, Jerzy Morgiel, T. Wierzchoń.
-Vacuum 2018 vol. 156, s. 135-139, bibliogr. 25 poz.. Impact Factor 2.067. Punktacja MNiSW 25.000

stop NiTi ; leczenie wyładowaniem jarzeniowym ; struktura ; właściwości mechaniczne ; zastosowanie przemysłowe

NiTi alloy ; glow discharge treatment ; structure ; mechanical properties ; industrial application

2/19
Nr opisu: 0000123626
Investigation of the structure and properties of PVD coatings and ALD + PVD hybrid coatings deposited on sialon tool ceramics.
[Aut.]: Marcin Staszuk, Daniel Pakuła, Grzegorz Chladek, Mirosława Pawlyta, M. Pancielejko, P. Czaja.
-Vacuum 2018 vol. 154, s. 272-284, bibliogr. 24 poz.. Impact Factor 2.067. Punktacja MNiSW 25.000

ALD ; powłoka hybrydowa ; PVD ; TEM ; tribologia

ALD ; hybrid coating ; PVD ; TEM ; tribology

3/19
Nr opisu: 0000120694   
Powerful doping of chirality-sorted carbon nanotube films.
[Aut.]: Dawid Janas.
-Vacuum 2018 vol. 149, s. 48-52, bibliogr. 30 poz.. Impact Factor 2.067. Punktacja MNiSW 25.000

nanorurki węglowe ; domieszkowanie ; przewodnictwo elektryczne

carbon nanotubes ; doping ; electrical conductivity

4/19
Nr opisu: 0000122875   
Structure and properties of coating obtained by Chemical Vapour Deposition with the laser microstructuring.
[Aut.]: Daniel Pakuła, Marcin Staszuk, Małgorzata Dziekońska, P. Kozmin, A. Cermak.
-Vacuum 2018 vol. 153, s. 184-190, bibliogr. 21 poz.. Impact Factor 2.067. Punktacja MNiSW 25.000

CVD ; sialonowa ceramika narzędziowa ; teksturowanie laserowe ; LIPSS

CVD ; sialon tool ceramics ; laser texturing ; LIPSS

5/19
Nr opisu: 0000107391   
Structure and properties of Al2O3 thin films deposited by ALD process.
[Aut.]: Paulina Boryło, Krzysztof Lukaszkowicz, Marek Szindler, J. Kubacki, K. Balin, Marcin Basiaga, Janusz Szewczenko.
-Vacuum 2016 vol. 131, s. 319-326, bibliogr. 26 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 25.000

powłoka cienka ; ALD ; adhezja ; korozja ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

thin film ; ALD ; adhesion ; corrosion ; XPS ; AES ; SEM ; ToF-SIMS

6/19
Nr opisu: 0000083484   
Characterization and properties of PVD coatings applied to extrusion dies.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz, Leszek** Dobrzański, Grzegorz Kokot, P. Ostachowski.
-Vacuum 2012 vol. 86 iss. 12, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 20.000

powłoka PVD ; własności mechaniczne ; symulacja komputerowa ; wyciskanie ; kula-tarcza obrotowa

PVD coating ; mechanical properties ; computer simulation ; extrusion ; ball-on-disc

7/19
Nr opisu: 0000088989   
Structure and mechanical properties of PVD coatings deposited onto the X40CrMoV5-1 hot work tool steel substrate.
[Aut.]: Krzysztof Lukaszkowicz, A. Czyżniewski, Waldemar Kwaśny, M. Pancielejko.
-Vacuum 2012 vol. 86 iss. 8, s. 1186-1194, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 1.530. Punktacja MNiSW 20.000

powłoka PVD ; mikrostruktura ; próba zarysowania ; XRD

PVD coating ; microstructure ; scratch test ; XRD

8/19
Nr opisu: 0000047697   
Effect of thermal treatments on the structure of MoNxOy thin films.
[Aut.]: L. Cunha, L. Rebouta, F. Vaz, Marcin Staszuk, S. Malara, J. Barbosa, P. Carvalho, P. Alves, E. Le Bourhis, P. Goudeau, J. Riviere.
-Vacuum 2008 vol. 82 iss. 12, s. 1428-1432, bibliogr. 31 poz.. Impact Factor 1.114

struktura ; wyżarzanie

structure ; annealing

9/19
Nr opisu: 0000050150   
Response to oxygen and chemical properties of SnO2 thin-film gas sensors.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Weronika Izydorczyk, Jacek Izydorczyk, Andrzej** Klimasek, Wiesław Jakubik, J. Żywicki.
-Vacuum 2008 vol. 82 iss. 10, s. 966-970, bibliogr. 16 poz.

dwutlenek cyny ; RGTO ; adsorpcja tlenu ; spektroskopia elektronów Augera ; czujnik gazowy

tin dioxide ; RGTO technology ; oxygen adsorption ; Auger electron spectroscopy ; gas sensor

10/19
Nr opisu: 0000025543   
XPS study of surface chemistry of epiready GaAs(1 0 0) surface after (NH4)2Sx passivation.
[Aut.]: Sebastian* Arabasz, E. Bergignat, G. Hollinger, Jacek Szuber.
-Vacuum 2006 vol. 80 iss. 8, s. 888-893, bibliogr. 36 poz.. Impact Factor 0.834

GaAs ; siarkowanie ; pasywacja ; XPS ; półprzewodnik

GaAs ; sulfidation ; passivation ; XPS ; semiconductor

11/19
Nr opisu: 0000007353   
Rigorous analysis of photoluminescence efficiency for characterisation of electronic properties of InP(100) surfaces.
[Aut.]: Bogusława Adamowicz, Marcin** Miczek, Sebastian* Arabasz, H. Hasegawa.
-Vacuum 2002 vol. 67 iss. 1, s. 3-10, bibliogr. 38 poz.. Impact Factor 0.723

12/19
Nr opisu: 0000007356   
Surface and bulk values of real part of refractive index of GaSe.
[Aut.]: Mirosława Kępińska, R. Murri, Marian** Nowak.
-Vacuum 2002 vol. 67 iss. 1, s. 143-147. Impact Factor 0.723

13/19
Nr opisu: 0000007354   
XPS study of the surface Fermi level of (NH4)(2)S-x-passivated GaAs(100) surface.
[Aut.]: Jacek Szuber, Piotr* Kościelniak, [i in.].
-Vacuum 2002 vol. 67 iss. 1, s. 53-58. Impact Factor 0.723

14/19
Nr opisu: 0000019560   
A new type of electron energy analyzer based on three coaxial cylindrical electrodes for Auger electron spectroscopy.
[Aut.]: Piotr* Kościelniak, S. Koszczyszyn, Jacek Szuber.
-Vacuum 2001 vol. 63 iss. 1/2, s. 361-366, bibliogr. 15 poz.. Impact Factor 0.541

15/19
Nr opisu: 0000037775   
Computer analysis of photoluminescence efficienty at InP surface with U-shaped surface state continuum.
[Aut.]: Marcin** Miczek, Bogusława Adamowicz, Jacek Szuber, H. Hasegawa.
-Vacuum 2001 vol. 63 iss. 1/2, s. 223-227, bibliogr. 19 poz.. Impact Factor 0.541

16/19
Nr opisu: 0000004955   
Application of high-frequency contactless method of PEM investigations to examine near-surface layer of Si and GaAs.
[Aut.]: Marian** Nowak, Barbara Solecka.
-Vacuum 2000 vol. 57 iss. 2, s. 237-242, bibliogr. 7 poz.. Impact Factor 0.520

17/19
Nr opisu: 0000002936   
New procedure determination for the interface Fermi level position for automatic hydrogen cleaned GaAs(100) surface using photoemission.
[Aut.]: Jacek Szuber.
-Vacuum 2000 vol. 57 iss. 2, s. 209-217, bibliogr. 34 poz.. Impact Factor 0.520

18/19
Nr opisu: 0000000078   
Some effects of (NH4)2Sx treatment of n-GaAs surface on electrical characteristics of metal-SiO2-GaAs structures.
[Aut.]: Stanisław** Kochowski, B. Paszkiewicz, R. Paszkiewicz.
-Vacuum 2000 vol. 57 iss. 2, s. 157-162, bibliogr. 22 poz.. Impact Factor 0.520

19/19
Nr opisu: 0000000079   
Electronic properties of the iron phthalocyanine thin films UHV annealed and exposed to oxygen.
[Aut.]: Jacek Szuber, B. Szczepaniak, Stanisław** Kochowski, Aleksander* Opilski.
-Vacuum 1995 vol. 46 iss. 5/6, s. 547-549, bibliogr. 21 poz.

stosując format:
Nowe wyszukiwanie